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[发明专利]一种集成电路老化试验方法、装置及可读存储介质-CN202310095787.3有效
发明人：马维超;易峰;刘律辑 -专利权人：湖南进芯电子科技有限公司
申请日： 2023-02-10 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G01R31/3167 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成电路老化试验方法、装置及可读存储介质，方法包括：响应于激励信号发送指令从老化向量存储模块中读取预先写入的目标数字激励数据发送至目标老化板；获取数据发送结束信号；根据数据发送结束信号生成第一模式切换信号发送至目标老化板，使得目标老化板从DFT测试模式切换至功能模式；切换完成后生成目标模拟激励数据发送至目标老化板，使得目标老化板在功能模式下根据目标数字激励数据和目标模拟激励数据进行老化试验；接收反馈的老化试验结果数据。本发明实施例的集成电路老化试验方法能够实现DFT测试模式和功能模式两种场景的分时激励，既保证DFT方式的可控、全面覆盖，又保留功能老化方式贴近真实场景的优势。
一种集成电路老化试验方法装置可读存储介质

[发明专利]一种DSP多路供电电压控制方法、系统及装置-CN202210357685.X在审
发明人：陈贵;刘律辑;陈毅勇 -专利权人：湖南进芯电子科技有限公司
申请日： 2022-04-11 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：一种DSP多路供电电压控制方法、系统及装置，DSP多路供电电压控制方法包括以下步骤：获取待检测ADC通道采集的采样信号；确定采样信号的输出状态，其中，输出状态包括正常状态和非正常状态，正常状态用于表征采样信号在基准电压阈值范围内，非正常状态用于表征采样信号不在基准电压阈值范围内，基准电压阈值范围为待检测ADC通道对应的判断阈值范围；根据输出状态选择对待测电源IC的控制策略，控制策略包括使能策略和不使能策略，待测电源IC为下一个待检测ADC通道对应的电源IC，可以实现独立监控和控制N个电源IC，解决了无法确定电源模块的故障点，修复效率低，安全性低，容易导致损坏DSP的问题。
一种 dsp 供电电压控制方法系统装置

[发明专利]一种ADC误差修调方法、系统及误差修调装置-CN202210274579.5在审
发明人：蔡尹;黄嵩人;易峰;刘律辑 -专利权人：湖南进芯电子科技有限公司
申请日： 2022-03-17 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： H03M1/10 文献下载
摘要：一种ADC误差修调方法、系统及误差修调装置，ADC误差修调方法，包括以下步骤：获取修调数据，修调数据包括M个不同的预选修调参数组，每个预选修调参数组皆包括增益误差修调值和偏移误差修调值；依次基于M个预选修调参数组对N个电压点的采样结果进行修调，以得到M组修调结果；基于M组修调结果一一对应计算M个误差参数组；根据ADC理想传输函数和M个误差参数组，从M个不同的预选修调参数组中确定修调终值参数组，修调终值参数组包括增益修调终值和偏移修调终值；根据修调终值参数组对ADC增益误差和偏移误差进行修调。通过上述ADC误差修调方法解决了ADC传输特性曲线的增益误差和偏移误差的修调精确度低的问题。
一种 adc 误差方法系统装置

[发明专利]基于温度传感器的片内振荡器实时温度补偿修调方法-CN202111217155.7在审
发明人：胡慧娟;易峰;刘律辑;陈毅勇 -专利权人：湖南进芯电子科技有限公司
申请日： 2021-10-19 - 公布日： 2022-01-14 - 主分类号： G06F11/30 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于温度传感器的片内振荡器实时温度补偿修调方法，包括：步骤1，芯片出厂前设定芯片的片内振荡器的期望输出值并存储至芯片的内存空间；步骤2，通过芯片的捕获模块对芯片的片内振荡器的实际输出值进行捕获，得到片内振荡器的实际输出值并存储至芯片的内存空间，通过CPU对内存空间存储的片内振荡器的期望输出值和片内振荡器的实际输出值进行读取，芯片的运算模块根据CPU读取的片内振荡器的期望输出值和片内振荡器的实际输出值对片内振荡器进行出厂前修调。本发明使片内振荡器在各种温度下都能得到稳定的输出，提高了片内振荡器的可利用性和稳定性，使片内振荡器能够更好地应用到更多的场景中，降低了成本。
基于温度传感器振荡器实时温度补偿方法

[发明专利]用于DSP芯片电路可靠性的自动上下电测试系统及方法-CN202111241894.X在审
发明人：范松;马维超;易峰;刘律辑 -专利权人：湖南进芯电子科技有限公司
申请日： 2021-10-25 - 公布日： 2021-12-31 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于DSP芯片电路可靠性的自动上下电测试系统及方法，包括：步骤1，在PC上设定上下电测试条件，其中，上下电测试信息包括电源域数量、各电源域电压、额定电流、各DSP芯片的上下电顺序和上下电测试次数；步骤2，PC通过RS232接口给可编程电源发送控制信号，可编程电源根据控制信号分别给HTOL底板的各个通道提供电压。本发明通过PC可以对测试系统上下电测试次数、上电成功次数和上电失败次数等进行监测，通用性强，对于不同电源域，不同上电顺序的DSP芯片，只需在PC上修改上下电测试条件，节约成本，可以在常温、低温和高温检测测试系统是否存在异常情况。
用于 dsp 芯片电路可靠性自动上下测试系统方法

[发明专利]基于JTAG的便携式DSP烧录器及烧录方法-CN202111063465.8在审
发明人：陈毅勇;易峰;刘律辑;胡慧娟 -专利权人：湖南进芯电子科技有限公司
申请日： 2021-09-10 - 公布日： 2021-12-10 - 主分类号： G06F8/61 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于JTAG的便携式DSP烧录器及烧录方法，包括：主控模块；电源模块，所述电源模块的第一端与所述主控模块的第一端电连接；USB模块，所述USB模块的第一端与所述电源模块的第二端电连接；转换模块，所述转换模块的第一端与所述主控模块的第二端电连接，所述转换模块的第二端与所述电源模块的第三端电连接，所述转换模块的第三端与所述USB模块的第二端电连接。本发明支持多个程序烧录，支持多次更改程序内容，支持同一程序不同版本的烧录，支持工程师定义程序，体积小，重量轻，便于携带，不需要额外供电，不需要额外存储，可存储多个程序，烧录时可灵活选择烧录程序。
基于 jtag 便携式 dsp 烧录器方法