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[发明专利]一种柔性对插接口耐受度检测系统-CN202311171508.3在审
发明人：梅超;何晓辉;李猛志;孙德滔 -专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
申请日： 2023-09-12 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及对插接口检测领域，特别涉及一种柔性对插接口耐受度检测系统，包括内部挖口并且开口朝下设置的检测箱，所述检测箱的上端设置有检测装置，检测箱的下方设置有驱动装置，驱动装置包括通过电机座水平安装在检测箱内侧壁的电机；本发明能够同时对多个不同形状、大小的对插接头进行夹持锁紧，然后在驱动装置的驱动下同时带动多个对应夹持的对插接头进行检测试验，解决了需要逐一去进行反复检测以及频繁跟换检测器具的问题，提高了对对插接头的检测效率以及装置的适用性，并且还可以对相应对插接头之间的插拔力大小进行检测，从而能判断出插拔力过大或者过小的对插接头，避免插拔力异常的对插接头影响日常使用。
一种柔性接口耐受检测系统

[发明专利]一种高密度电路板检测装置-CN202310939020.4有效
发明人：梅超;程志勇;韩雪涛;孙德滔 -专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
申请日： 2023-07-28 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及电路板测试领域，其公开了一种高密度电路板检测装置，包括机架以及设置在机架上的输送机构、供应机构、移位机构以及测试机构，输送机构用于朝供应机构持续输送电路板，供应机构用于对电路板进行负压吸附并牵引电路板朝移位机构移动，移位机构用于牵引电路板朝测试机构移动，测试机构用于对电路板进行测试，供应机构对电路板实施的负压吸附移动过程中，一开始通过负压泵使供应机构内部处于预设负压状态，之后，负压泵只需要持续保持低功率运行即可，解决了负压泵频繁开闭会缩短寿命的问题，并且相比于现有技术而言，耗能低。
一种高密度电路板检测装置

[发明专利]一种ADC补偿的高精度测量校准辅助装置及方法-CN202310853903.3在审
发明人：袁承范;孙德滔;程志勇;梅燃燃;刘敏;梅浩;陈焱国;郭利文;吴洪升 -专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
申请日： 2023-07-12 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： H03M1/10 文献下载
摘要：本申请涉及自动化测试技术领域，特别是涉及一种ADC补偿的高精度测量校准辅助装置及方法，包括校准架以及安装在校准架上的安装环，所述安装环内转动设置有转动轨道，且所述安装环轴线上设置有校准箱以及校准箱内设置有用于测量校准的高精度测量校准仪，所述校准箱转动安装在安装环上延伸的连接板上；本发明通过多个校准辅助器可以同时进行多次的测量校准，同时通过方形定位臂和方形延伸臂能够取代传统的通过导线直接连接，可以避免在测量校准过程中出现接口的松动和导线的挪动而影响校准效果的问题；本发明能够对所有待测电压区间进行校准并且保证都为达到精度指标的有效校准点，降低数据的存储容量，节省存储空间，减少测试时间。
一种 adc 补偿高精度测量校准辅助装置方法

[发明专利]一种芯片管脚开短路测试系统及开短路测试方法-CN202310751351.5有效
发明人：袁承范;孙德滔;程志勇;梅燃燃;刘敏;梅浩;陈焱国;郭利文;吴洪升 -专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
申请日： 2023-06-25 - 公布日： 2023-09-26 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种芯片管脚开短路测试系统及开短路测试方法，芯片管脚开短路测试领域，其包括固定架以及输送装置，输送装置包括两组输送机构，固定架的上端设有一组输送机构，用于输送待测试的芯片，固定架内部的右下端设有另外一组输送机构，用于输送完成检测的芯片，位于固定架上端的输送机构上设有夹持机构用于对芯片进行夹持，固定架的内侧且位于固定架上端的输送机构的正下方设有对芯片管脚进行开短路检测的测试机构；本发明能够通过输送带和夹持机构的配合实现芯片的批量化输送和固定，保证设备测试的高效，提高芯片测试的效率；其次本发明能够实现针对不同尺寸的芯片进行夹持固定，并且针对不同尺寸的芯片进行测试，提高其适用性。
一种芯片管脚短路测试系统方法

[发明专利]一种PCBA板测试治具-CN202311067949.9在审
发明人： 孙德滔;袁承范;陈焱国;郭利文;李猛志 -专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
申请日： 2023-08-23 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明属于测试治具技术领域，尤其是涉及一种PCBA板测试治具，包括底座和设置在底座一侧的皮带传输机，所述底座的上端固定安设有驱动移送机构，所述驱动移送机构的上端固定安设有托接支撑机构，所述托接支撑机构内放置有电路板固定夹持机构，所述底座的上端还固定安设有电路检测机构。本发明能够实现对多个电路板本体的连续检测操作，且使得测试对位更加精确，有效提高了测试质量和测试效率，避免数据显示器上容易因为静电吸附灰尘影响显示效果的问题，且无需额外的人工和清理设备，能够实现快速自动下料操作，减少了工作人员的劳动消耗，提高了检测效率，且避免了在进行取料的时候人工的扣取容易对PCBA板造成损坏的问题。
一种 pcba 测试

[发明专利]一种边界扫描链自检测逻辑电路及自检测方法-CN202310782847.9在审
发明人：梅燃燃;韩雪涛;孙德滔;杨丹;程志勇 -专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
申请日： 2023-06-28 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：本发明公开了一种边界扫描链自检测逻辑电路及自检测方法，包括边界扫描控制器和由若DUMMY卡级联组成的扫描链；本发明可通过控制器的IO一次性接通完整的边界扫描链进行自检测；当完整的边界扫描链测试故障时，为了精准的定位故障点，将通过逐步增加边界扫描链长度的方法，一步一步进行JTAG连接器线路和DUMMY卡的故障自检测并排除，最终完成整条链的JTAG连接器线路和DUMMY卡的故障自检测，其可靠性高；自检测完成后，进入待测板的边界扫描测试状态；在边界扫描链没问题的情况下，为了节省时间，可在接通完整的边界扫描链后，跳过自检测，直接进入待测板的正常边界扫描测试状态。
一种边界扫描检测逻辑电路方法

[发明专利]一种检测电路、检测卡及检测方法-CN202310742215.X在审
发明人：梅燃燃;孙德滔;袁承范;杨丹;程志勇 -专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
申请日： 2023-06-20 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01R31/52 文献下载
摘要：本发明涉及电故障探测的领域，尤其是涉及一种检测电路、检测卡及检测方法，检测电路包括连接模组、上拉模组和下拉模组，还包括第一分压模组，与连接模组和上拉模组连接，在电路短路或开路时，分摊电路中的电压；第一控制模组，与第一分压模组连接，控制第一分压模组与连接模组和上拉模组的导通；第二分压模组，与连接模组和下拉模组连接，在电路短路或开路时，分摊电路中的电压；第二控制模组，与第二分压模组连接，控制第二分压模组与连接模组和下拉模组的导通。本发明具有能够可靠的检测DUT的上拉和下拉的短路和开路，并提升检测过程中的安全性的效果。
一种检测电路方法

[发明专利]视觉激光校准平台系统-CN202210040052.6有效
发明人： 孙德滔 -专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
申请日： 2022-01-14 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种视觉激光校准平台系统，包括：激光信号采集模块：用于采集激光信号，并将所述激光信号进行解析获取激光光束的方向和角度信息；误差获取模块：用于将所述激光光束的方向和角度信息与预设的标准方向和角度信息进行比较，获取误差数据信息；校准模块：用于根据所述误差数据信息，构建误差校准模型，对所述激光光束进行自动校准，确定校准结果。本发明能够提高激光校准的效率和可信度。
视觉激光校准平台系统

[发明专利]一种用于印刷电路板组件测试的复合夹具-CN202310775856.5有效
发明人：程志勇;韩雪涛;孙德滔;梅燃燃;梅浩 -专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
申请日： 2023-06-28 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明属于电路板测试技术领域，尤其是涉及一种用于印刷电路板组件测试的复合夹具，包括底座，所述底座的端面固定安装有一组电路板定位柱，所述底座的端面滑动插接有多组滑杆，且同组多个滑杆的顶部均共同固定连接有撞击块，同组多个所述滑杆的底部均共同固定连接有挡风罩，所述底座的端面一侧固定安装有气泵。本发明可以在进行印刷电路板的ICT测试过程中，同步进行电子元件的锡焊点是否虚焊的测试，测试精准，减少后续测试工序和厂家的测试成本，而且可以有效降低印刷电路板因测试而损坏的可能性，并可以通过“坐标系”的标记方式，便于人们快速定位印刷电路板的缺陷处，且不会损坏电子元件，并降低不良品流出的可能性。
一种用于印刷电路板组件测试复合夹具

[发明专利]一种视觉测试展示系统-CN202210058161.0有效
发明人： 孙德滔 -专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
申请日： 2022-01-19 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： H04N13/106 文献下载
摘要：本发明提供了一种视觉测试展示系统，包括：设备信息采集模块：用于采集目标显示设备的参数信息，并根据所述参数信息生成对应检索编码；视觉测试模块：用于基于预设的内容数据库，根据所述检索编码获取视觉测试项，进行视觉测试，输出测试结果；结果显示模块：用于将所述测试结果进行数字化分析，获取分析结果，并将所述分析结果进行可视化，获取图形化测试结果。本发明通过采用双探头模拟人眼的真实视觉效果，并采用双目立体测试显示设备的参数，使得显示设备的输出参数更符合人眼的视觉舒适值。
一种视觉测试展示系统

[发明专利]一种DUT的边界扫描测试系统及自检测方法-CN202310625893.8有效
发明人：袁承范;孙德滔;程志勇;梅燃燃;刘敏;梅浩;陈焱国;郭利文;吴洪升 -专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
申请日： 2023-05-30 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及边界扫描测试治具领域，特别涉及一种DUT的边界扫描测试系统及自检测方法，包括工作桌面、固定部、伸缩气缸、回形架和测试部；本发明能够解决现有技术对电路板芯片进行边界扫描测试的过程中存在的以下问题：需要将多根JTAG信号线和电路板芯片的多个引脚依次连接，无法实现JTAG信号线和引脚之间的同时连接，从而影响测试效率，且JTAG信号线和引脚相连接时容易出现偏差，进而影响测试精度，导致测试结果出现误差；现有技术无法根据电路板芯片的引脚之间的间距对JTAG信号线进行调节，因此无法使JTAG信号线和电路板芯片的引脚快速连接，进而影响测试效率。
一种 dut 边界扫描测试系统检测方法

[实用新型]一种分级过流保护电路-CN202220700228.1有效
发明人：袁承范;陈启恩;孙德滔;韩雪涛;陈焱国 -专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
申请日： 2022-03-29 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： H02H7/12 文献下载
摘要：本实用新型属于电源保护技术领域，公开了一种分级过流保护电路，所述运算放大器U1、比较器U2、采样电阻R1、BUCK输出电路B1、可控开关B2、锁存电路B3和MCU电路B4。本实用新型通过MCU的DAC输出调整比较器的参考电压和采样电阻两端经过放大后的电压进行比较实现可调整的过流保护，一旦出现过流保护，锁存器将会对此过流保护状态进行锁存，保证可控开关一直处于关断状态，从而切断了电源与负载的导通回路，且MCU的DAC可先设置小电流去判断电路是否短路或者损坏，如果出现短路或损坏，将触发过流保护OCP，切断供电回路；如果正常，将提升设定电流的参考值，进入大电流模式；如果在大电流模式下正常，则维持正常供电。
一种分级保护电路

[发明专利]一种三维移载式电路板老化测试机-CN202210673922.3有效
发明人：程志勇;孙德滔;吴博 -专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
申请日： 2022-06-15 - 公布日： 2022-08-23 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请涉及电路板老化测试技术领域，特别是涉及一种三维移载式电路板老化测试机，包括测试箱，所述测试箱前端铰接有透明玻璃材质的箱门，所述测试箱内设置有用于电路板的加热的可调温度的加热装置以及用于电路板快速冷却的冷却装置，所述测试箱内设置有夹持翻转装置和强度测试装置；本发明可以针对不同规格的电路板进行老化测试，其具体的通过间距调节机构和第一液压缸对翻转盘的移动控制来实现夹持单元可以对不同规格的电路板进行夹持固定，同时本申请可以对测试箱内的多个电路板同时进行翻转，以使电路板受热均匀，提高电路板老化测试的准确性。
一种三维移载式电路板老化测试

[发明专利]一种数据线素质综合测试装置-CN202210363062.3有效
发明人：郑雅婷;韩雪涛;孙德滔;程亚磊 -专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
申请日： 2022-04-08 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： G01N3/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种数据线素质综合测试装置，属于数据线性能测试领域，其包括罩壳与测试系统，测试系统设置在罩壳内，测试系统包括测试装置与拉伸机构，测试装置用于对数据线的数据传输性能、接头使用寿命以及接头与线之间连接处的强度进行单独测试或组合测试，拉伸机构用于对数据线的强度进行测试，罩壳的侧面开设有风口，罩壳内还设置有蒸发器、风机组以及制冷器，蒸发器用于改变罩壳内的酸碱度与湿度，风机组设置有两组，一组风机组内部设置有加热器，另一组风机组与制冷器连接，两组风机组配合用于改变罩壳内的温度。
一种数据线素质综合测试装置

[发明专利]一种红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置-CN202111115930.8在审
发明人：陈启恩;袁承范;陈焱国;孙德滔;韩雪涛 -专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
申请日： 2021-09-23 - 公布日： 2021-12-24 - 主分类号： G01C9/00 文献下载
摘要：本发明属于自动化治具领域，公开了一种红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置。所述方法为：在红外反射传感器的有效距离处，分别采集不放置DUT和放置DUT时红外反射传感器的输出电压ADC1、ADC2，将[ADC2，ADC1]作为初始电压识别上下限存储到MCU中；根据[ADC2，ADC1]确定期望的电压识别范围Uo；根据电压识别范围Uo校正并更新MCU中的电压识别上下限为[ADC2‑Uo，ADC2+Uo]；根据[ADC2‑Uo，ADC2+Uo]进行DUT放平识别检测。所述装置包括若干个红外反射传感器识别装置，所述红外反射传感器识别装置包括红外反射传感器、电压采集模块、电压校正模块和DUT放平识别模块。本发明能够改善DUT放平识别效果，降低成本，减小占用空间和调试时间，方便配置识别精度。
一种红外反射传感器识别 dut 校准方法装置

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