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[发明专利]包括充电/放电设备的电流测量装置和使用其的电流测量方法-CN201880031834.5有效
发明人：金秉圭;金秉润 -专利权人： 普适福了有限公司
申请日： 2018-05-17 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G01R19/25 文献下载
摘要：本发明涉及用于测量与作为电流测量对象的被测设备(DUT)的检查有关的电流的电流测量装置、其制造方法以及通过使用该电流测量装置来测量与DUT的检查有关的电流值的方法。具体地，根据本发明的电流测量装置包括：电容器，其被并联连接到作为电流测量的对象的DUT的信号端子；测试模式生成装置，其用于生成测试模式以便操作DUT；以及测量模块，其被连接到与所述DUT的信号端子连接的所述电容器的一端。此外，所述测量模块包括：输入/输出(I/O)缓冲器，其用于通过所述电容器的充电或放电来增大或减小电容器的电荷量，并根据所述电容器的一端的电压来输出与输出逻辑值相对应的信号；时间测量器，其用于测量到达时间，该到达时间是所述电容器的一端的电压从预定的第一电压达到预定的第二电压所经过的时间；以及控制器，其用于控制I/O缓冲器和时间测量器来测量所述到达时间，并进行控制以使得使用所测量的到达时间来测量与DUT的检查有关的电流的值。
包括充电放电设备电流测量装置使用测量方法

[发明专利]电子设备的自诊断装置-CN202111198386.8在审
发明人：金秉奎;金秉润 -专利权人： 普适福了有限公司
申请日： 2021-10-14 - 公布日： 2022-05-17 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种电子设备的自诊断装置，其包括：向量存储器，其被配置为存储用于测试装备有执行算术运算的多个核心的被测器件(DUT)的测试功能代码、与根据测试功能代码的功能测试相对应的功能测试期望值、用于测试的设计(DFT)测试代码、与根据DFT测试代码的DFT测试相对应的DFT测试期望值、以及用于DUT的一般算术运算或运算的非测试功能代码；测试数据存储器，其被配置为存储测试数据；以及安全区域测试控制器，其被配置为选择测试模式，控制施加到DUT的测试信号的环境变量并测试DUT，将功能测试期望值与测试功能代码结果值进行比较，并将DFT测试期望值与DFT测试代码结果值进行比较，以输出比较结果信息。
电子设备诊断装置

[发明专利]用于测试被试设备的基于处理器的测量方法及利用其的测量装置-CN201880041098.1有效
发明人：金秉圭;金秉润 -专利权人： 普适福了有限公司
申请日： 2018-06-07 - 公布日： 2022-05-17 - 主分类号： G01R31/319 文献下载
摘要：本发明涉及用于测试具有多个端子的被试设备(DUT：device under test)的测量方法，具体而言，涉及用于测量诸如电子设备、半导体元件、电路模块、电路基板等装有电子电路的各种电子设备的功能及性能所需的手段，涉及一种为了与配备高价的各种硬件来运用的以往手段相比能够节省单价而处理器以软件方式支持测量的方法及利用其的装置。
用于测试设备基于处理器测量方法利用测量装置

[发明专利]用于测试被测器件的方法以及使用其的装置-CN202010812831.4在审
发明人：金秉圭;金秉润 -专利权人： 普适福了有限公司
申请日： 2020-08-13 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种用于测试被测器件的方法以及使用其的装置。本发明涉及用于测试被测器件(DUT)的测试装置，该装置以比DUT的运行频率低的运行频率来运行。测试装置包括：时钟源，其根据测试装置的运行频率来生成时钟；时钟乘法器，其被配置为将所生成的时钟乘以根据DUT的运行频率而设置的乘数，并输出用于DUT的第一时钟；相位转换器，其被配置为根据乘数来将所生成的时钟的相位进行移位并输出具有不同相位的多个第二时钟；以及测试模式比较器，其被配置为通过顺序地施加具有不同相位的多个第二时钟来从DUT顺序地收集数据段。
用于测试器件方法以及使用装置

[发明专利]用于包括光学元件的显示面板的测量设备和方法-CN202011271870.4在审
发明人：金秉圭;金秉润 -专利权人： 普适福了有限公司
申请日： 2020-11-13 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明涉及用于对包括光学元件的单元阵列的被测装置执行测量的测量设备，该测量设备包括：与光学元件的单元阵列的信号端子并联连接的电容器；I/O缓冲器，其通过所述电容器的充电或放电来增加或减少所述电容器的电荷量，并且输出与根据所述电容器的一端的电压的输出逻辑值相对应的信号；用于测量到达时间的时间测量仪器，所述到达时间是所述电容器的一端的所述电压从预定的第一电压达到预定的第二电压的时间；以及处理器，其通过控制所述输入I/O缓冲器和所述时间测量仪器来测量所述到达时间，并且通过使用所述到达时间来测量与光学元件的单元阵列的测量有关的电流的值，并且基于测量值测量所述光学元件的单元阵列是否有缺陷。
用于包括光学元件显示面板测量设备方法

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