专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种存储器的信号测试系统及测试方法-CN202310699849.1有效
  • 陈四平;许展榕;张帆;周章菊 - 合肥康芯威存储技术有限公司
  • 2023-06-14 - 2023-09-22 - G11C29/56
  • 本发明提供一种存储器的信号测试系统及测试方法,包括:主控端,用以发出调试指令、测试指令以及终止指令;示波器,通讯连接于所述主控端,用以根据所述调试指令,搭建相应的测试环境;以及测试板,通讯连接于所述主控端、所述示波器,所述测试板上通讯连接内嵌式存储器,所述测试板根据所述测试指令,对所述内嵌式存储器进行测试,并在所述示波器中生成测试数据;其中,当所述主控端发出所述终止指令后,所述测试板停止测试,所述示波器将所述测试数据发送至所述主控端。通过本发明公开的一种存储器的信号测试系统及测试方法,能够提升存储器信号测试的测试效率。
  • 一种存储器信号测试系统方法
  • [发明专利]一种存储器件数据传输的测试装置及测试方法-CN202310664952.2有效
  • 张帆;许展榕;赖志铭;陈四平;周章菊 - 合肥康芯威存储技术有限公司
  • 2023-06-07 - 2023-09-05 - G11C29/56
  • 本发明提供一种存储器件数据传输的测试装置及测试方法,测试装置包括:写入模块,用以向被测芯片发送指令数据;读取模块,用以接收所述被测芯片对所述指令数据运算的响应数据;处理器模块,用以在预设传输速率下,控制所述写入模块向所述被测芯片发送多条指令数据,并设定接收前一所述指令数据对应的所述响应数据到发送后一所述指令数据之间的间隔时间;以及判断模块,用以根据所述读取模块是否接收到多条所述响应数据,或者根据多条所述响应数据的类型,判断所述被测芯片是否存在缺陷。本发明可高效快速的检测出一批次存储器芯片中的合格产品及缺陷产品,提高了产品使用效益,降低了生产成本。
  • 一种存储器件数据传输测试装置方法
  • [发明专利]一种数据传输方法、HDMI信号的单网线延长器-CN201611250307.2在审
  • 赵瑞;尹超;周伟;周章菊 - 龙迅半导体(合肥)股份有限公司
  • 2016-12-29 - 2017-05-31 - H04N7/10
  • 本申请提供一种数据传输方法、HDMI信号的单网线延长器,在发送器上增加环出接口和存储器,环出接口用于连接显示器,当控制器检测到触发信号,且环出接口与显示器连接时,控制器或主芯片读取连接在环出接口的显示器的EDID信息,并存储在存储器中,再将EDID信息写入到主芯片内,以供源端设备读取EDID信息。也即本发明通过环出接口实现了源端设备实时获取后端显示器对应的EDID信息,当每次更换显示器时,均可以先经过环出接口读取显示器对应的EDID信息,并存储,通过控制器写入到主芯片中,在后续源端设备需要读取时,直接从主芯片中获取显示器对应的EDID信息,从而提高了显示器和源端设备的兼容性。
  • 一种数据传输方法hdmi信号网线延长

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