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[发明专利]砷化镓单片微波功放的电应力极限评估方法-CN201210026740.3有效
发明人：董宇亮;付琬月;姜宝钧;徐军;王茂琰;毋俊玱;何俊伟 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2012-02-08 - 公布日： 2012-07-25 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：一种砷化镓单片微波功放的电应力极限评估方法，包括如下步骤：对砷化镓单片微波功放进行分析，获得对器件可靠性影响因子较大的电参数；根据极限评估电应力试验参数设计方法考察器件的电应力极限能力，按照评判标准给出判据。本发明的有益效果是：采用电压步进方式进行极限评估实验，得到的器件极限能力更逼近真实值。分析实验数据，可以得到器件的可靠性裕度，为器件的正确使用提供依据。可考察元器件在规定的最佳工作条件下的表现，以验证器件真实性能。可以暴露元器件有效失效模式，以便改进器件设计。
砷化镓单片微波功放应力极限评估方法

[发明专利]用于电子元器件的温度应力极限评估方法-CN201210026786.5有效
发明人：董宇亮;毋俊玱;张洪伟;徐军;姜宝钧;张小川;付琬月 -专利权人：电子科技大学;中国空间技术研究院
申请日： 2012-02-08 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：一种用于电子元器件的温度应力极限评估方法，包括如下步骤：对样本进行筛选；对样本进行初始电测试，各项指标参数应当满足详细规范；对样本分为两组：控制组和测试组；控制组用于与测试组进行对比。当对测试组的样品进行电测试的时候，控制组的样品也需要进行电测试。对测试组样品施加步进温度应力，进行温度应力极限评估试验；数据分析并得出结论。本发明的有益效果是：采用温度步进方式进行极限评估试验，得到的器件极限能力更逼近真实值。可以暴露元器件有效失效模式，以便改进器件设计。给出了方法探测元器件承受应力的限度和范围，满足更高的宇航元器件可靠性要求。掌握元器件实际能力与规范描述之间的裕度，保证了选用元器件的高可靠性。
用于电子元器件温度应力极限评估方法