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[发明专利]具有条状弹性体的短互连组件-CN202110652300.8有效
发明人：方维空;郭科新;沙马尔·穆迪亚斯;李英凯;余安妮 -专利权人： 杰冯科技有限公司
申请日： 2021-06-11 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种电接触组件，所述电接触组件针对单独接触中的每一行使用弹性体条。每个电接触包括带一对臂的刚性底部引脚和柔性顶部引脚，所述一对臂在底部接触的已倾斜表面上方延伸并沿着该已倾斜表面滑动。该弹性体条位于该底部引脚与该顶部引脚的行之间。底部插座壳体设置有容纳每个弹性体条的凹槽。接着将顶部引脚行放置在每个弹性体条上方，并穿过该底部插座壳体中的导管，然后底部引脚被卡入到该对臂之间的位置中。
具有条状弹性体互连组件

[发明专利]用于在集成电路测试设备中对准接触引脚的方法-CN202310310834.1在审
发明人：方维空;郭科新;沙马尔·穆迪亚斯;李英凯;林利吾 -专利权人： 杰冯科技有限公司
申请日： 2023-03-28 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种在集成电路(IC)器件测试装置中对准一行或多行接触针的方法，该测试装置使用组件本身的底板中的结构来对准多行接触针。一旦一排接触销已经沿y轴插入到位于插座主体上的槽中，底板中的一个就下降到插座主体上。底板上的一些结构将其限制为主要在x轴上相对于插座主体移动，而其他结构允许其捕获所有未对准的接触销并通过在x轴上的小调整将它们“梳”成对准。以这种方式，触针排作为组装过程本身的一部分对准，并且不需要额外的工具或设备。
用于集成电路测试设备对准接触引脚方法

[发明专利]一种集成电路测试装置中的接地连接器-CN202210343806.5在审
发明人：方维空;郭科新;沙马尔·穆迪亚斯;李英凯;本·苏莱曼·法德日鲁里德兹万·阿兹里 -专利权人： 杰冯科技有限公司
申请日： 2022-03-31 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： H01R13/648 文献下载
摘要：本发明提供了一种集成电路测试装置中的接地连接器，该接地连接器具有用于电接地的弹性连接器，并且包括竖直地堆叠在刚性接地块上方的双弹性体接触件。该接地块的高度可以被调整以补偿该双弹性体接触件的高度不足，从而使整个连接器具有足够的高度以维持该测试装置的负载板与该IC器件之间的电连接。
一种集成电路测试装置中的接地连接器

[发明专利]IC测试装置中的具有双固定式弹性体的电触点-CN201911289438.5在审
发明人：方维空;郭科新;沙马尔·穆迪亚斯;李英凯 -专利权人： 杰冯科技有限公司
申请日： 2019-12-13 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种IC测试装置中的具有双固定式弹性体的电触点，所述电触点将IC设备的引线与所述测试装置的负载板上的对应端子电连接。所述电触点包括导电触点引脚，所述触点引脚具有允许其部分地固定到具有D形横截面的两个弹性体的特定且精确的形状。每个弹性体的D形由凸出部和平坦表面形成。所述触点引脚设有两个凹面，每个凹面接纳其中一个弹性体的所述凸出部。然后将每个弹性体的所述平坦表面分别固定到负载板表面和外壳表面。
ic 测试装置中的具有固定弹性体触点

[发明专利]集成电路测试设备-CN202010522248.X在审
发明人：方维空;郭科新;沙马尔·穆迪亚斯;李英凯;罗斯莉·穆罕默德·伊扎特·宾;陈美晨 -专利权人： 杰冯科技有限公司
申请日： 2020-06-10 - 公布日： 2020-12-15 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成电路测试设备，包括：具有至少一个倾斜表面(22)的电绝缘倾斜支撑件(20)；放置在平行于所述倾斜表面(22)的平面上的多个导电的、独立柔性的接触指(10)，所述接触指彼此间隔开并且基本上与所述平面齐平。以这种方式，可以以常规方式用现有接触指模块执行测试，同时解决IC器件接触焊盘的毛刺问题和氧化问题。另外，由于所述接触指的负载板的外端也成一定角度，所以所述接触指的这些外部顶端自然地与所述负载板发生接触，而无需任何焊接。
集成电路测试设备

[发明专利]开尔文接触件组件及其安装方法-CN201710092839.6有效
发明人：伟强·冯;国星·吴;夏摩·孟迪亚;永杰·李 -专利权人： 杰冯科技有限公司
申请日： 2017-02-21 - 公布日： 2020-06-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请公开了开尔文接触件组件及其安装方法，其中所述接触件组件包括安排成四边形的四个一样的模块。每一模块包括底壳，形成为具有两排贯穿孔以使一排前和后接触件对能插入及在每一对之间具有分隔件以防止对与对之间的电传导。之后，顶壳落放在这些接触件对的上面。通过钥匙工具的帮助，多排接触件对插入到顶壳中的孔内。借助于前和后排贯穿孔之间的不同高度，前和后排接触件首先插入一排，然后插入另一排。这使能更容易地安装组件，并具有最小偏差累积。
开尔文接触组件及其安装方法

[发明专利]用于集成电路测试设备的电触头及集成电路测试设备-CN201910265751.9在审
发明人：方维空;郭科新;沙马尔·穆迪亚斯;李英凯 -专利权人： 杰冯科技有限公司
申请日： 2019-04-03 - 公布日： 2020-01-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种用于集成电路测试设备的电触头，电触头具有细长导电接触引脚，细长导电接触引脚具有在接触引脚的内端处向上的接触尖端以及允许接触引脚在测试期间从一侧到另一侧摆动和滑动的弯曲底表面。一种具有“P”形横截面的细长可压缩构件，包括：“垂直部分”，其是所谓的字母“P”形状的上部弯曲部分，适于紧密配合在接触引脚顶部上的向上凹陷部内；以及“水平部分”，其是所谓的字母“P”形的主干或垂直线，定位在所述接触引脚的下顶表面和插座顶盖之间并与其接触。
接触引脚导电接触电触头引脚集成电路测试设备可压缩构件测试期间插座顶盖接触尖端紧密配合向上凹陷形横截面滑动垂直线顶表面摆动内端主干垂直

[发明专利]用于测试装置的电触点组件-CN201910146889.7在审
发明人：方维空;郭科新;沙马尔·穆迪亚斯;李英凯;罗斯莉·穆罕默德·伊扎特·宾 -专利权人： 杰冯科技有限公司
申请日： 2019-02-27 - 公布日： 2019-09-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于测试装置的电触点组件，包括：壳体，壳体上设有第一槽，第二槽，中心突起，第一下腔和第二下腔，第一槽第二槽由沿壳体上侧至下侧延伸的通孔构成；第一触点和第二触点以在垂直面彼此镜像的方式设置，第一触点安装在所述第一槽内，第二触点安装在第二槽内，且每个触点在垂直方向上延伸并在下端附近设有凹槽；第一弹性体和第二弹性体，各弹性体均从前至后延伸，弹性体中心处由凹槽部分固定，其前、后两端由下腔固定。本方案的测试装置的电触点组件能够接受较大形状和尺寸范围内的引针，并对引针的轻微损坏以及在以不太精确的方式向触点行进时有更高的容错性。
触点电触点组件测试装置第二槽第一槽壳体下腔引针延伸部分固定从前至后方式设置中心突起垂直面容错性中心处通孔行进

[发明专利]用于电触点组件中的两排矩形通孔的制造方法-CN201810474873.4在审
发明人：冯伟强;吴国星;沙马尔·穆迪亚斯;李永杰;陈美珍 -专利权人： 杰冯科技有限公司
申请日： 2018-05-17 - 公布日： 2018-12-07 - 主分类号： H01R43/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于开尔文触点组件的制造方法，所述开尔文触点组件通过限制触点在触点接近接触被测器件DUT的位置处的水平运动而在触点的接触DUT的端部处实现高精度的接近垂直的运动，所述制造方法包括以下步骤：将所述触点组件的壳体的坯件制备成所需的轮廓；在所述壳体的底侧处将成一排的多个下槽加工至预定深度；以及在所述壳体的顶侧处将前槽和后槽加工至刚好达到所述下槽的深度的深度，所述前槽和所述后槽彼此平行且垂直于所述下槽；使得通过所述下槽、所述前槽和所述后槽的并置形成两排虚拟矩形通孔。
下槽触点组件触点后槽壳体前槽矩形通孔两排制造电触点组件被测器件彼此平行接近垂直水平运动位置处并置顶侧坯件制备加工垂直虚拟

[发明专利]用于测试设备中的电触点组件-CN201810474226.3在审
发明人：冯伟强;吴国星;沙马尔·穆迪亚斯;李永杰;陈美珍 -专利权人： 杰冯科技有限公司
申请日： 2018-05-17 - 公布日： 2018-12-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种顶部壳体，所述顶部壳体具有相互平行的后槽和前槽，并且两者均堆叠在垂直于所述后槽和所述前槽的一排下槽的顶部。这样，前后槽和该排下槽的并置形成两排虚拟矩形通孔。这些排的后面接收一排穿过它们延伸的第一触点。这些排的前面接收一排穿过它们延伸的第二触点。因此，通孔将触点引导到触点的非常靠近它们接触DUT引线的位置的位置。因此，触点尖端与DUT的引线的接触具有非常高的精度，并可以对其进行很好的控制。
触点顶部壳体后槽前槽下槽穿过电触点组件测试设备矩形通孔延伸并置堆叠两排通孔平行垂直虚拟

[发明专利]IC测试装置中具有一体梁的可压缩层-CN201410773190.0在审
发明人：冯伟强;吴国星;夏马尔·穆恩蒂亚斯;李永杰 -专利权人： 杰冯科技有限公司
申请日： 2014-12-12 - 公布日： 2015-06-24 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明涉及IC测试装置中具有一体梁的可压缩层。提供了使用于所有触头的公共可压缩层的电触头，其中可压缩层被制造有管道，管道包含在其内的梁。梁由可压缩层形成。这个梁用作彼此电接触和彼此交互作用的第一和第二构件的可压缩构件，使得作用于第一和第二构件上的压缩力将使它们维持电接触同时压缩梁。当压缩力被释放时，像弹簧一样起作用的梁扩张，因而将第一和第二构件推开，但仍然彼此电接触。
ic 测试装置具有一体可压缩

[发明专利]用于互连系统的改良接触器-CN200710084161.3无效
发明人：冯伟强 -专利权人： 杰冯科技有限公司
申请日： 2007-02-17 - 公布日： 2008-03-12 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明总体上涉及IC器件的测试，尤其是涉及用于测试插座(1)的接触器(11)，其将IC器件(2)的引线(21)与测试器的印刷电路板(3)相连。该接触器(11)包括接触器本体(12)、适于电接合引线(21)的第一臂(13)和适于电接合印刷电路板(3)上的相应端子(31)的第二臂(14)。第一接合装置(15)为用于实现接触器(11)和引线(21)之间的改进滑触作用的滑触装置。该滑触装置能够使单个接触器适用于不同的IC器件并且防止引线(21)和测试插座(1)的接触器(11)被损坏和高用量耗损。
用于互连系统改良接触器

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