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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]一种用于存储器的数据处理方法-CN202310071699.X在审
发明人：黄鹏;丁晓兵;朱少华;冯潮斌;徐仕超;田红娜;刘道宁 -专利权人：上海芯旺微电子技术股份有限公司
申请日： 2023-01-13 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G06F30/327 文献下载
摘要：本发明涉及集成电路的技术领域，公开了一种用于存储器的数据处理方法，包括获取SET/CLR指令；识别SET/CLR指令的操作要求及对应的操作数内容；根据识别出的操作数内容获取通用寄存器/特殊功能寄存器/存储器的值，再根据识别出的SET/CLR指令的操作要求对获取的值的对应的位进行修改，最后将修改后的值回写到目标空间中。仅使用一条SET/CLR指令，就可以直接指定需要修改的地址和位，硬件自动完成读改写操作，提高执行效率。
一种用于存储器数据处理方法

[发明专利]一种长短指令集取指和译码方法及系统-CN202310024991.6在审
发明人：黄鹏;丁晓兵;朱少华;冯潮斌;刘道宁;穆晓如 -专利权人：上海芯旺微电子技术股份有限公司
申请日： 2023-01-09 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G06F9/30 文献下载
摘要：本发明公开了一种长短指令集取指和译码方法及系统，属于计算系统中的指令集编解码技术领域。该取指和译码方法包括：取指固定长度的输入指令；判断所述输入指令是否为短指令或当前接收的长指令是否已经完整，若是则完成译码，并根据译码结果执行指令；否则进行部分译码，并继续取指。本发明提供的一种允许长短指令集的系统架构实现方式，可任意扩展到不同流水的长短指令集处理系统架构中，可支持统一指令长度和不统一指令长度的长短指令集，实现灵活应用。
一种长短指令集取指译码方法系统

[发明专利]一种移位饱和同步处理的方法及其应用-CN202011084127.8有效
发明人：黄鹏;丁晓兵;朱少华;冯潮斌 -专利权人：上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2020-10-12 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G06F5/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种移位饱和同步处理的方法及其应用，步骤如下：产生移位MASK，移位后溢出位的选择信号产生，将移位溢出对应的位标记为1，其他位置标记为0；使用选择信号选择待移位的数据，如选择信号中某一位的MASK为1，则选取待移位的数据中的对应结果，反之则输出待移位数据的最高位；检测以上所得所有结果和待移位的数据的最高位，如待移位的数据的最高位为0时以上所得所有结果全为0，或者待移位的数据的最高位为1时以上所得所有结果全为1，则移位无溢出，反之则移位溢出。本发明的方法，逻辑清晰，步序简单，实现了移位与饱和判断的同步进行，提高了移位运行效率，极具应用前景。
一种移位饱和同步处理方法及其应用

[发明专利]一种移位饱和处理方法及其应用-CN202011084145.6有效
发明人：黄鹏;丁晓兵;朱少华;冯潮斌 -专利权人：上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2020-10-12 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G06F5/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种移位饱和处理方法及其应用，步骤为：对待移位数据的每一位和其最高位进行同或运算，筛选出待移位数据中所有与最高位相同的位并将对应位置标记为1，其他位置标记为0，同时，产生移位MASK，产生移位后溢出位的选择信号，将移位溢出对应的位标记为1，其他位置标记为0；使用选择信号选择饱和判断预处理后得到的数据，如MASK为1，则选取饱和判断预处理后得到的数据中的对应结果，反之则强制输出1；检测所得所有结果是否全为1，如是则移位无溢出，反之则移位溢出即需饱和处理。本发明的方法，逻辑清晰，步序简单，实现了移位与饱和判断的同步进行，提高了移位运行效率，极具应用前景。
一种移位饱和处理方法及其应用

[发明专利]一种用于乘法器零标志位的产生电路、乘法器和检测方法-CN202011097310.1有效
发明人：黄鹏;丁晓兵;朱少华;冯潮斌 -专利权人：上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2020-10-14 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G06F7/523 文献下载
摘要：本发明涉及集成电路的技术领域，公开了一种用于乘法器零标志位的产生电路，用于要求乘法运算结果与乘数、被乘数位数相同的乘法器应用，包括低位零检测模块、按位与模块和结果判定模块，所述低位零检测模块用于发现第一个输入值中从低位向高位第一个出现数值1的位，并将所述位至最高位全部用1替换；所述按位与模块用于将替换后的第一个输入值按位反序，再将反序后的第一输入值与第二输入值做按位与的逻辑运算；所述结果判定模块用于判定逻辑与运算后的结果是否全部为零，若全部为零，则零标志位输出为1，否则输出为0。本发明的电路结构紧凑，控制方便，便于普及和推广。
一种用于乘法器标志产生电路检测方法

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