[发明专利]一种基于移频外差的波长编码光时域反射测试装置及方法有效
申请号: | 202110365976.9 | 申请日: | 2021-03-30 |
公开(公告)号: | CN113114350B | 公开(公告)日: | 2022-06-10 |
发明(设计)人: | 张尚剑;邢贯苏;徐映;刘永 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H04B10/071 | 分类号: | H04B10/071 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 外差 波长 编码 时域 反射 测试 装置 方法 | ||
1.一种基于移频外差的波长编码光时域反射测试装置,其特征在于:
包括窄线宽激光器(1)、波长编码模块(4)、分束器(5)、环形器(6)、偏振控制器(8)、合束器(9)、光电探测器(10)和时频分析模块(11)构成;其中,所述波长编码模块(4)由编码信号发生器(3)和声光移频器(2)组成;编码信号发生器(3)产生频率编码的射频信号驱动声光移频器(2),窄线宽激光器(1)通过声光移频器(2)产生编码的光脉冲信号从端口a输入分束器(5),分为探测光信号和参考光信号分别从分束器(5)的端口b和端口c输出;探测光信号从端口d输入环形器(6)再从端口e输入被测光纤(7)中,遇到被测光纤(7)中的断点后产生反射光信号返回环形器(6)并从端口f输出;反射光经过偏振控制器(8)后与参考光信号通过合束器(9),进入光电探测器(10)进行拍频,拍频信号进入时频分析模块(11)进行分析。
2.根据权利要求1所述的一种基于移频外差的波长编码光时域反射测试装置,其特征在于,编码信号发生器(3)为任意波形发生器或频移键控调制器,产生射频信号频率在声光移频器(2)中心频率附近。
3.根据权利要求1所述的一种基于移频外差的波长编码光时域反射测试装置,其特征在于,时频分析模块(11)是采样示波器,或是数据采集卡与微处理器。
4.一种基于移频外差的波长编码光时域反射测试方法,其应用如权利要求1-3任一项所述的一种基于移频外差的波长编码光时域反射测试装置,其特征在于,该方法是将两个不同波长的光信号组成的编码光信号分为探测光信号和参考光信号,探测光信号进入被测光纤后遇到光纤断点会产生反射光信号,反射光信号与参考光信号进入光电探测器(10)拍频,拍频信号进入时频分析模块(11)进行分析;通过调节两个光脉冲的时间间隔,并观测对应拍频信号时域信号的持续时间,当该时域信号的持续时间达到最大时,反射光信号的时延就等于此时两个光脉冲的时间间隔,从而测出探测光在光纤中的飞行时间,实现光纤断点的定位。
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