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- [发明专利]一种涂层物相及晶体结构的分析方法-CN201710977917.0在审
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王成勇;袁尧辉;郑李娟;杨简彰;赖志伟
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广东工业大学
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2017-10-19
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2017-12-26
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G01N23/20
- 本发明提供一种涂层物相及晶体结构的分析方法,包括以下步骤S1准备可溶解于酸性液体的金属薄片作为基体,将其装夹于涂层设备中,将需要分析的涂层涂镀于基体表面;S2配置可溶解金属的酸性溶液,并将涂层后的金属薄片全部放入酸性溶液中进行溶解;S3待金属薄片全部溶解于酸性溶液中后,采用过滤装置过滤溶有金属薄片的酸性液体以获得涂层粉末;S4用去离子水冲洗过滤装置上的涂层粉末,检测过滤装置过滤出的液体PH值为6~7后,将获得的涂层粉末放入干燥装置中进行干燥;S5采用研磨装置,对干燥后的涂层粉末进行研磨;S6将研磨后的涂层粉末进行X射线衍射分析,并根据获得的衍射图谱。本发明分析方法简便,结果准确。
- 一种涂层晶体结构分析方法
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