[发明专利]一种块体非晶合金产品表面抛光修复方法及控制系统在审
申请号: | 202110698959.7 | 申请日: | 2021-06-23 |
公开(公告)号: | CN113427380A | 公开(公告)日: | 2021-09-24 |
发明(设计)人: | 陈堂权;黄文波 | 申请(专利权)人: | 常州晶业液态金属有限公司 |
主分类号: | B24B29/02 | 分类号: | B24B29/02;B24B49/12;B08B7/00;G06T7/00;G06T7/62;G06T7/90;B22F10/28;B22F10/85;B33Y10/00;B33Y40/10;B33Y50/00 |
代理公司: | 北京华际知识产权代理有限公司 11676 | 代理人: | 李帅 |
地址: | 213100 江苏省常州市武进区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 块体 合金 产品 表面 抛光 修复 方法 控制系统 | ||
1.一种块体非晶合金产品表面抛光修复集合控制系统,其特征在于:包括视觉模块(S1)、气孔模型构建模块(S2)、杂质清洗模块(S3)和激光运动模块(S4);
所述视觉模块(S1)通过视觉摄像头对块体非晶合金产品表面的气孔和杂质所在的位置信息以及杂质的形状信息进行采集,并对信息进行处理,将处理后的数据信息传输至气孔模型构建模块(S2)和激光运动模块(S4);
所述气孔模型构建模块(S2)对视觉模块(S1)传输的气孔位置信息进行接收,根据接收的气孔位置信息使用激光对气孔的内部信息进行采集,结合气孔的表面信息构建气孔模型,并将构建的气孔模型传输至激光运动模块(S4);
所述杂质清洗模块(S3)对视觉模块(S1)中杂质的位置信息和形状信息进行采集,并根据接收的信息通过激光对块体非晶合金表面的杂质进行清洗;
所述激光运动模块(S4)接收视觉模块(S1)传输的数据信息和气孔模型构建模块(S2)构建的气孔模型,并根据接收的信息通过激光对块体非晶合金产品进行熔接修复。
2.根据权利要求1所述的一种块体非晶合金产品表面抛光修复集合控制系统,其特征在于:所述视觉模块(S1)包括图像采集单元(S11)、图像处理单元(S12)、计算单元(S13)和气孔和杂质信息匹配单元(S14);
所述图像采集单元(S11)通过视觉摄像头定时对块体非晶合金产品的抛光表面进行图像采集,并将采集的图像信息传输至图像处理单元(S12);
所述图像处理单元(S12)对图像采集单元(S11)传输的图像进行接收,并对图像中气孔和杂质所在的位置进行捕捉,根据气孔和杂质的位置分布构建坐标系,并将构建完成的坐标系传输至计算单元(S13);
所述计算单元(S13)对图像处理单元(S12)传输的坐标系进行接收,并根据坐标系中气孔的坐标信息对产品抛光表面气孔的面积大小进行计算,并根据视觉摄像头的缩放系数,将计算出的气孔面积按等比例放大,并将放大后的结果传输至气孔和杂质信息匹配单元(S14);
所述气孔和杂质信息匹配单元(S14)对气孔的位置信息和面积信息进行匹配,对杂质的位置信息和形状信息进行匹配,并将匹配后的信息按比例放大后传输至气孔模型构建模块(S2)和激光运动模块(S4)。
3.根据权利要求2所述的一种块体非晶合金产品表面抛光修复集合控制系统,其特征在于:所述图像处理单元(S12)的具体处理步骤为:
步骤一:根据图像采集单元(S11)采集的图像对块体非晶合金表面的气孔和杂质的具体位置进行捕捉;
步骤二:根据步骤一捕捉的气孔和杂质的具体位置对图像中气孔和杂质的颜色特征进行提取,进而通过颜色特征对气孔和杂质进行区分;
步骤三:根据块体非晶合金表面的气孔和杂质的分布情况选取合适的坐标原点,建立坐标系。
4.根据权利要求2所述的一种块体非晶合金产品表面抛光修复集合控制系统,其特征在于:图像中抛光表面气孔面积的计算方法为:
Step1:在建立的坐标系中寻找表示气孔的颜色特征,并根据建立的坐标系记录气孔边界的坐标信息;
Step2:将Step1中记录的气孔的坐标信息带入气孔轨迹方程,具体的气孔轨迹的方程为:
1)设气孔轨迹方程为:
2)将记录的气孔坐标带入方程,求得a和b的值;
3)根据气孔轨迹方程结合定积分求得气孔的面积大小,产品抛光表面气孔面积的计算公式为:
S=abπ;
其中,a表示气孔长半轴的长度、b表示气孔短半轴的长度;
块体非晶合金表面气孔的面积为:
S′=kS;
其中,k为视觉摄像头的缩放系数。
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