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- [发明专利]光电传感器-CN201810263081.2有效
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大津信一郎
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株式会社基恩士
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2018-03-28
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2021-11-02
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G01D5/26
- 光电传感器包括：投光用连接部，其与光学连结到发光元件的投光用光传播构件连接；受光用连接部，其与光学连结到受光元件的受光用光传播构件连接；信号生成单元，其被构造成比较由受光元件生成的受光信号和阈值并生成指示比较结果的检测信号；第一指示用发光元件，其光学连结到受光用连接部；安装基板，在该安装基板上，第一指示用发光元件和受光元件均定位在受光用连接部中，或者第一指示用发光元件和受光元件中的一者经由另一者定位。
- 光电传感器
- [发明专利]光学扫描高度测量装置-CN201711459225.3有效
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里吉宽之;杉野公彦;本间达朗
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株式会社基恩士
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2017-12-28
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2021-10-26
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G01B11/02
- 提供了一种能够有效地对测量对象的期望部分的形状进行测量的光学扫描高度测量装置。接收测量对象(S)的图像上的测量点的指派。从发光部分(231)发射的光通过偏转部分偏转并且辐射在测量对象(S)上。偏转部分受到控制以将光辐射至测量对象(S)的对应于测量点的部分上。检测偏转部分的偏转方向或者通过偏转部分偏转的光的辐射位置。通过光接收部分接收来自测量对象(S)的光，并且输出指示接收到的光量的光接收信号。基于偏转部分的偏转方向或者通过偏转部分偏转的光的辐射位置以及通过光接收部分输出的光接收信号来计算测量对象(S)的对应于测量点的所述部分的高度。
- 光学扫描高度测量装置
- [发明专利]共焦位移计-CN202110825411.4在审
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久我翔马
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株式会社基恩士
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2016-12-21
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2021-10-22
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G01B11/02
- 本发明提供一种能够减小测量误差的共焦位移计。其中，由光投射部(120)发射具有多个波长的光。透镜单元(220)用于使由光投射部(120)发射的光产生沿着光轴方向的色像差。此外，由透镜单元(220)使具有色像差的光会聚，并利用该光照射测量对象(S)。经由透镜单元(220)照射测量对象(S)所利用的光中的在聚焦的同时被测量对象(S)的表面反射的波长的光穿过多个针孔。利用运算处理部(150)，基于与穿过多个针孔的多个光的各波长的平均强度相对应的平均信号的各波长的信号强度，来计算测量对象(S)的位移。
- 位移
- [发明专利]标记系统、诊断支持设备、诊断支持方法和存储介质-CN202110282061.1在审
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岩渕修
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株式会社基恩士
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2021-03-16
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2021-09-17
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G06T7/00
- 涉及一种标记系统、诊断支持设备、诊断支持方法和存储介质。通过提取指示激光打印的合格/不合格的拍摄图像并使用拍摄图像识别打印缺陷的原因，提高了与打印缺陷的诊断相关的可用性。该标记系统包括：全体照相机，其生成拍摄图像；合格/不合格判断部，其使用拍摄图像判断打印的合格/不合格；历史存储部，其将包括NG判断结果的多个判断结果、拍摄图像和激光标记器的状态信息彼此相关联地存储；显示部，其显示用于显示多个判断结果的第一显示区域和用于显示拍摄图像的第二显示区域至少之一；接收部，其选择NG判断结果或拍摄图像；控制部，其在显示部显示多个类型的状态信息中与经由接收部选择的NG判断结果或拍摄图像相关联的状态信息。
- 标记系统诊断支持设备方法存储介质
- [发明专利]多波长共焦测量装置-CN201910521095.4有效
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久我翔马
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株式会社基恩士
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2015-06-23
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2021-08-10
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G01B11/02
- [技术问题]提供一种能够使用诸如白光等多波长光高精度地测量测量对象的诸如厚度、距离、位移或颜色等特征值的多波长共焦测量装置。[技术方案]装置设置有：激光光源；荧光体，其由激光激发；第一光学聚光器，其构造为朝向荧光体会聚激光；第二光学聚光器，构造为朝向第一位置会聚多波长光；光纤单元，其限定共同光路、经由分光器与共同光路耦合的第一光路以及经由分光器与共同光路耦合的第二光路；头部光学聚光器，其构造为朝向测量对象会聚多波长光；光学头，其具有第一透镜；光接收元件；测量控制器，其基于表示与来自光接收元件的波长对应的光接收量的信号测量测量对象的厚度或位移。
- 波长测量装置
- [发明专利]可编程逻辑控制器和分析器-CN202110127485.0在审
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宫坂哲也
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株式会社基恩士
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2021-01-29
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2021-08-03
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G05B19/05
- 一种可编程逻辑控制器和分析器。本发明的目的通过分析和分类诸如关于各装置的数据的周期性和连续性等的特征来有效地识别异常装置。可编程逻辑控制器包括重复执行用户程序的执行引擎和具有作为用于存储执行引擎根据用户程序访问的数据的存储区域的多个装置的装置存储器。可编程逻辑控制器针对用户程序的各扫描周期根据预定收集设置收集多个装置中的作为收集对象的装置保持的数据，基于收集的各装置的时间序列数据的特征将各装置分类为多个类型其中之一，并且针对各装置根据收集部收集的装置的时间序列数据和分类部分类的装置的类型，确定在将装置识别为异常装置中使用的检测算法。可编程逻辑控制器通过使用确定部根据分类部分类的装置的类型针对装置确定的参数、分析收集部收集的装置的时间序列数据，来识别异常装置。
- 可编程逻辑控制器分析器
- [发明专利]共焦位移计-CN201680076178.1有效
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久我翔马
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株式会社基恩士
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2016-12-21
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2021-07-23
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G01B11/00
- [问题]提供一种能够减小测量误差的共焦位移计。[解决方案]由光投射部(120)发射具有多个波长的光。透镜单元(220)用于使由光投射部(120)发射的光产生沿着光轴方向的色像差。此外，由透镜单元(220)使具有色像差的光会聚，并利用该光照射测量对象(S)。经由透镜单元(220)照射测量对象(S)所利用的光中的在聚焦的同时被测量对象(S)的表面反射的波长的光穿过多个针孔。利用运算处理部(150)，基于与穿过多个针孔的多个光的各波长的平均强度相对应的平均信号的各波长的信号强度，来计算测量对象(S)的位移。
- 位移
- [发明专利]三维测量装置-CN201711432606.2有效
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本间达朗;里吉宽之
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株式会社基恩士
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2017-12-26
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2021-07-02
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G01B11/00
- 提供一种能够在短时间内容易地对测量对象的期望部分的三维形状进行测量的三维测量装置。接收到用户对高度测量点和尺寸测量部分的指派。通过成像部分(220)获取测量对象(S)的图像。从发光部分(231)发射的光通过偏转部分(270)偏转，并且辐射至测量对象(S)上。偏转部分(270)被控制为将光辐射至测量对象(S)的对应于高度测量点的部分上。通过光接收部分接收来自测量对象(S)的光，并且输出指示接收到的光量的光接收信号。基于从光接收部分输出的光接收信号来计算测量对象(S)的与指派的高度测量点相对应的部分的高度。基于通过成像部分(220)获取的图像来计算测量对象(S)的与指派的尺寸测量部分相对应的部分的尺寸。
- 三维测量装置
- [发明专利]光学扫描高度测量装置-CN201711459611.2有效
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秋柴雄二
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株式会社基恩士
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2017-12-28
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2021-07-02
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G01B11/06
- 本申请提供一种能够减少测量对象的表面上的不可测量区域的光学扫描高度测量装置。通过偏转部分根据测量点的指派来使从发光部分发射的光偏转。按次序将测量光辐射至包括或包围测量对象(S)的与测量点对应的部分的局部区域(PA)中的多个部分(P)上。通过检测部分检测与局部区域(PA)对应的偏转部分的偏转方向或者与局部区域对应的测量光的辐射位置。通过光接收部分接收来自测量对象(S)的测量光，并且输出指示接收到的光量的光接收信号。基于检测部分检测到的偏转部分的偏转方向或者测量光的辐射位置以及根据光从局部区域(PA)中的多个部分(P)入射至光接收部分上而得到的光接收信号，来计算测量对象(S)的与测量点对应的部分的高度。
- 光学扫描高度测量装置
- [发明专利]光学位移计-CN202010428535.4在审
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冬野明
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株式会社基恩士
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2020-05-20
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2021-05-11
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G01B11/02
- 提供一种光学位移计，其容易调整相对于工件的位置而不会降低轮廓的测量精度。摄像头(100)包括激光投射器(110)、LED投射器(120)、光接收透镜(132)、光接收器(131)和处理器(200)。激光投射器(110)将测量光发射至工件(W)。LED投射器(120)将均匀观察光发射至工件(W)。光接收透镜(132)会聚从工件(W)反射回的测量光的反射光和观察光的反射光。光接收器(131)具有由二维布置的多个光接收元件组成的光接收面。激光投射器(110)、光接收器(131)和光接收透镜(132)被布置成包含光接收面的平面和包含光接收透镜(132)的主面的平面相对于激光投射器(110)的光投射轴满足Scheimpflug条件。这使得能生成示出光接收器(131)的焦点与测量期间测量光照射的测量位置附近的区域相对一致的观察图像的观察图像数据。
- 光学位移
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