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[发明专利]反射型空间光调制器、光观察装置及光照射装置-CN201780097494.1有效
发明人：泷泽国治;田中博;丰田晴义;大林宁;酒井宽人;渡边翼 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-12-05 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G02F1/015 文献下载
摘要：本发明提供一种反射型空间光调制器，其具备：电光结晶，其具有输入光被输入的输入面和与输入面相对的背面；光输入输出部，其配置于电光结晶的输入面，且具有透射输入光的第一电极；光反射部，其包含包括多个第二电极的基板，且配置于电光结晶的背面侧；驱动电路，其对第一电极与多个第二电极之间施加电场，光输入输出部包含形成于输入面上的第一电荷注入抑制层，光反射部包含形成于背面上的第二电荷注入抑制层。
反射空间调制器观察装置照射

[发明专利]光检测装置及光检测方法-CN201880090905.9有效
发明人：松井克宜;杉山行信;宅见宗则;丰田晴义;铃木一隆;中村和浩;内田圭祐 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-12-25 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： H04N25/78 文献下载
摘要：光检测装置(1)是检测光的入射位置的光检测装置(1)。光检测装置(1)具备多个像素、多条第1配线、多条第2配线、第1读取部(21)、及第2读取部(31)。多个像素以行列状二维排列，且分别包含第1光感应部及第2光感应部。多条第1配线将多个第1光感应部按每行连接。多条第2配线将多个第2光感应部按每列连接。第1读取部(21)通过多条第1配线的至少一部分读取信号数据。第2读取部(31)通过多条第2配线的至少一部分读取信号数据。第1读取部(21)具有：读取像素设定部(26)，其基于在第1帧读取的信号数据，自多个像素中，设定在第1帧之后的第2帧读取信号数据的像素组。
检测装置方法

[发明专利]反射型空间光调制器、光观察装置及光照射装置-CN201780097492.2有效
发明人：泷泽国治;田中博;丰田晴义;大林宁;酒井宽人;渡边翼 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-12-05 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G02F1/015 文献下载
摘要：本发明提供一种反射型空间光调制器，其具备：电光结晶，其具有输入光被输入的输入面和与输入面相对的背面；光输入输出部，其配置于电光结晶的输入面，且具有透射输入光的第一电极；光反射部，其包含配置有多个第二电极的基板及将基板固定于背面的粘接层，并配置于电光结晶的背面；驱动电路，其对第一电极与多个第二电极之间施加电场，基板包含配置有多个第二电极的像素区域和包围像素区域的周边区域，粘接层具有与像素区域面对面的第一区域和包围第一区域的第二区域，粘接层在非导电性的粘接材料的固化物中具有电介质材料，第二区域中的电介质材料的含有率比第一区域中的电介质材料的含有率小。
反射空间调制器观察装置照射

[发明专利]光检测装置及光检测方法-CN201880090879.X有效
发明人：松井克宜;宅见宗则;丰田晴义;铃木一隆;中村和浩 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-12-25 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： H04N25/443 文献下载
摘要：光检测装置(1)检测光的入射位置。光检测装置(1)具备多个像素(11)、第1电路(23)、第2电路(33)、第1读取部(21、22)、及第2读取部(31、32)。多个像素(11)以行列状二维排列，且分别具有第1光感应部(15)及第2光感应部(16)。第1电路(23)将多个第1光感应部(15)按每行连接。第2电路(33)将多个第2光感应部(16)按每列连接。第1读取部(21、22)通过第1电路(23)读取信号数据。第2读取部(31、32)通过第2电路(33)读取信号数据。第1电路(23)具有切换在同一行彼此相邻的第1光感应部(15)之间的电连接与切断的行开关(27)。
检测装置方法

[发明专利]位置检测传感器-CN201880060440.2有效
发明人：宅见宗则;丰田晴义;松井克宜;铃木一隆;中村和浩;内田圭祐 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-08-21 - 公布日： 2022-03-29 - 主分类号： G01J1/02 文献下载
摘要：在位置检测传感器中，在第1像素部入射位置越接近第1像素对组的第2方向上的第1端，第1电信号的强度就越减弱，在第2像素部入射位置越接近第2方向上的第1端，第2电信号的强度就越增强，在第3像素部入射位置越接近第2像素对组的第1方向上的第2端，第3电信号的强度就越减弱，在第4像素部入射位置越接近第1方向上的第2端，第4电信号的强度就越增强。算出部基于第1电信号的强度的累计值和第2电信号的强度的累计值算出第2位置，基于第3电信号的强度的累计值和第4电信号的强度的累计值，算出第1位置。
位置检测传感器

[发明专利]反射型空间光调制器、光观察装置和光照射装置-CN201780034920.7有效
发明人：泷泽国治;田中博;丰田晴义;大林宁;酒井宽人 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-06-05 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： G02F1/03 文献下载
摘要：反射型空间光调制器包括：相对介电常数为1000以上的钙钛矿型的电光晶体；光输入输出部，其具有配置于电光晶体的输入面且透过输入光的第一电极；光反射部，其具有配置于电光晶体的背面的多个第二电极，将输入光向光输入输出部反射；驱动电路，其具有与光反射部的多个第二电极分别对应的多个驱动电极，向多个驱动电极分别输入电信号而向第一电极与第二电极之间施加电场；和电极连接部，其具有以多个第二电极和与多个第二电极对应的多个驱动电极相互电连接的方式配置的多个凸块。
反射空间调制器观察装置照射

[发明专利]反射型空间光调制器、光观察装置和光照射装置-CN201780034927.9有效
发明人：泷泽国治;田中博;丰田晴义;大林宁;酒井宽人 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-06-05 - 公布日： 2021-12-28 - 主分类号： G02F1/03 文献下载
摘要：反射型空间光调制器包括：具有输入输入光的输入面和与输入面相对的背面，相对介电常数为1000以上的钙钛矿型的电光晶体；光输入输出部，其具有配置于电光晶体的输入面且透过输入光的第一电极；光反射部，其包括包含多个第二电极的像素电极部和将像素电极部固定于背面的粘结层，配置于电光晶体的背面，将输入光向输入输出部反射；和向第一电极与多个第二电极之间施加电场的驱动电路，粘结层在非导电性的粘结材料的固化物中具有电介质材料。
反射空间调制器观察装置照射

[发明专利]光调制器、光观察装置以及光照射装置-CN201780035028.0有效
发明人：泷泽国治;田中博;丰田晴义;大林宁;酒井宽人 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-06-05 - 公布日： 2021-12-10 - 主分类号： G02F1/03 文献下载
摘要：光调制器包括：具有输入输入光的第1面、与第1面相对的第2面，且相对介电常数为1000以上的钙钛矿型的电光晶体；具有配置于电光晶体的第1面且透过输入光的第1电极的第1光学元件；具有配置于电光晶体的第2面且透过输入光的第2电极的第2光学元件；以及向第1电极与第2电极之间施加电场的驱动电路，第1电极以单体配置于第1面，第2电极以单体配置于第2面，第1电极以及第2电极的至少一者部分地覆盖第1面或者第2面，电光晶体中的上述输入光的传播方向与上述电场的施加方向平行。
调制器观察装置以及照射

[发明专利]眨眼测量方法、眨眼测量装置及眨眼测量程序-CN201610362538.6有效
发明人：铃木一隆;宅见宗则;袴田直俊;丰田晴义;松井克宜 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2016-05-26 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： A61B5/18 文献下载
摘要：本发明涉及眨眼测量方法、眨眼测量装置及眨眼测量程序。眨眼测量方法包括：使用光检测器，检测来自包括对象者的眼睑和眼球的部位的反射光，并输出该反射光的图像信号的步骤；根据图像信号，计算出该部位上的眼球所产生的角膜反射光的位置和部位上的眼睑的位置的步骤；根据角膜反射光的位置修正眼睑的位置的步骤；和根据该修正后的眼睑的位置的时间变化，计算出关于眨眼的特征量的步骤。
眨眼测量方法测量装置程序

[发明专利]位置检测传感器-CN201880060467.1有效
发明人：宅见宗则;丰田晴义;松井克宜;铃木一隆;中村和浩;内田圭祐 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-08-21 - 公布日： 2021-10-19 - 主分类号： G01J1/02 文献下载
摘要：在位置检测传感器中，在第1像素部入射位置越接近第1像素对组的第2方向上的第1端，第1电信号的强度越减弱，在第2像素部入射位置越接近第2方向上的第1端，第2电信号的强度越增强，在第3像素部入射位置越接近第2像素对组的第1方向上的第2端，第3电信号的强度越减弱，在第4像素部入射位置越接近第1方向上的第2端，第4电信号的强度越增强。计算部基于第3电信号的强度和第4电信号的强度对第1位置进行加权，并基于第1电信号的强度和第2电信号的强度对第2位置进行加权。
位置检测传感器

[发明专利]光学元件和光学装置-CN201780029529.8有效
发明人：泷泽国治;田中博;丰田晴义;大林宁;酒井宽人 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-06-05 - 公布日： 2021-09-28 - 主分类号： G02F1/03 文献下载
摘要：本发明的光学元件包括：电光晶体，其具有输入输入光的输入面和作为输入面的相反侧的面的背面，并且是属于立方晶系的点群m3m的各向同性晶体；配置在输入面的第一电极；和在配置背面的第二电极，输入面沿着以电光晶体的三个晶轴中的一个晶轴为旋转中心而使另外两个晶轴旋转规定的角度而得到轴中的至少一个轴延伸，通过施加于第一电极与第二电极之间的电压而引起的电场的方向与输入光的传播方向一致。
光学元件装置

[发明专利]伪散斑图案生成装置、伪散斑图案生成方法、观察装置和观察方法-CN201880023619.0有效
发明人：酒井宽人;安藤太郎;丰田晴义;大竹良幸;泷口优;兵土知子 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-03-26 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G02B27/48 文献下载
摘要：伪散斑图案生成装置(1A)包括第一空间光调制器(13)、透镜(14)、第二空间光调制器(15)和透镜(16)等。第一空间光调制器(13)具有基于伪随机数图案的第一强度调制分布，对从光源(11)输出而由扩束器(12)放大了光束直径的光空间地进行强度调制。第二空间光调制器(15)具有基于滤波函数的第二强度调制分布，设置在由透镜(14)生成傅立叶变换图案的面，对经透镜(14)到达的光空间地进行强度调制。透镜(16)对从第二空间光调制器(15)输出的光的图案光学地进行傅立叶变换而生成该傅立叶变换图案作为伪散斑图案。由此，实现生成的散斑图案的空间构造或光强度统计分布的设定的自由度高的伪散斑图案生成装置等。
伪散斑图案生成装置方法观察

[发明专利]伪散斑图案生成装置、伪散斑图案生成方法、观察装置和观察方法-CN201880023641.5有效
发明人：酒井宽人;安藤太郎;丰田晴义;大竹良幸;泷口优;兵土知子 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-03-26 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G02B27/48 文献下载
摘要：伪散斑图案生成装置(1A)包括光源(11)、扩束器(12)和空间光调制器(13)。空间光调制器(13)具有基于从伪随机数图案和相关函数计算的伪散斑图案的强度的调制分布，输入从光源(11)输出而由扩束器(12)放大了光束直径的光，根据调制分布对其输入的光空间地进行调制，输出其调制后的光。由此，实现生成的散斑图案的空间构造或光强度统计分布的设定的自由度高的伪散斑图案生成装置等。
伪散斑图案生成装置方法观察

[发明专利]光束照射装置-CN201680073037.4有效
发明人：松井克宜;丰田晴义;宅见宗则;铃木一隆;中村和浩 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2016-12-07 - 公布日： 2020-10-09 - 主分类号： G02B26/08 文献下载
摘要：光束照射装置(10)具备：光源部(1)，输出光束(L)；光偏向部(2)，具有反射镜(21)和接受驱动信号的供给而使反射镜(21)摇动的驱动部(24)且以反射镜(21)接受从光源部(1)输出的光束(L)并进行反射；光偏向角度检测部(3)，具有接受由反射镜(21)反射的光束(L)的受光面(33a)并以光偏向部(2)的谐振频率的4倍以上的频率检测受光面(33a)上的光束(L)的位置并且输出表示该位置的检测信号；及动作控制部(4)，以该检测信号为基础来修正驱动信号并且将该修正了的驱动信号输出到光偏向部(2)。
光束照射装置

[发明专利]光调制器、光观察装置以及光照射装置-CN201780097464.0在审
发明人：泷泽国治;田中博;丰田晴义;大林宁;酒井宽人;渡边翼 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-12-05 - 公布日： 2020-07-17 - 主分类号： G02F1/015 文献下载
摘要：光调制器具备：钙钛矿型的电光晶体，其具有输入输入光的输入面和与输入面相对的背面；第一光学元件，其具有配置于电光晶体的输入面，且透过输入光的第一电极；第二光学元件，其具有配置于电光晶体的背面，且透过输入光的第二电极；驱动电路，其向第一电极和第二电极之间施加电场，第一电极以单体配置于输入面，第二电极以单体配置于背面，第一电极及第二电极的至少一方部分地覆盖输入面或背面，电光晶体中的输入光的传播方向和电场的施加方向为平行，在输入面和第一电极之间及背面和第二电极之间的至少一方形成有抑制电荷注入到电光晶体内的电荷注入抑制层。
调制器观察装置以及照射

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