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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]太赫兹波生成元件、检测元件和太赫兹时域分光设备-CN201810893512.3在审
发明人： 尾内敏彦 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2011-02-23 - 公布日： 2018-11-23 - 主分类号： G02F1/035 文献下载
摘要：公开了太赫兹波生成元件、检测元件和太赫兹时域分光设备。一种太赫兹波生成元件包括：波导，其包括电光晶体；光学耦合构件，其将作为光传播通过所述波导的结果而从所述电光晶体生成的太赫兹波提取到空间；和至少两个电极，其通过将电场施加于所述波导来引起所述电光晶体中的一阶电光效应，以便改变传播通过所述波导的光的传播状态。所述波导的电光晶体的晶轴被设置为使得通过二阶非线性光学过程生成的太赫兹波和传播通过所述波导的光相位匹配。
波导太赫兹波电光晶体生成元件太赫兹时域分光设备二阶非线性光学传播状态电场施加电光效应光学耦合光传播光相位电极检测晶轴一阶传播匹配

[发明专利]太赫兹波生成元件、太赫兹波检测元件和太赫兹时域分光设备-CN201180011548.0有效
发明人： 尾内敏彦 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2011-02-23 - 公布日： 2018-08-21 - 主分类号： G02F1/035 文献下载
摘要：一种太赫兹波生成元件包括：电光晶体，其包括光学波导；光学耦合构件(7)，其将作为光传播通过所述波导的结果而从所述电光晶体生成的太赫兹波提取到空间；和至少两个电极(6a、6b)，其通过将电场施加于所述波导(4)来引起所述电光晶体(1)中的一阶电光效应，以便改变传播通过所述波导的光的传播状态。所述电光晶体(1)的晶轴被设置为使得通过二阶非线性光学过程生成的太赫兹波和传播通过所述波导(4)的光相位匹配。
赫兹生成元件检测时域分光设备

[发明专利]半导体装置及其制造方法-CN201480070810.2无效
发明人：关口亮太;尾内敏彦 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2014-12-22 - 公布日： 2016-08-24 - 主分类号： H01L27/06 文献下载
摘要：一种半导体装置包括：硅衬底；以及在硅衬底上布置的检测元件、p型MOS晶体管以及n型MOS晶体管，其中检测元件包括半导体层、电极和布置在半导体层与电极之间的肖特基势垒，半导体层被布置在具有与p型或n型MOS晶体管的源极或漏极中的杂质扩散层相同的组成和高度的层、硅衬底中的具有与硅衬底中的在p型MOS晶体管或n型MOS晶体管的栅极氧化物膜正下方的沟道区相同的组成和高度的区域、或者硅衬底中的具有与布置在p型MOS晶体管与n型MOS晶体管之间的场氧化物膜正下方的区域相同的组成和高度的区域的正上方。
半导体装置及其制造方法

[发明专利]光脉冲生成装置、太赫兹光谱装置及断层摄影装置-CN201180040619.X有效
发明人： 尾内敏彦 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2011-07-26 - 公布日： 2013-05-01 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：一种供给泵浦光和探测光的光脉冲生成装置，包括光源和调制单元，调制单元被配置为调制从光源发出的光，由此将光分为泵浦光和探测光。调制单元被配置为使得用于调制光的频率是可变的。调制单元通过改变该频率来改变泵浦光入射到对象上的时刻与探测光入射到对象上的时刻之间的差。
脉冲生成装置赫兹光谱断层摄影

[发明专利]太赫兹波产生元件、太赫兹波检测元件和太赫兹时域分光装置-CN201180026344.4在审
发明人： 尾内敏彦 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2011-05-30 - 公布日： 2013-02-06 - 主分类号： G02F1/35 文献下载
摘要：提供一种太赫兹波产生元件，该太赫兹波产生元件包括：包含电光晶体的芯部（4）的光波导；用于将当光在光波导中传播时从光波导产生的太赫兹波提取到空间的光耦合器（7）；和被设置在光耦合器关于光波导的芯部的相对侧以反射产生的太赫兹波的反射层（6）。根据该元件，能够提供这样的产生元件：该产生元件可通过光激励有效地产生较高强度的太赫兹波或产生具有较窄的脉冲宽度的太赫兹波以灵活地控制产生的太赫兹波的波形成形。
赫兹产生元件检测时域分光装置

[发明专利]用于测量电磁波的装置和方法-CN201080060768.8有效
发明人：盐田道德;尾内敏彦 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2010-12-28 - 公布日： 2012-09-26 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：本发明提供一种用于将电磁波的时间波形变换成适合于信号处理等的时间波形以测量时间波形的装置和方法。对事先测量的诸如太赫波之类的电磁波的第一时间波形执行小波变换，并且通过控制小波展开系数形成适合于信号处理并与在小波变换中使用的母小波具有高相关性的第二时间波形。在目标对象的第二测量处理和以后的处理中，使用诸如偏置电压控制器的变换单元来将电磁波变换成变换后的时间波形以测量时间波形。
用于测量电磁波装置方法

[发明专利]具有负电阻元件的振荡器-CN201080039684.6有效
发明人： 尾内敏彦;关口亮太 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2010-08-13 - 公布日： 2012-05-30 - 主分类号： H03B7/08 文献下载
摘要：振荡器具有负电阻元件和谐振器，以及相对于电源偏压电路与负电阻元件并联电连接的电容器，电容器的电容被选择为使得抑制由于电源偏压电路导致的任何寄生振荡并允许由于负电阻元件和谐振器导致的谐振频率上的振荡。
具有电阻元件振荡器

[发明专利]太赫兹检查装置-CN200980153214.X有效
发明人： 尾内敏彦;笠井信太郎 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2009-12-16 - 公布日： 2011-12-07 - 主分类号： G01N21/35 文献下载
摘要：在检查装置或方法中，可同时获取被检体的厚度和特性的值或者它们的分布。检查装置包括：部分9，用于用放射线照射被检体2；部分10，用于检测来自被检体的放射线；获取部分26；存储部分21和计算部分20。获取部分获取与放射线的检测时间相关联的传送时间以及放射线的振幅。存储部分事先存储传送时间和振幅与被检体的特性的代表性值之间的关系数据。计算部分基于传送时间、振幅和关系数据，获得被检体的厚度和特性的值。
赫兹检查装置

[发明专利]脉冲激光装置、太赫兹测量装置和太赫兹层析装置-CN201110114528.8有效
发明人： 尾内敏彦;片桐崇史;古泽健太郎 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2009-01-23 - 公布日： 2011-10-05 - 主分类号： H01S3/00 文献下载
摘要：本发明提供脉冲激光装置、太赫兹测量装置和太赫兹层析装置。一种脉冲激光装置包括被配置为产生激光束的脉冲的激光器、光纤放大器和脉冲压缩器。光纤放大器包含在从激光器产生的激光束的波长处表现出正常色散的掺杂稀土的光纤。脉冲激光装置还包括被配置为在光纤放大器中已被啁啾的激光束的波长谱内对于与掺杂稀土的光纤的零色散波长对应的波长区域和/或比零色散波长更长的波长区域中的能量部分给予损失的单元。
脉冲激光装置赫兹测量层析

[发明专利]光学元件以及包含它的光学器件和太赫兹时域分光装置-CN201110049029.5有效
发明人： 尾内敏彦 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2011-03-02 - 公布日： 2011-09-21 - 主分类号： H01L31/08 文献下载
摘要：本发明涉及光学元件以及包含它的光学器件和太赫兹时域分光装置。该光学元件包含：具有比光的光子能量大的能量带隙的半导体层；和与半导体层电气接触的多个电极。所述电极中的至少一个形成在该电极和半导体层之间的肖特基结；该肖特基结具有比光的光子能量小的势垒高度。形成肖特基结的电极和半导体层之间的结表面的至少一部分包含：被布置为从半导体层的没有电极的表面用光照射的光照射表面；和被布置为与用光的照射而产生或检测的太赫兹波耦合的耦合结构的一部分。
光学元件以及包含器件赫兹时域分光装置

[发明专利]光学半导体器件-CN201010135255.0有效
发明人： 尾内敏彦;井辻健明;笠井信太郎 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2005-07-28 - 公布日： 2010-08-04 - 主分类号： H01L31/08 文献下载
摘要：本发明提供了一种光学半导体器件，其包括具有光电导性的半导体薄膜(4)和用于在大致垂直于所述半导体薄膜(4)的表面的方向向所述半导体薄膜(4)内部施加电场的电极对(5)和(10)，其中，当光作用于所述半导体薄膜(4)的被施加了电场的区域时，所述半导体薄膜(4)产生电磁波。所述电极被设置在所述半导体薄膜(4)的前表面和背面，其间夹着所述半导体薄膜。
光学半导体器件

[发明专利]使用太赫辐射的成像方法和装置-CN200880013117.6有效
发明人：笠井信太郎;尾内敏彦 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2008-08-27 - 公布日： 2010-03-03 - 主分类号： G01N21/35 文献下载
摘要：用包含30GHz至30THz的频率成分的电磁波照射检查对象，并且获得来自检查对象的透射或反射的电磁波的傅立叶变换图像。所获得的傅立叶变换图像经受空间频率滤波处理。该方法能在使用太赫波的成像操作中仅使要被可视化的部分可视化。
使用辐射成像方法装置

[发明专利]利用太赫兹波获取物体信息的信息获取设备和信息获取方法-CN200780035820.2有效
发明人： 尾内敏彦 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2007-12-12 - 公布日： 2009-08-26 - 主分类号： G01N21/35 文献下载
摘要：信息获取设备包括脉冲发生器9、检测器10、第一延迟单元15、第二延迟单元16和计算单元。脉冲发生器9由第一激光束激发，以生成脉冲形式的太赫兹波。检测器10由与第一激光束相干的第二激光束激发，从而检测来自被太赫兹波照射的物体2的太赫兹波。第一延迟单元15改变延迟时间，以使得检测器10能够检测来自物体2的太赫兹波的脉冲信号。第二延迟单元16改变延迟时间，改变量不大于检测器10检测的脉冲信号的时间宽度。计算单元按照当在第一延迟单元的延迟时间内第二延迟单元改变延迟时间时检测器10检测的信号信息，计算确定关于来自物体2的太赫兹波的脉冲信号的波峰的时间位置的信息。
利用赫兹获取物体信息设备方法

[发明专利]电可调太赫激光振荡装置-CN200780032896.X有效
发明人：关口亮太;尾内敏彦 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2007-12-20 - 公布日： 2009-08-19 - 主分类号： H01S1/02 文献下载
摘要：提供一种具有长振荡波长(THz)的振荡装置，其中波长可变宽度相对较宽，并且波长扫描速率相对较高。振荡装置包括：相对于将振荡的电磁波具有增益的增益介质(103)；用于使电磁波谐振的腔结构(104，105)；以及用于将泵浦能量注入增益介质的能量注入部件(121，122A)。增益介质被夹在第一负介电常数介质(102，112)与第二负介电常数介质(101，111)之间，所述负介电常数介质中的每一个的介电常数实部相对于所述电磁波均为负的。为第一负介电常数介质和第二负介电常数介质中的至少一个提供电场施加部件(122B)，从而施加电场，以便改变在与增益介质的边界部分形成的耗尽区。
可调激光振荡装置

[发明专利]光脉冲压缩器-CN200910009704.4有效
发明人：片桐崇史;尾内敏彦;古泽健太郎 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2009-01-23 - 公布日： 2009-08-05 - 主分类号： H04B10/17 文献下载
摘要：本发明提供一种光脉冲压缩器，具有：包含向输入脉冲提供正啁啾的正常色散光纤的啁啾单元，并具有包含异常光纤的色散补偿器。形成色散补偿器的异常光纤的非线性系数和二阶群速度色散的绝对值被设置为使得孤子阶数变为一或更大，并且，使得异常色散光纤的光纤长度等于或小于光孤子形成所需要的长度。
脉冲压缩器

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