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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]X射线分析装置-CN201910817032.3有效
发明人： 大越晓 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2019-08-30 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：提供一种X射线分析装置，能够辅助设定视场搜索作业中的测定条件。EPMA(100)具备偏转线圈(2)、试样台(4)、分光器(6a、6b)以及控制部(10)。控制部(10)基于由分光器(6a、6b)检测出的特性X射线，来对分析对象区域进行分析。控制部(10)使用预先准备的表示从被照射了电子射线(E)的试样(S)产生的特性X射线的强度与能够实现分析对象区域的分析的电子射线(E)的扫描速度之间的关系的X射线强度‑扫描速度表，基于由分光器(6a、6b)检测出的特性X射线的强度，来决定电子射线(E)的扫描速度。
射线分析装置

[发明专利]表面分析装置-CN202111337109.0在审
发明人： 大越晓;石川丈宽 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2021-11-12 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G01N23/2252 文献下载
摘要：本发明提供一种表面分析装置，能够避免在自动地对散布图上的点进行聚类时检测到伪簇，从而提高聚类的精度。本发明所涉及的表面分析装置的一个方式具备：测定部(1‑2、4‑8)，其在试样(3)上的多个位置处分别获取反映了作为分析对象的多个成分或元素的量的信号；散布图制作部(92)，其基于由测定部得到的测定结果来制作二元散布图；聚类分析部(94)，其使用基于密度的聚类分析的方法来对二元散布图中的点进行聚类；以及参数调整部(93)，其利用二元散布图中的某一方的成分或元素的信号值的值分布信息，来调整距离阈值，该距离阈值是在基于密度的聚类分析中应设定的参数之一。
表面分析装置

[发明专利]表面分析装置-CN202111268439.9在审
发明人： 大越晓 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2021-10-29 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G01N23/2252 文献下载
摘要：本发明提供一种表面分析装置。在进行相解析等的情况下，使分析者简便地进行簇区域的变形、分割、整合等作业，来实现减轻分析者的负担并改善作业效率。本发明所涉及的表面分析装置的一个方式具备：测定部(1、2、4、5、7、90)，其在试样上的多个位置处分别获取反映了作为分析对象的多个成分或元素的量的信号；散布图生成部(92)，其基于测定部的测定结果来生成散布图；聚类分析部(93)，其将散布图中的点进行聚类；以及簇区域检测部(94)，其基于由聚类分析部向散布图中的各点赋予的聚类信息，按每个簇求出顶点的数量为规定数量以下的多边形形状的簇区域边界信息。
表面分析装置

[发明专利]试样成分估计方法及其装置、学习方法以及记录介质-CN202011061191.4在审
发明人： 大越晓 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： G01N23/2209 文献下载
摘要：本发明提供一种试样成分估计方法及其装置、学习方法以及记录介质。试样成分估计方法包括以下步骤：获取由波长分散型的X射线分析装置(100)测定出的试样的频谱；确定试样的分析对象元素及与分析对象元素对应的输入波长范围；以及将试样的频谱中的输入波长范围的频谱输入到第一学习完成模型(44)，来估计试样中的分析对象元素的化学键合状态。
试样成分估计方法及其装置学习方法以及记录介质

[发明专利]电子束微区分析仪-CN202010689653.0在审
发明人：坂前浩;大越晓 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2020-07-17 - 公布日： 2021-02-23 - 主分类号： G01N23/2252 文献下载
摘要：本发明提供一种电子束微区分析仪。从输入部(13)选择易于因被照射电子束而向试样外散逸的元素(S10)。另外，从输入部(13)选定根据定性定量分析的结果确定为微量元素的微量范围(S20)。然后，数据处理部(11)在执行定性定量分析之前，针对在S10中选择出的元素执行先行测定元素测定处理(S30)，之后，执行定性定量分析处理(S40)。接着，数据处理部(11)根据定性定量分析的结果，来确定在S20中设定的微量范围内包含的微量元素，针对所确定的微量元素执行微量元素测定处理(S50)。
电子束区分

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