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- [发明专利]深度成像系统-CN202210402172.6在审
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汪远;孙腾骞
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南京微纳科技研究院有限公司
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2022-04-18
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2023-10-27
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G02B21/02
- 本发明涉及光学显微成像技术领域，尤其涉及一种深度成像系统。本公开实施例提供的深度成像系统，包括第一物镜、光束调整组件、分光元件、第一成像装置、第二物镜以及位于第二物镜后方的反射元件、第二成像装置。本公开提供的深度成像系统将第一物镜的倍率设置为低于第二物镜的倍率，第一物镜低倍率的设置，使其可以收集到较多的信息，也即便于第二成像装置收集到深度较大的信息，同时为了使第二物镜可以满足收集垂直面或倾斜面的信息，同时设置为了光束调整组件用于缩小第一成像光束的直径以得到第二成像光束，进而便于第二物镜可以全部接收到第二成像光束，使得第二成像装置收集到深度较大的信息。
- 深度成像系统
- [发明专利]图像采集装置及采集方法-CN202210264475.6在审
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汪远;吴禹;周学通;张博
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南京微纳科技研究院有限公司
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2022-03-17
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2023-09-22
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G01N21/84
- 本发明实施例属于图像采集设备技术领域，具体涉及一种图像采集装置及采集方法。本发明实施例旨在解决相关技术中的采集装置对产品图像的采集数据信息不完整的问题。本发明实施例的图像采集装置包括成像系统、样品台、第一底座以及导轨，样品台设置在第一底座的顶部，且样品台与第一底座可转动的连接；导轨的延伸方向与水平面平行，第一底座与导轨可滑动的连接，导轨用于固定在光学平台上。通过上述设置，在使用图像采集装置时，将样品放置在样品台上，并使样品台相对于第一底座转动，同时第一底座沿导轨滑动，在这个过程中，成像系统对样品进行拍照，以获取样品在多个不同角度下的图像信息，使所采集到的图像数据信息更加完整，不易缺失图像信息。
- 图像采集装置方法
- [发明专利]图像采集装置及采集方法-CN202210265991.0在审
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汪远;吴禹;周学通;张博
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南京微纳科技研究院有限公司
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2022-03-17
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2023-09-22
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G01N21/84
- 本发明实施例属于图像采集设备技术领域，具体涉及一种图像采集装置及采集方法。本发明实施例旨在解决采集装置所采集到的产品的图像数据信息不完整的问题。本发明实施例的图像采集装置，包括：样品台、成像系统以及支架，样品台以自身轴线为中心旋转；成像系统可滑动的连接在支架上，成像系统采集样品的图像信息。在使用图像采集装置时，将样品放置在样品台上，并使样品台以自身轴线为中心转动，样品随着样品台的转动而转动。同时控制成像系统相对于支架滑动，样品台的转动与成像系统的滑动相配合，以获取样品在多个不同角度下的图像信息，使所采集到的图像数据信息更加完整，不易缺失图像信息。
- 图像采集装置方法
- [发明专利]切割固定装置-CN202210240789.2在审
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汪远;吴禹;王球;王磊
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南京微纳科技研究院有限公司
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2022-03-10
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2023-09-19
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B26F3/00
- 本申请提供一种切割固定装置，涉及切割技术领域，用于解决晶圆等半导体在切割过程中存在工序多，生成周期长，成本高，且在切割后收集工艺中易损伤的问题，该切割固定装置包括固定装置本体，固定装置本体具有用于固定待切割件的固定面，固定面上具有避让口，固定装置本体上具有与避让口连通的收容腔，待切割件的至少部分位于避让口上，以使切割后获得的产品经避让口收容于收容腔内。本申请能够减少晶圆等半导体的切割工序，缩短生产周期，降低生产成本，避免切割后获得的产品在收集过程中易损伤的问题。
- 切割固定装置
- [实用新型]光波导器件-CN202320159202.5有效
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汪远;吴禹;陈敏
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南京微纳科技研究院有限公司
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2023-02-08
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2023-08-08
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G02B6/26
- 本申请提供一种光波导器件，包括传输部和反应部；传输部包括传输段以及位于传输段相对两端的入光面和传输出光面，反应部设置于传输出光面的远离传输段的一侧；反应部上开设有反应槽，反应槽中填充反应件，反应槽的至少部分槽壁面为传输出光面；激发光经由入光面进入传输段，并自传输出光面进入反应槽中，位于反应槽中的激发光与反应件反应，反应后的激发光自反应部发射至外部。本申请通过在反应部上开设反应槽，并在反应槽中填充反应件，有效加大填充空间，进而增大反应件的填充面积，使得激发光与反应件反应结合的量更多，提高了反应件的利用率，从而在最大程度上提升激发光与反应件的反应效率。
- 波导器件
- [实用新型]滤光阵列校准装置及光谱仪校准装置-CN202320061198.9有效
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陆嘉文;杨德良;马骞
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南京微纳科技研究院有限公司
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2023-01-09
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2023-06-13
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G01J3/02
- 本申请提供一种滤光阵列校准装置及光谱仪校准装置，滤光阵列校准装置包括光源输出组件、光学分束组件、第一光强测试组件、第二光强测试组件和控制处理终端，光学分束组件分出的多束光包括第一入射光和第二入射光，第一光强测试组件获取第一入射光的光功率或拍摄获取第一入射光图像以及拍摄第一入射光图像时的第一曝光时间，并反馈至控制处理终端，第二光强测试组件获取的第二入射光图像以及拍摄获取第二入射光图像时的第二曝光时间，并反馈至控制处理终端，控制处理终端利用获取的信息拟合得到待校准滤光阵列的透射率函数。该滤光阵列校准装置解决了阵列型光谱仪中滤光阵列的实际透射率函数与理论值之间存在较大误差的问题。
- 滤光阵列校准装置光谱仪
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