[发明专利]一种利用红外热成像识别基材与脏污的方法

权利要求书

1.一种利用红外热成像识别基材与脏污的方法，其特征在于：具体包括以下几个步骤：

步骤一、将大功率LED灯通电后，产生强辐射的可见光，真缺陷在受到强辐射的可见光照射时，将大部分光能通过折射、反射、散射或衍射方式传导出去；假缺陷在受到强辐射的可见光照射时，将小部分光能通过折射、反射、散射或衍射方式传导出去；

步骤二、调节大功率LED灯板的功率让待检玻璃上的真缺陷与假缺陷之间产生3℃以上的温度差；

步骤三、由能量守恒定律，被吸收的光能转换为热能，产生热辐射，通过热成像相机捕捉到物体之间的温度差；

上述方法通过如下装置实现，所述装置包括透射式曝光热成像装置；所述透射式曝光热成像装置包括热成像相机、热红外镜头、热成像拍摄区、假缺陷、真缺陷、待检玻璃、玻璃托架、红外截止滤光片、LED灯板以及散热块；

所述散热块上表面设置灯板；所述LED灯板上表面设置红外截止滤光片，保证待检玻璃只受到可见光的辐射，而不受LED灯板的红外热辐射，从而保证真缺陷与假缺陷之间产生温度差；所述红外截止滤光片两侧安装玻璃托架，并在玻璃托架内安装待检玻璃；所述待检玻璃上端安装热成像相机，并在热成像相机一侧安装热红外镜头；所述热红外镜头与热成像拍摄区的位置相对应；所述热成像拍摄区覆盖假缺陷和真缺陷；

所述真缺陷为玻璃表面的划伤，所述假缺陷为空气中漂浮的灰尘。

2.一种利用红外热成像识别基材与脏污的方法，其特征在于：具体包括以下几个步骤：

步骤一、打开设置于热成像相机两侧的一个以上的反射式曝光源，使热成像拍摄区的温度升高，热成像拍摄区覆盖的假缺陷和真缺陷产生温度差；

步骤二、热成像相机通过判断温度差来识别真缺陷与假缺陷；

上述方法通过如下装置实现，所述装置包括反射式曝光热成像装置，所述反射式曝光热成像装置包括热成像相机、热红外镜头、热成像拍摄区、假缺陷、真缺陷、待检玻璃、玻璃托架以及一个以上的反射式曝光源；

所述玻璃托架之间安装待检玻璃；所述待检玻璃上方设置热成像相机；所述热成像相机一侧安装热红外镜头；所述一个以上的反射式曝光源分设在热成像相机两侧；所述热红外镜头与热成像拍摄区的位置相对应；所述热成像拍摄区覆盖假缺陷和真缺陷；所述反射式曝光源内设置有透镜组；所述反射式曝光源的出光端面安装红外截止滤光片，保证待检玻璃只受到可见光的辐射，而不受LED灯板的红外热辐射，从而保证真缺陷与假缺陷之间产生温度差；所述真缺陷为玻璃表面的划伤，所述假缺陷为空气中漂浮的灰尘；

利用特殊加热装置和热成像技术，利用基材本身真缺陷与附着在基材上的假缺陷对特殊波段的电磁波辐射吸收率不同，在受到相同剂量的特殊波段电磁辐射时，因为它们的吸收率不同，相同时间内他们吸收的电磁波辐射不同，进而转化成热量也不同，从而导致基材上的真缺陷与附着在基材上的假缺陷形成温度差。