[实用新型]电性测试机构有效
申请号: | 202122100032.7 | 申请日: | 2021-08-31 |
公开(公告)号: | CN215641577U | 公开(公告)日: | 2022-01-25 |
发明(设计)人: | 段雄斌;席松涛;何选民 | 申请(专利权)人: | 深圳市标谱半导体科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/04;G01R1/02 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 汪海琴 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区航城街道三围社区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 机构 | ||
1.一种电性测试机构,其特征在于,包括:
机架;
第一调节座,沿第一方向移动设于所述机架上;
探针结构,设于所述第一调节座上;
电磁铁,包括线圈和衔铁轴;所述线圈设于所述机架上,并与所述第一调节座沿所述第一方向间隔分布;所述衔铁轴沿所述第一方向穿设于所述线圈,并用于推动所述第一调节座;所述衔铁轴在所述线圈通电时沿所述第一方向移动,以驱动所述第一调节座沿所述第一方向移动;
复位件,连接于所述机架和所述第一调节座之间,并在所述线圈断电时复位,以带动所述第一调节座和所述衔铁轴沿所述第一方向复位移动。
2.如权利要求1所述的电性测试机构,其特征在于,所述机架包括第一架体和连接于所述第一架体的第二架体,所述第一调节座沿所述第一方向移动设于所述第一架体和所述第二架体之间;所述线圈设于所述第一架体上,所述衔铁轴沿所述第一方向依次穿设于所述线圈和所述第一架体;所述复位件连接于所述第一调节座和所述第二架体之间,或者,所述复位件连接于所述第一调节座和所述第一架体之间。
3.如权利要求2所述的电性测试机构,其特征在于,所述机架还包括导向柱,所述导向柱沿所述第一方向延伸设置,且连接于所述第一架体和所述第二架体之间;所述导向柱穿设于所述第一调节座,以与所述第一调节座相对移动。
4.如权利要求2所述的电性测试机构,其特征在于,所述衔铁轴包括:
磁吸部,与所述第一调节座分别设于所述线圈沿所述第一方向上的相对两侧;
第一轴部,沿所述第一方向依次穿设于所述线圈和所述第一架体,且所述第一轴部的一端连接于所述磁吸部,所述第一轴部的另一端用于推动所述第一调节座;
其中,所述磁吸部在所述线圈通电时沿所述第一方向吸合于所述线圈,并在所述线圈断电时沿所述第一方向远离所述线圈。
5.如权利要求4所述的电性测试机构,其特征在于,所述复位件连接于所述第一调节座和所述第一架体之间,且所述复位件套设于所述第一轴部外。
6.如权利要求4所述的电性测试机构,其特征在于,所述机架还包括连接于所述第一架体和/或所述第二架体的第三架体;所述衔铁轴还包括第二轴部,所述第一轴部和所述第二轴部分别设于所述磁吸部沿所述第一方向上的相对两侧,且所述第二轴部沿所述第一方向活动穿设于所述第三架体。
7.如权利要求1-6任一项所述的电性测试机构,其特征在于,所述探针结构包括第二调节座、探针座以及测试探针,所述第二调节座设于所述第一调节座上,所述测试探针设于所述探针座上,所述探针座沿所述第一方向滑设于所述第二调节座上,以调节所述测试探针在所述第一方向上的位置。
8.如权利要求7所述的电性测试机构,其特征在于,所述探针结构还包括调节件,所述调节件包括螺杆和限位部;所述螺杆沿所述第一方向穿设于所述第二调节座,并螺纹连接于所述探针座内,所述限位部设于所述螺杆上,并抵接于所述第二调节座沿所述第一方向背离所述探针座的一侧。
9.如权利要求8所述的电性测试机构,其特征在于,所述螺杆上套设有弹性件,所述弹性件沿所述第一方向抵接于所述第二调节座和所述探针座之间。
10.如权利要求7所述的电性测试机构,其特征在于,所述测试探针包括:
本体部,设于所述探针座上;
连接部,其一端连接于所述本体部;所述连接部为弹片,且与所述本体部形成大于0°的夹角;
测试部,设于所述连接部背离所述本体部的一端。
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