[发明专利]一种定量分析铀含量的方法

权利要求书

1.一种定量分析铀含量的方法，其特征在于，包括以下步骤：

使用定标样本进行诱导击穿光谱分析，并分别建立多个特征波长的标准曲线；所述多个特征波长包括547.5nm的第一特征波长，548.01nm的第二特征波长，548.219nm的第三特征波长和597.60nm的第四特征波长；

对待测样本进行诱导击穿光谱分析，并根据所述标准曲线得到所述多个特征波长分别对应的多个待定铀含量；

取所述多个待定铀含量的平均值作为所述待测样本的测量铀含量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述使用定标样本进行诱导击穿光谱分析，并建立多个特征波长的标准曲线，包括：

对每个所述定标样本：进行诱导击穿光谱分析，分别得到所述第一特征波长对应的第一定标光谱强度、所述第二特征波长对应的第二定标光谱强度、所述第三特征波长对应的第三定标光谱强度，以及所述第四特征波长对应的第四定标光谱强度；

根据所有所述定标样本的铀含量和第一定标光谱强度，确定铀含量与所述第一定标光谱强度之间的第一标准曲线；根据所有所述定标样本的铀含量和第二定标光谱强度，确定铀含量与所述第二定标光谱强度之间的第二标准曲线；根据所有所述定标样本的铀含量和第三定标光谱强度，确定铀含量与所述第三定标光谱强度之间的第三标准曲线；并且，根据所有所述定标样本的铀含量和第四定标光谱强度，确定铀含量与所述第四定标光谱强度之间的第四标准曲线。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对待测样本进行诱导击穿光谱分析，并根据所述标准曲线得到所述多个特征波长分别对应的多个待定铀含量，包括：

对待测样本进行诱导击穿光谱分析，获得所述待测样本在所述第一特征波长处的第一光谱强度、在所述第二特征波长处的第二光谱强度、在所述第三特征波长处的第三光谱强度、在所述第四特征波长处的第四光谱强度；

根据所述第一光谱强度与所述第一标准曲线确定第一待定铀含量，根据所述第二光谱强度与所述第二标准曲线确定第二待定铀含量，根据所述第三光谱强度与所述第三标准曲线确定第三待定铀含量，并且根据所述第四光谱强度与所述第四标准曲线确定第四待定铀含量。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述定标样本为采用含铀溶液浸渍后的采样滤膜；所述含铀溶液包含硝酸铀酰和/或含肼的四价铀溶液。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述采样滤膜厚度为0.5-2.5mm、孔径为0.1-10μm。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述定标样本的铀含量为4-40μg/cm2。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述定标样本的铀含量为4-28μg/cm2。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，任意两个所述定标样本的铀含量差值的最小值为5-10μg/cm2。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测样本为含铀气体的采样滤膜样本；所述待测样本的铀含量范围为4-40μg/cm2。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述待测样本的铀含量范围为4-28μg/cm2。

11.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述诱导击穿光谱分析的分析条件包括：延迟时间为0.3-2μs。

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述延迟时间为0.5μs。