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[发明专利]一种芯片低功耗验证方法-CN202110244312.7有效
发明人：文进;霍静;秦韦俊;熊科宇;何晨瑶;孙伟;梁伯植 -专利权人：西安石油大学
申请日： 2021-03-04 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G06F30/3308 文献下载
摘要：本发明提供一种芯片低功耗验证方法，包括：模拟芯片初始掉电状态；模拟芯片上电复位；读取boot模式及启动地址，读取CPU指令，按照芯片低功耗场景进行用例配置，CPU配置待机；配置深睡场景的子系统处于掉电状态，唤醒到来后，可以从掉电状态直接恢复到上电状态，唤醒方式需要进行遍历测试；配置浅睡场景的子系统不掉电，处于待机状态，唤醒来临后，从待机状态直接恢复到工作状态。低功耗用例采用SVA断言对掉电上电时序实时监测，减少验证的人工检查工作量，大大提高工作效率。
一种芯片功耗验证方法

[发明专利]一种基于机器学习的光频梳性能分析方法及系统-CN202111544862.7在审
发明人：文进;秦韦俊;何晨瑶;孙伟;梁伯值;熊科宇 -专利权人：西安石油大学
申请日： 2021-12-16 - 公布日： 2022-03-22 - 主分类号： G06F30/23 文献下载
摘要：一种基于机器学习的光频梳性能分析方法及系统，包括以下步骤：步骤1，通过仿真软件对微环谐振腔平台的波导类型建模仿真，并将仿真的二维数据导出备用；步骤2，在上阶段模拟得到的仿真结果的数据基础上计算高阶色散系数，在色散数据中输入对应的色散值，得到理想的光频梳光谱；步骤3，将上一阶段得到的数据，通过建立神经网络模型训练，对模型预测性能进行评估，实现整个GUI界面的具体分布和排版。本发明专利将硅基微环谐振腔产生光频梳的性能参数利用机器学习的方法进行分析，突破了传统方法的时耗性和局限性。仿真过程耗费更少的时间，整个过程前期只需一次工作量较大的数据完全准备，利用数据并训练好模型后，只需一键便可得到结果，从而大大减少了工作量，提高了工作效率。
一种基于机器学习光频梳性能分析方法系统