[实用新型]电性测试机构

说明书

本申请提供一种电性测试机构，包括：机架；第一调节座，沿第一方向移动设于机架上；探针结构，设于第一调节座上；电磁铁，包括线圈和衔铁轴；线圈设于机架上，并与第一调节座沿第一方向间隔分布；衔铁轴沿第一方向穿设于线圈，并用于推动第一调节座；衔铁轴在线圈通电时沿第一方向移动，以驱动第一调节座沿第一方向移动；复位件，连接于机架和第一调节座之间，并在线圈断电时复位，以带动第一调节座和衔铁轴沿第一方向复位移动。通过采用上述技术方案，使得衔铁轴、第一调节座以及探针结构的移动方向相同，并且，衔铁轴穿设于线圈，如此提高了电性测试机构的驱动平稳性，有助于提高探针结构的测试精准性。

技术领域

本申请属于电性测试技术领域，更具体地说，是涉及一种电性测试机构。

背景技术

电子元器件在进行封装之前，一般需要对其电性进行测试。

目前，电子元器件进行电性测试的方法通常为：驱动器驱动摆杆向上摆动，使得摆杆上的测试探针与摆杆同步向上摆动，以接触并测试电子元器件的测试引脚；其中，测试探针向上摆动后，测试探针的指向通常与竖直方向形成大于0°的夹角，这样，使得测试探针的驱动平稳性较差，降低了测试探针测试电子元器件的精确性。

实用新型内容

本申请实施例的目的之一在于：提供一种电性测试机构，旨在解决现有技术中，电性测试机构存在的驱动平稳性较差的技术问题。

为解决上述技术问题，本申请实施例采用的技术方案是：

提供了一种电性测试机构，包括：

机架；

第一调节座，沿第一方向移动设于所述机架上；

探针结构，设于所述第一调节座上；

电磁铁，包括线圈和衔铁轴；所述线圈设于所述机架上，并与所述第一调节座沿所述第一方向间隔分布；所述衔铁轴沿所述第一方向穿设于所述线圈，并用于推动所述第一调节座；所述衔铁轴在所述线圈通电时沿所述第一方向移动，以驱动所述第一调节座沿所述第一方向移动；

复位件，连接于所述机架和所述第一调节座之间，并在所述线圈断电时复位，以带动所述第一调节座和所述衔铁轴沿所述第一方向复位移动。

在一个实施例中，所述机架包括第一架体和连接于所述第一架体的第二架体，所述第一调节座沿所述第一方向移动设于所述第一架体和所述第二架体之间；所述线圈设于所述第一架体上，所述衔铁轴沿所述第一方向依次穿设于所述线圈和所述第一架体；所述复位件连接于所述第一调节座和所述第二架体之间，或者，所述复位件连接于所述第一调节座和所述第一架体之间。

在一个实施例中，所述机架还包括导向柱，所述导向柱沿所述第一方向延伸设置，且连接于所述第一架体和所述第二架体之间；所述导向柱穿设于所述第一调节座，以与所述第一调节座相对移动。

在一个实施例中，所述衔铁轴包括：

磁吸部，与所述第一调节座分别设于所述线圈沿所述第一方向上的相对两侧；

第一轴部，沿所述第一方向依次穿设于所述线圈和所述第一架体，且所述第一轴部的一端连接于所述磁吸部，所述第一轴部的另一端用于推动所述第一调节座；

其中，所述磁吸部在所述线圈通电时沿所述第一方向吸合于所述线圈，并在所述线圈断电时沿所述第一方向远离所述线圈。

在一个实施例中，所述复位件连接于所述第一调节座和所述第一架体之间，且所述复位件套设于所述第一轴部外。

在一个实施例中，所述机架还包括连接于所述第一架体和/或所述第二架体的第三架体；所述衔铁轴还包括第二轴部，所述第一轴部和所述第二轴部分别设于所述磁吸部沿所述第一方向上的相对两侧，且所述第二轴部沿所述第一方向活动穿设于所述第三架体。