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- [发明专利]测试设备及测试方法-CN202310511625.3在审
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刘建辉;何海平;李秀毅
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天芯互联科技有限公司
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2023-05-06
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2023-09-12
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G01R31/00
- 本申请公开了一种测试设备及测试方法。该测试设备包括若干测试模组及交换机。若干测试模组，各测试模组包括老化板及与老化板连接的控制主板；老化板上设置有测试卡槽；其中，不同测试模组的测试卡槽用于插置不同电压规格的待测器件；控制主板用来调节各老化板的电压规格；以对不同型号的待测器件进行测试；交换机，与各测试模组的控制主板连接，用于接收控制信号后，将控制信号传递给对应的控制主板，交换机还用于通过控制主板获取待测器件的工作状态。各测试模组相互独立，互不干扰。通过交换机给各测试模组的控制主板提供不同的控制信号，来调整各测试模组的老化板不同规格的电压，从而可以对多种不同电压规格的待测器件进行测试。
- 测试设备方法
- [发明专利]半导体器件老化测试控制系统-CN202310184334.8在审
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何海平;刘建辉;李秀毅;万聪颖
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天芯互联科技有限公司
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2023-02-21
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2023-05-05
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G01R31/26
- 本发明公开了一种半导体器件老化测试控制系统，所述半导体器件老化测试控制系统包括：上位机，上位机用于发送控制指令以及获取半导体器件的老化状态信息；主板，主板用于转发老化状态信息和控制指令，主板包括主控单元和从控单元，主控单元与上位机通信，主控单元通过通信接口与从控单元连接，主控单元采用FPGA逻辑芯片，用于编程设计通信接口控制器IP核；下位机，下位机与从控单元连接，用于获取半导体器件的老化状态信息以及根据控制指令控制对应的半导体器件。采用该半导体器件老化测试控制系统可以在半导体器件的老化测试的过程中实时获取各个半导体器件的老化状态信息，且提高了半导体器件老化测试控制系统的可扩展性与通用性。
- 半导体器件老化测试控制系统
- [发明专利]洗车废水再用装置-CN00132158.7无效
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谭振发;李秀毅;门勇
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谭振发
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2000-12-19
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2002-07-24
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C02F1/00
- 一种洗车废水再用装置,包括沉沙除油池、沉淀池、加药器、控制部分;沉沙除油池包括筛网、吸油架、隔油板、泵池和除油池;加药器位于泵池上方;沉淀池包括反应池、斜板、清水箱、水平溢水槽、过滤池、配水板,反应池由双喷嘴射流器与涡流板组成,双喷嘴射流器设于反应池的进水口,涡流板水平安装在反应池出水口,斜板位于沉淀池中部,清水箱安装在沉淀池左侧,过滤池设于清水箱上部。其具有可拆卸运输再安装,占地面积小,实用性强优点。
- 洗车废水再用装置
- [实用新型]洗车废水再用装置-CN00266640.5无效
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谭振发;李秀毅;门勇
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谭振发
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2000-12-19
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2001-11-14
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C02F9/04
- 一种洗车废水再用装置,包括沉沙除油池、沉淀池、加药器、控制部分;沉沙除油池包括筛网、吸油架、隔油板、泵池和除油池;加药器位于泵池上方;沉淀池包括反应池、斜板、清水箱、水平溢水槽、过滤池、配水板,反应池由双喷嘴射流器与涡流板组成,双喷嘴射流器设于反应池的进水口,涡流板水平安装在反应池出水口,斜板位于沉淀池中部,清水箱安装在沉淀池左侧,过滤池设于清水箱上部。其具有可拆卸运输再安装,占地面积小,实用性强优点。
- 洗车废水再用装置
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