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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]发光二极管-CN201911071816.2有效
发明人：蔡钟炫;俆大雄;金彰渊;孙成寿 -专利权人：首尔伟傲世有限公司
申请日： 2015-08-28 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： H01L33/44 文献下载
摘要：公开了一种发光二极管，其包括：基底；发光结构，位于基底上，并包括第一导电型半导体层及台面，台面在第一导电型半导体层下部彼此相隔地布置且分别包括有源层及第二导电型半导体层；反射电极层，位于台面上，并与第二导电型半导体层欧姆接触，第一绝缘层，覆盖台面及第二导电型半导体层，并包括位于台面上的区域内并使反射电极层的一部分暴露的第一开放区域；电极层，位于基底和发光结构之间；基底包括：至少两个体电极，与发光结构电连接；模具，布置于体电极之间而围绕体电极，体电极在彼此相向的面分别包括互相咬合的凹部及凸部，凸部包括宽度沿着突出方向变化的区间。
发光二极管

[发明专利]光检测封装及其检测方法-CN201710469957.4有效
发明人：朴起延;金华睦;孙暎丸;俆大雄 -专利权人：首尔伟傲世有限公司
申请日： 2013-12-24 - 公布日： 2020-06-12 - 主分类号： H01L31/0203 文献下载
摘要：提供了一种光检测封装及其检测方法。该光检测封装包括：封装主体，在其中形成有向上开口的凹槽单元；光检测设备，安装在凹槽单元的底部表面上且与外部电连接；至少一个发光二极管，安装于在底部表面的周边上具有倾斜表面的凹槽单元的内表面上且与外部电连接，其中，封装主体用于支撑光检测设备和所述至少一个发光二极管，其中，凹槽单元的底部表面具有平坦的表面。
检测封装及其方法

[发明专利]发光装置-CN201580038935.1有效
发明人：蔡钟炫;俆大雄;金彰渊;孙成寿 -专利权人：首尔伟傲世有限公司
申请日： 2015-08-28 - 公布日： 2019-12-03 - 主分类号： H01L33/38 文献下载
摘要：这里公开了一种通过将晶片级的生长衬底分离而制造的发光装置。该发光装置包括：基底；设置在基底上的发光结构；以及设置在基底与发光结构之间的多个第二接触电极，其中基底包括电连接至发光结构的至少两个体电极以及设置在体电极之间并且包围体电极的绝缘支撑件，该绝缘支撑件和体电极分别包括在面向彼此的表面上接合的凹部和凸部，且该凸部包括其中其宽度在突出方向上改变的部分。
发光装置

[发明专利]光检测封装和包括该光检测封装的便携设备-CN201610865039.9有效
发明人：朴起延;金华睦;孙暎丸;俆大雄 -专利权人：首尔伟傲世有限公司
申请日： 2013-12-24 - 公布日： 2019-04-16 - 主分类号： H01L23/488 文献下载
摘要：本发明的示例性实施例涉及一种光检测封装和包括该光检测封装的便携设备。该光检测封装包括：封装主体，其配置成具有形成于封装主体中的向上开口的凹槽单元；安装在凹槽单元的底部表面上且与外部电连接的光检测设备；以及安装于凹槽单元的由底部表面周边上的倾斜表面形成的内表面上且与外部电连接的发光二极管(LED)。
检测封装包括便携设备

[发明专利]发光二极管及制造该发光二极管的方法-CN201610702797.9有效
发明人：蔡钟炫;张钟敏;卢元英;俆大雄;赵大成;李俊燮;李圭浩;印致贤 -专利权人：首尔伟傲世有限公司
申请日： 2012-09-14 - 公布日： 2019-02-15 - 主分类号： H01L33/20 文献下载
摘要：本发明公开发光二极管及制造该发光二极管的方法。该发光二极管包含：第一导电型半导体层；多个台面，在所述第一导电型半导体层上相隔而布置，且分别包含活性层及第二导电型半导体层；反射电极，位于各个所述多个台面上，且欧姆连接于第二导电型半导体层；电流分散层，覆盖所述多个台面及所述第一导电型半导体层，且与所述台面电绝缘，且在各个所述台面的上部区域内包含暴露所述反射电极的第一开口部，并欧姆接触于所述第一导电型半导体层。据此，可提供改善了电流分散性能的发光二极管。
发光二极管制造方法

[发明专利]光检测设备、包括该光检测设备的光检测封装、以及包括该光检测封装的便携设备-CN201380068774.1在审
发明人：朴起延;金华睦;孙暎丸;俆大雄 -专利权人：首尔伟傲世有限公司
申请日： 2013-12-24 - 公布日： 2015-10-21 - 主分类号： H01L31/101 文献下载
摘要：本发明的示例性实施例涉及一种光检测设备，其包括：衬底；设于衬底上的第一光吸收层；设在第一光吸收层上的第一区域中的第二光吸收层；设在第二光吸收层上的第二区域中的第三光吸收层；以及设在第一、第二和第三光吸收层中的每一个上的第一电极层。
检测设备包括封装以及便携

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