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- [发明专利]光测定装置及光测定方法-CN201880087284.9有效
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铃木健吾;江浦茂;井口和也
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浜松光子学株式会社
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2018-10-10
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2023-05-05
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G01N21/64
- 分光测定装置(1)具备：光源(2)，其输出激发光；积分器(3)，其具有供长余辉发光材料(S)配置的内部空间(11)，自内部空间(11)输出检测光；分光检测器(4)，其取得检测光的光谱数据；解析部(21)，其基于光谱数据对长余辉发光材料(S)的发光量子产率进行解析；及控制部(22)，其控制激发光向内部空间(11)的输入的有无的切换及分光检测器(4)中的曝光时间；控制部(22)以在第1期间(T1)维持向内部空间(11)输入激发光且在第2期间(T2)停止向内部空间(11)输入激发光的方式控制光源(2)，并以第2期间(T2)内的曝光时间(t2)长于第1期间(T1)内的曝光时间(t1)的方式控制分光检测器(4)。
- 测定装置方法
- [发明专利]分光测定装置及分光测定方法-CN201980089626.5在审
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井口和也;增冈英树
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浜松光子学株式会社
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2019-12-20
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2021-09-14
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G01J3/36
- 本发明的分光测定装置(1)具备光学系统(10)、光检测器(20)及解析部(30)。光学系统(10)将来自对象物(S)的被测定光朝光检测器(20)的受光面引导，且在光检测器(20)的受光面上形成被测定光的分光像。光检测器(20)具有在多行排列有多个像素的受光面。光检测器(20)通过在受光面上的第1区域的排列于1行或多行的多个像素，而遍及第1曝光时间受光分光像并输出被测定光的第1光谱数据。光检测器(20)通过在受光面上的第2区域的排列于1行或多行的多个像素，而遍及第2曝光时间受光分光像并输出被测定光的第2光谱数据。第2曝光时间比第1曝光时间长。由此，可实现能够使用一个光检测器取得高动态范围的光光谱的分光测定装置及分光测定方法。
- 分光测定装置方法
- [发明专利]光测量装置-CN201780046021.9有效
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铃木健吾;井口和也;田边康行
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浜松光子学株式会社
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2017-05-12
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2021-06-29
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G01N21/64
- 光测量装置(1)是对试样照射激发光而检测测量光的光测量装置。光测量装置(1)具备：积分器(20)，其形成有入射激发光的入射开口(22)、及出射测量光的出射开口(23)，且配置有试样；导光部(30)，其引导自出射开口(23)出射的测量光；及光检测部(40)，其检测由导光部(30)引导的测量光。导光部(30)具有以入射端面(32a)经由出射开口(23)而朝向积分器(20)内的方式配置的多个导光构件(32)。光检测部(40)检测由多个导光构件(32)的至少一个引导的测量光。多个导光构件(32)的入射端面(32a)侧的受光区域在积分器(20)内彼此重叠。
- 测量装置
- [发明专利]分光测定装置及分光测定方法-CN201580065391.8有效
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铃木健吾;井口和也
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浜松光子学株式会社
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2015-11-19
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2021-03-12
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G01N21/64
- 分光测定装置(1)具备光源(10)、积分器(20)、分光检测器(40)及解析部(50)。积分器(20)具有：内部空间(21)，其配置有测定对象物；光输入部(22)，其将光输入到内部空间(21)；光输出部(23)，其自内部空间(21)输出光；试样安装部(24)，其安装测定对象物；及滤波器安装部(25)，其安装滤波器部。滤波器部具有相对于激发光的衰减率大于相对于上转换光的衰减率的透过光谱，且使自光输出部(23)输出的光衰减。解析部(50)基于通过分光检测器(40)取得的分光光谱数据及透过光谱数据而解析测定对象物的发光效率。由此，实现了可容易地测定上转换光发生效率的分光测定装置及分光测定方法。
- 分光测定装置方法
- [发明专利]光测定装置及光测定方法-CN201880087229.X在审
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铃木健吾;江浦茂;井口和也
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浜松光子学株式会社
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2018-10-10
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2020-09-04
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G01N21/64
- 分光测定装置(1)中，控制部(22)以在第1期间(T1)维持向内部空间(11)输入激发光且在第2期间(T2)停止向内部空间(11)输入激发光的方式控制光源(2)，解析部(21)基于长余辉发光材料(S)的吸收光子数及长余辉发光材料(S)的发光光子数算出长余辉发光材料(S)的发光量子产率，上述长余辉发光材料(S)的吸收光子数基于第1期间(T1)中的激发光光谱数据而求出，上述长余辉发光材料(S)的发光光子数基于第1期间(T1)、第2期间(T2)、及第1期间与第2期间的合计期间(T1+2)的任一期间中的发光光谱数据而求出。
- 测定装置方法
- [发明专利]光谱测定装置-CN201310211688.3有效
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井口和也;铃木健吾
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浜松光子学株式会社
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2009-09-24
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2013-09-25
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G01N21/25
- 本发明提供一种光谱测定装置，具备将测定对象的试料（S）配置在内部而观测从试料（S）产生的被测定光的积分球（20），以及用于保持对试料（S）进行冷却的冷媒（R），并且以至少一部分面对所述积分球（20）内的方式定位的杜瓦瓶（50）。通过起到气体导入通路作用的规定间隙（G1～G6）和在支撑台（61）形成的多个连通路（64），将从冷媒（R）产生的气体导入到积分球（20）内。导入到积分球（20）内的气体吸收积分球（20）内的水分并降低积分球（20）内的温度，防止在杜瓦瓶（50）的第2容器部（50b）中的从积分球（20）内露出的部分出现结露。由此，即使在对冷却到所需温度的状态的试料（S）进行测定的情况下，也可以防止结露的出现。
- 光谱测定装置
- [发明专利]量子产率测定装置-CN201180057392.X有效
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井口和也
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浜松光子学株式会社
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2011-08-31
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2013-08-14
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G01N21/64
- 量子产率测定装置(1A)通过将激发光(L1)照射至用以容纳试料(S)的试料管(2)的试料容纳部(3)，且检测自试料(S)及试料容纳部(3)的至少一者放出的被测定光(L2)，从而测定试料(S)的量子产率。量子产率测定装置(1A)具有：在内部配置有试料容纳部(3)的暗箱(5)；具有连接于暗箱(5)的光出射部(7)，且产生激发光(L1)的光产生部(6)；具有连接于暗箱(5)的光入射部(11)，并检测被测定光(L2)的光检测部(9)；具有使激发光(L1)入射的光入射开口(15)、及使被测定光(L2)出射的光出射开口(16)、且配置于暗箱(5)内的积分球(14)；及以成为试料容纳部(3)位于积分球(14)内的第1状态、及试料容纳部(3)位于积分球(14)外的第2状态的各自的状态的方式，使试料容纳部(3)、光出射部(7)及光入射部(11)移动，并在第1状态，使光出射部(7)与光入射开口(15)相对，且使光入射部(11)与光出射开口(16)相对的移动机构(30)。
- 量子测定装置
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