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- [发明专利]一种风冷、导冷结合的VPX机箱-CN202311188403.9在审
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张治强;张傲华;向东瑞;向恒
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成都谱信通科技有限公司
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2023-09-15
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2023-10-24
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H05K7/20
- 本发明公开了一种风冷、导冷结合的VPX机箱，包括箱体，在箱体内安装有VPX模块和散热冷板，所述箱体左侧对应散热冷板设有进风口，并在进风口安装百叶窗，在箱体内设有隔板，隔板上对应进风口设有出风口，在箱体右侧安装有风扇，所述散热冷板包括冷板、安装板和盖板，所述冷板上设有空腔，冷板左右两端设有与空腔连通的气孔，在空腔内等间距设有多个散热齿，相邻散热齿之间形成散热风道，所述安装板固定在冷板端部，盖板可拆卸式安装在冷板上将空腔密封。本发明增大了VPX模块的散热面积，为VPX模块提供良好的散热环境；增加了防水密封结构设计，保证了机箱的内部密封性，使得机箱能够适应外场使用场景的要求。
- 一种风冷结合vpx机箱
- [实用新型]一种低容值闪存在UDP上的封装结构-CN202320531634.4有效
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张治强
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湖北长润半导体科技有限公司
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2023-03-18
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2023-10-13
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H01L23/488
- 本实用新型提出了一种低容值闪存在UDP上的封装结构，包括UDP母板，UDP母板顶面设有子电路板的封装区域，封装区域内具有母板贴装焊盘，子电路板底面设有与UDP母板配合的子板贴装焊盘，子电路板侧端设有与子电路板电路配合连接的子板邦线焊盘、子板邦线焊盘与晶圆上的邦线焊盘相适应，子板贴装焊盘与UDP母板的母板贴装焊盘通过锡膏焊接相连接，晶圆上的邦线焊盘与子电路板侧端对应的子板邦线焊盘通过合金线相连接，晶圆贴装于子电路板顶面。本实用新型通过设置子电路板，子电路板与UDP母板通过锡膏焊接连接，子电路板侧端的子板邦线焊盘与晶圆的邦线焊盘配合连接，从而可以适应不同晶圆产品的使用，扩大市场份额。
- 一种低容值闪存udp封装结构
- [发明专利]一种高品质石英坩埚的制作方法-CN202210306859.X有效
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陈曼;朱剑;李宗辉;王也;王震;张治强
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锦州佑鑫石英科技有限公司
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2022-03-25
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2023-10-10
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C03B20/00
- 本发明涉及一种高品质石英坩埚的制作方法，采用真空电弧法熔制，石墨电极的走位和每个位置上的停留时间满足：以模具上口端面位置为零点，石墨电极的末端在零点以上为+，在零点以下为‑；石墨电极的起始位置为+0.10～0.30倍的坩埚外径，停留时间≥2分钟，之后依次按阶梯走位法依次下降位置，每下降一个位置停留一段时间，走位至少3次后到达底部抛光位置；底部抛光位置为石墨电极到达的最低位置且进入坩埚坯内部，距离坩埚底部300‑550mm；在该位置上，石墨电极停留并对坩埚底部进行高温抛光和挥发除杂；之后再上升到扫尾工位，该扫尾工位为+0.05～0.07倍的坩埚外径，在该位置上对石英坩埚的内壁上部进行高温挥发除杂。本发明用于提高坩埚透明层的纯度，增强耐高温变形性能等。
- 一种品质石英坩埚制作方法
- [实用新型]一种测试座结构-CN202320673998.6有效
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张治强
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广东长兴半导体科技有限公司
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2023-03-30
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2023-09-08
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G01R1/04
- 本实用新型提供了一种测试座结构，包括：基座，所述基座开有一容纳槽；连接器，设置在所述容纳槽底部，且具有两个连接端，分别朝向于所述容纳槽内和外侧，用于将待测试产品电性连接于外部设备进行测试；隔板，设置在所述容纳槽内，所述隔板开有若干与所述连接端位置相对应的通孔，所述通孔用于供所述待测试产品的输出端插入且导向使之与其对应的所述连接端连接。本实用新型通过在连接器和芯片之间设置具有若干通孔的隔板，且该通孔与连接器的连接端及芯片的输出端的位置相对应，使得输出端的锡球通过相应通孔导向居中，防止芯片在放置的过程中偏移带动探针弯折变形，对探针起到一定的保护作用，提升了探针与芯片锡球相接触的稳定性。
- 一种测试结构
- [发明专利]一种晶圆测试方法-CN202310940049.4在审
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张治强
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广东长兴半导体科技有限公司
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2023-07-28
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2023-08-29
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H01L21/66
- 本发明提供了一种晶圆测试方法，所述晶圆测试方法应用于测试设备，所述测试设备具有若干个料盘、抓取部件和测试部件，所述晶圆测试方法包括以下步骤：S1、将所述测试设备用于放置料盘的区域分成用于放置待测试晶圆的原料区和用于放置测试完晶圆的状态区，使所述原料区和所述状态区的占比值大于1；S2、上料，将待测试晶圆放置在所述原料区；S3、控制所述抓取部件将原料区料盘内的晶圆抓取至所述测试部件测试，测试完将晶圆抓取并放置到所述状态区对应的料盘中。本发明通过将原料区空置的料盘定义为周转区，状态区满料时将测试完的晶圆经过抓取部件移动至周转区进行摆放，减少单轮测试状态区的下料次数，提高了晶圆测试效率，降低人工成本。
- 一种测试方法
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