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[发明专利]一种免片外晶振的高精度低温漂驰张振荡器及校准方法-CN202211193126.6在审
发明人：张子三;丁晓兵;丰思远;冯旭;王剑 -专利权人： 上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2022-09-28 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G05F1/567 文献下载
摘要：本发明涉及一种免片外晶振的高精度低温漂驰张振荡器及校准方法，属于振荡器技术领域。其特征在于包括零温漂电流源、可调参考电压、比较器、锁存器、PVT检测电路、温漂校准电路；其中零温漂电流源由带隙基准电压与零温漂电阻组合产生的电流再经过一个以上的高精度电流镜对工艺角的偏差进行粗调整后产生，将零温漂电流源的电压和可调参考电压依次经过PVT检测电路和温漂校准电路后一同接比较器进行比较，再输出到锁存器以产生震荡频率，最后通过带隙基准电压与高精度电阻分压网络产生的电流对频率进行精调整得到高精度低温漂时钟频率。本发明通过对振荡器粗调和精调，并通过在线进一步校正，提供了可替代片外石英晶振的高精度低温漂时钟频率。
一种免片外晶振高精度低温漂驰张振荡器校准方法

[发明专利]一种适用于无线MCU的高性能锁相环及其频率的校正方法-CN202111148181.9有效
发明人：张子三;丁晓兵;丰思远;孙双豪;李春林 -专利权人： 上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2021-09-29 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： H03L7/085 文献下载
摘要：本发明涉及一种适用于无线MCU的高性能锁相环及其频率的校正方法，属于振荡器技术领域。其特征在于：包括鉴频鉴相器、电荷泵、环路滤波器、压控/数控振荡器、分频器、LDO、SPVT检测电路、寄存器；其中鉴频鉴相器、电荷泵、环路滤波器、压控/数控振荡器、分频器、鉴频鉴相器依次连接，LDO分为数字LDO和低噪声高电源抑制比LDO，低噪声高电源抑制比LDO与压控/数控振荡器连接，数字LDO与其他部件连接，SPVT检测电路与寄存器连接，用于锁相环第一次使用前、每次上电时及正常使用时的校正，以得到低相位噪声高精度时钟频率。本发明降低了锁相环锁定的难度、缩短了锁相环锁定时间、尤其适用于无线MCU。
一种适用于无线 mcu 性能锁相环及其频率校正方法

[实用新型]一种芯片上下电测试的自动监控装置-CN202122714892.X有效
发明人：万荣;李肖迪;张茂林;姚哲理 -专利权人： 上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2021-11-08 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种芯片上下电测试的自动监控装置，属于集成电路技术领域。其特征在于：包括外壳、电源模块、主控模块、显示模块、负载接口和控制按键；其中电源模块和主控模块安装在外壳内，显示模块、负载接口和控制按键安装在外壳表面，电源模块、显示模块、负载接口和控制按键均与主控模块连接，主控模块控制电压模块为负载接口的供电进行通断控制，主控模块记录并通过显示模块显示负载模块的状态、上下电状态、上电后正常运行次数和时间、异常提醒。本实用新型通过控制通断与负载检测相结合，判断负载端运行状态是否正常，并记录上电后正常运行次数与异常数据，便于对芯片的批量自动测试，节省人力并降低成本。
一种芯片上下测试自动监控装置

[实用新型]一种快速检测微处理器IO漏电的装置-CN202220097045.5有效
发明人：张茂林;杨校;万荣;李肖迪 -专利权人： 上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2022-01-14 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G01R31/52 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种快速检测微处理器IO漏电的装置，属于集成电路技术领域。包括外壳、接触探针、电源接口、比较电路和指示单元；其中接触探针安装在外壳的一端，指示单元和电源接口安装在外壳表面，电源接口比较电路安装在外壳中，比较电路分别与电源接口、指示单元和接触探针连接。本实用新型通过一个便携装置能在微处理器出厂前和使用中对其IO漏电情况进行快速检测，并通过切换开关能同时检测N管漏电和P管漏电。
一种快速检测微处理器 io 漏电装置

[发明专利]一种动态测试数据的收集和处理方法及系统-CN202210098677.8在审
发明人：叶玲玲;郜建政 -专利权人： 上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2022-01-24 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G06F16/2458 文献下载
摘要：本发明公开了一种动态测试数据的收集和处理方法及系统，属于集成电路芯片数据处理技术领域。本技术方案包括如下步骤：获取至少一个测试设备的基本信息，包括芯片测试的数据类型、数据长度、数据内容以及当前芯片是否NG；所述基本信息按照特定格式组合，并增加帧头信息、校验及帧尾信息，生成测试通信协议帧；所述上位机读取并解析所述测试通信协议帧，完成对所述测试设备信息的查阅、收集及分析；接收量产芯片的测试数据，存储在后台数据库中。本发明能够同时完成对不同的通信数据格式的数据的查阅、收集及分析，实现集成电路行业对芯片质量要求的一致性与结果追踪，并能实现NG分类统计分析，其灵活性强，使用便捷性好，极具应用前景。
一种动态测试数据收集处理方法系统

[发明专利]一种免片外晶振的高精度低温漂驰张振荡器及校准方法-CN202111148225.8在审
发明人：张子三;丁晓兵;丰思远;冯旭;王剑 -专利权人： 上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2021-09-29 - 公布日： 2021-12-31 - 主分类号： G05F1/567 文献下载
摘要：本发明涉及一种免片外晶振的高精度低温漂驰张振荡器及校准方法，属于振荡器技术领域。其特征在于：包括开关电流源、可调参考电压、比较器、锁存器、PVT检测电路、温漂校准电路；其中开关电流源由带隙基准电压与零温漂电阻产生的电流再经过至少一个的电流镜进行工艺角调整后产生，将开关电流源生成的电压和可调参考电压依次经过PVT检测电路和温漂校准电路后一同接比较器进行比较，再输出到锁存器以产生高精度低温漂时钟频率。本发明通过对振荡器粗调和精调脱耦的方法，避免了因为小电流镜引起的适配和片间不一致性，并通过片内温度传感器在线进一步校正驰张振荡器的输出频率，提供了可替代片外石英晶振的高精度低温漂时钟。
一种免片外晶振高精度低温漂驰张振荡器校准方法

[发明专利]一种采用MCU对物联网通讯协议进行快速切换的方法-CN202110954908.6在审
发明人：张子三;丁晓兵;孙双豪 -专利权人： 上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2021-08-19 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： H04L29/06 文献下载
摘要：本发明涉及一种采用MCU对物联网通讯协议进行快速切换的方法，属于物联网通讯技术领域。采用包括处理器、一组收发模块、调频模块、调制解调模块、储存模块和传输端口的MCU，在接收数据时MCU的收发模块检测到无线信号，唤醒处理器；处理器读取并识别通讯频率和协议，通过调频模块调整动态调整收发模块到对应频率和带宽，开始接收数据；处理器通过调制解调模块对数据进行调制解调；处理器动态调用存储模块中的不同通讯协议栈，通过传输端口将数据传输给物联网中其他对象；在发送数据时反向操作。本发明采用一个可灵活配置通讯协议的无线MCU取代多个无线接收发机，构建超低功耗的多核MCU，降低了物联网无线接收发机的面积和成本。
一种采用 mcu 联网通讯协议进行快速切换方法

[发明专利]一种MCU处理系统-CN201610837925.0有效
发明人：丁晓兵;朱少华;成学斌 -专利权人： 上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2016-09-21 - 公布日： 2021-09-07 - 主分类号： G06F9/22 文献下载
摘要：本发明提供一种MCU处理系统，包括：数据存储器、ALU运算单元、数据选择器及地址选择器；所述地址选择器连接至所述数据存储器，所述数据存储器通过数据总线连接至所述数据选择器；所述数据选择器与所述ALU运算单元的输入端相连接。所述MCU处理系统的效率更高。
一种 mcu 处理系统

[发明专利]一种移位饱和同步处理的方法及其应用-CN202011084127.8有效
发明人：黄鹏;丁晓兵;朱少华;冯潮斌 -专利权人： 上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2020-10-12 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G06F5/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种移位饱和同步处理的方法及其应用，步骤如下：产生移位MASK，移位后溢出位的选择信号产生，将移位溢出对应的位标记为1，其他位置标记为0；使用选择信号选择待移位的数据，如选择信号中某一位的MASK为1，则选取待移位的数据中的对应结果，反之则输出待移位数据的最高位；检测以上所得所有结果和待移位的数据的最高位，如待移位的数据的最高位为0时以上所得所有结果全为0，或者待移位的数据的最高位为1时以上所得所有结果全为1，则移位无溢出，反之则移位溢出。本发明的方法，逻辑清晰，步序简单，实现了移位与饱和判断的同步进行，提高了移位运行效率，极具应用前景。
一种移位饱和同步处理方法及其应用

[发明专利]一种移位饱和处理方法及其应用-CN202011084145.6有效
发明人：黄鹏;丁晓兵;朱少华;冯潮斌 -专利权人： 上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2020-10-12 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G06F5/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种移位饱和处理方法及其应用，步骤为：对待移位数据的每一位和其最高位进行同或运算，筛选出待移位数据中所有与最高位相同的位并将对应位置标记为1，其他位置标记为0，同时，产生移位MASK，产生移位后溢出位的选择信号，将移位溢出对应的位标记为1，其他位置标记为0；使用选择信号选择饱和判断预处理后得到的数据，如MASK为1，则选取饱和判断预处理后得到的数据中的对应结果，反之则强制输出1；检测所得所有结果是否全为1，如是则移位无溢出，反之则移位溢出即需饱和处理。本发明的方法，逻辑清晰，步序简单，实现了移位与饱和判断的同步进行，提高了移位运行效率，极具应用前景。
一种移位饱和处理方法及其应用

[发明专利]一种用于乘法器零标志位的产生电路、乘法器和检测方法-CN202011097310.1有效
发明人：黄鹏;丁晓兵;朱少华;冯潮斌 -专利权人： 上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2020-10-14 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G06F7/523 文献下载
摘要：本发明涉及集成电路的技术领域，公开了一种用于乘法器零标志位的产生电路，用于要求乘法运算结果与乘数、被乘数位数相同的乘法器应用，包括低位零检测模块、按位与模块和结果判定模块，所述低位零检测模块用于发现第一个输入值中从低位向高位第一个出现数值1的位，并将所述位至最高位全部用1替换；所述按位与模块用于将替换后的第一个输入值按位反序，再将反序后的第一输入值与第二输入值做按位与的逻辑运算；所述结果判定模块用于判定逻辑与运算后的结果是否全部为零，若全部为零，则零标志位输出为1，否则输出为0。本发明的电路结构紧凑，控制方便，便于普及和推广。
一种用于乘法器标志产生电路检测方法

[发明专利]一种用于MCU的低温漂低压检测电路-CN201910797373.9有效
发明人：冯旭;常成星;丁晓兵;胡锦通;黄鹏 -专利权人： 上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2019-08-27 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G01R19/165 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于MCU的低温漂低压检测电路，属于集成电路技术领域。特征在于：包括一个正温度系数电阻、一个负温度系数的电阻、一个MOS管、一个比较器；其中正温度系数电阻的一端连接供电电压，另一端连接负温度系数电阻的一端和比较器的正输入端，向比较器的正输入端输出分压，负温度系数电阻的另一端接地；供电电压经过MOS管偏置，由MOS管向比较器的负输入端输出一个带负温度系数的电压，作为参考电压，通过调整参考电压的负温度系数和分压的负温度系数达到相等，使比较器输出零温漂的低电压检测电压，用于确保MCU的电压在低于低电压检测电压时可靠复位。本发明能生成零温漂的低电压检测电压，并能降低整个MCU的静态功耗。
一种用于 mcu 低温低压检测电路

[发明专利]一种低温漂振荡器及获得低温漂时钟频率的方法-CN201810073516.7有效
发明人：冯旭;丁晓斌;常成星;成学斌;朱少华;孙双豪 -专利权人： 上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2018-01-25 - 公布日： 2021-04-09 - 主分类号： H03K3/011 文献下载
摘要：本发明涉及一种低温漂振荡器，属于振荡器技术领域。一种低温漂振荡器及获得低温漂时钟频率的方法，其特征在于：包括正温度系数电流产生电路、负温度系数电流产生电路、电流混合转化电路和电容整形电路，正温度系数电流产生电路通过电流镜产生一个正温度系数主支路和一个正温度电流校准支路，负温度系数电流产生电路通过电流镜产生一个负温度系数主支路和一个负温度电流校准支路；通过电流混合转化电路混合后获得零温度系数电流，零温度系数电流按需要调整大小后对电容整形电路中的恒定电容进行充放电整形后获得不同的低温漂时钟频率。本发明利用电流的正温曲线和负温曲线来校正振荡器的温漂，比用其它形式的电路控制温漂的精度更高，更容易调节。
一种低温振荡器获得时钟频率方法

[实用新型]一种低功耗低温漂的预复位电路-CN202021300302.8有效
发明人：冯旭;丁晓兵;成学斌;丁丁 -专利权人： 上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2020-07-06 - 公布日： 2021-04-09 - 主分类号： H03K17/22 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种低功耗低温漂的预复位电路，属于集成电路技术领域。特征在于：包括一个电阻R1、三个MOS管M1、M2、M3和一个整形输出电路；其中电阻R1为低温漂电阻，MOS管M1和电阻R1串联后两端分别接供电电压VDD和地，电阻R1和MOS管M1的连接点输出分压V1；MOS管M2和M3的栅极互相连接并与电阻R1和MOS管M1的连接点相连，MOS管M2和M3的源极分别接供电电压VDD和地，MOS管M2和M3的漏极互相连接并与整形输出电路的输入端相连，向其输入反向电压V2，整形电路的输出端输出预复位信号。本实用新型提供的预复位电压不受上电速度的影响，并同时具备上电复位和掉电复位双重功能。
一种功耗低温复位电路

[发明专利]一种用于MCU的微功耗低电压检测电路-CN201910651953.7有效
发明人：丁晓兵;常成星;冯旭;胡锦通;朱少华 -专利权人： 上海芯旺微电子技术有限公司
申请日： 2019-07-18 - 公布日： 2020-10-30 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本发明涉及检测电路的技术领域，公开了一种用于MCU的微功耗低电压检测电路，用于MCU上电和掉电过程中的低电压检测，包括镜像电流模块，其输入端与MCU供电电压相连，输出端与比较模块的输入端、镇流电阻的一端相连，比较模块的输入端还与镇流电阻的一端相连，输出端与负载的一端、整形模块相连，镇流电阻、负载的另一端接地，镜像电流模块用于产生随MCU供电电压的变化而变化的一对镜像电流，其分别流过比较模块和镇流电阻；比较模块用于根据镇流电阻上的电压和镜像电流模块上的电压变化，进行翻转输出；整形模块用于对比较模块的翻转输出进行整形，输出对应的高电平和低电平。本发明的电路结构紧凑，控制方便，便于普及和推广。
一种用于 mcu 功耗电压检测电路

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