[发明专利]利用OCT成像检测工业内部缺陷的可行性验证方法

说明书

本发明涉及一种利用OCT成像检测工业内部缺陷的可行性验证方法，包括S1、对带有标记的缺陷样本进行OCT成像，在x‑y平面上的正常处与缺陷处取点，获得每个点的向量；S2、对获得的向量两两之间做绝对差操作，组成同维度的绝对差向量；S3、依次对比类间绝对差向量与类内绝对差向量中第i大的值，计算类间绝对差向量与类内绝对差向量中第i大的值的差值，以及第i大的值在z轴方向上的坐标分布的方差，并于设定的阈值比较，从而判断利用OCT成像对被测物内部缺陷检测的可行性。本发明可以快速判断当前被测物的内部缺陷是否适合用OCT成像来检测或者有没有使用OCT成像来解决检测问题的可行性。

技术领域

本发明涉及视觉检测技术领域，尤其是一种利用OCT成像检测工业内部缺陷的可行性验证方法。

背景技术

OCT技术本身是用在医学诊断上的技术，通过透视的手段获得人体组织器官内部的数据，将数据可视化后获得断层成像，医生根据断层成像来诊断病情。

近年来OCT也被用来检测工业产品的内部缺陷，尤其是对于表面有喷涂物的产品，检测其喷涂物与产品表面之间的夹层中是否有杂质。

而OCT检测喷涂物夹层异物技术不是对于所有产品都适用的，常规的可行性验证方法一种是通过标定获得夹层所在z轴范围内的数据，单对该范围内的数据进行分析；另一种是跟医学上一样，得到z轴上每一层的断层图，由专业人员观察断层图来判断可行性。

但是，对于第一种方法，基于标定采取相应图层验证OCT在工业检测上可行性方法，由于OCT成像获得的数据量巨大，数据维度高，所以需要大量的计算和实验，以确保找到合适的图层和界面厚度值，且该方案只能用在被测物内部缺陷位于其Z轴特定坐标附近部位的情况，对于缺陷可能出现在Z轴方向较大范围内位置的情况不适用；

对于第二种方法，套用医学诊断的方案来进行缺陷检测，得到z轴上每一层的断层图，由专业人员观察断层图来判断可行性的方案，由于断层图数量繁多，又是由人工来判断，所以工作量太大，且判断人员为专业人员，人工成本太高。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：提供一种利用OCT成像检测工业内部缺陷的可行性验证方法，可以快速通过本发明提出的操作方法与逻辑步骤判断当前被测物的内部缺陷是否适合用OCT成像来检测或者有没有使用OCT成像来解决检测问题的可行性，节省了特定层标定花费的大量时间，也避免了专业人员来逐一观察断面图所耗费的人工成本。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种利用OCT成像检测工业内部缺陷的可行性验证方法，包括以下步骤，

S1、对带有标记的缺陷样本进行OCT成像，在x-y平面上的正常处与缺陷处取点，获得每个点处z轴方向上的数据，即每个点获得一个向量；

S2、对获得的向量两两之间做绝对差操作，组成同维度的绝对差向量，包括类内绝对差向量和类间绝对差向量；

S3、依次对比类间绝对差向量与类内绝对差向量中第i大的值，计算类间绝对差向量与类内绝对差向量中第i大的值的差值，以及第i大的值在z轴方向上的坐标分布的方差，并与设定的阈值比较，从而判断利用OCT成像对被测物内部缺陷检测的可行性。

进一步的说，本发明所述的类内绝对差向量包括正常类内绝对差向量和缺陷类内绝对差向量。

再进一步的说，本发明所述的步骤S3中，若类间绝对差向量第i大的值均大于正常类内绝对差向量和缺陷类内绝对差向量第i大的值且差值超过设定阈值，则判断利用OCT成像检测工业内部缺陷的可行性成功；否则，计算每个绝对差向量第i大的值在z轴方向上的坐标分布的方差。

再进一步的说，本发明若方差大于设定的阈值，则判断利用OCT成像检测工业内部缺陷的可行性不成功；若方差不大于设定的阈值，则返回对比类间绝对差向量与类内绝对差向量中第i大的值，进行迭代。