[发明专利]一种磁球校准方法和磁球校准装置在审
| 申请号： | 202210104917.0 | 申请日： | 2022-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN114487968A | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 王青青;王俊杰;段晓东 | 申请（专利权）人： | 上海安翰医疗技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡纯;冯丽欣 |
| 地址： | 上海市浦东新区(上海)*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 校准 方法 装置 | ||
1.一种磁球校准方法，其特征在于，包括以下步骤：
磁球绕第一轴和第二轴转动，获取转动过程中检测位置处的三轴磁场分量的检测数据；
根据所述检测数据，得到所述磁球的校准位置；
根据所述磁球的校准位置，校准所述磁球；
其中，所述磁球位于所述校准位置时，所述磁球的磁极化方向与第二轴重合；
所述第一轴与所述第二轴相互垂直；
所述三轴磁场分量包括X轴磁场分量、Y轴磁场分量和Z轴磁场分量；
所述Z轴磁场分量的方向与所述第二轴的方向重合；所述Y轴磁场分量与所述第一轴的方向重合。
2.根据权利要求1所述的磁球校准方法，其特征在于，
所述磁球绕第一轴转动第一角度，获取转动过程中检测位置处的三轴磁场分量的检测数据；
根据所述磁球绕第一轴转动第一角度过程中的所述三轴磁场分量的检测数据以及对应的转动角度，得到磁球绕第一轴转动的第一校准位置V0；
将所述磁球转动至所述第一校准位置V0，再将所述磁球绕所述第一轴转动第二角度；
所述磁球绕第二轴转动第三角度，获取转动过程中检测位置处的三轴磁场分量的检测数据；
根据所述磁球绕第二轴转动第三角度过程中的所述三轴磁场分量的检测数据以及对应的转动角度，得到所述磁球绕所述第二轴转动时的第二校准位置H0。
3.根据权利要求2所述的磁球校准方法，其特征在于，所述第一角度大于360°，或为540°；
所述第二角度大于或等于10°，且所述第二角度小于或等于80°，或为45°；
所述第三角度大于360°，或为540°。
4.根据权利要求2或3所述的磁球校准方法，其特征在于，得到磁球绕第一轴转动的第一校准位置V0，包括：
根据所述磁球绕第一轴转动第一角度过程中的所述三轴磁场分量的检测数据以及对应的转动角度，判断Z轴方向磁场强度分量最大值或最小值对应的磁球的位置为第一校准位置V0；
得到磁球绕第二轴转动的第二校准位置H0，包括：
根据所述磁球绕所述第二轴转动第三角度过程中的三轴磁场分量的检测数据及对应的转动角度，判断Y轴方向上磁场强度分量最大值或最小值对应的转动角度为第二校准位置H0；
或，根据所述磁球绕所述第二轴转动第三角度过程中的三轴磁场分量的检测数据及对应的转动角度，判断X轴方向上磁场强度分量最大值或最小值对应的转动角度为第二校准位置H0。
5.根据权利要求2或3所述的磁球校准方法，其特征在于，得到磁球绕第一轴转动的第一校准位置V0，包括：
在所述磁球绕所述第一轴转动第一角度过程中，根据所述检测数据得到Z轴方向上的磁场强度分量随所述磁球转动角度的曲线，所述曲线上最大值或最小值对应的磁球转动角度为第一校准位置V0；
得到磁球绕第二轴转动的第二校准位置H0，包括：
在所述磁球绕所述第二轴转动第三角度过程中，根据所述检测数据得到Y轴方向上的磁场强度分量随所述磁球转动角度的曲线，判断Y轴方向上的磁场强度分量最大值或最小值对应的转动角度为第二校准位置H0；
或，根据所述磁球转动所述第三角度过程中的磁场强度分量的检测数据及对应的转动角度，判断X轴方向上的磁场强度分量最大值或最小值对应的转动角度为第二校准位置H0。。
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