[发明专利]基于表面配准的目标特征提取方法、装置、设备和介质

权利要求书

1.一种基于表面配准的目标特征提取方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待处理目标对应的待处理三维表面网格数据；

获取预先生成的与所述待处理目标对应的三维模板数据；

将所述三维模板数据中的表面模板网格数据和所述待处理三维表面网格数据进行表面配准，以建立所述表面模板网格数据和所述待处理三维表面网格数据的对应关系；

从所述三维模板数据中读取三维模板特征标注信息；根据所述对应关系，将所述三维模板特征标注信息映射到所述待处理三维表面网格数据中，以提取所述待处理三维表面网格数据中的目标特征；

其中，所述根据所述对应关系，将所述三维模板特征标注信息映射到所述待处理三维表面网格数据中，以提取所述待处理三维表面网格数据中的目标特征，包括：

获取所述待处理三维表面网格数据中与所述模板特征标注信息对应的最接近的点，并将所述最接近的点作为待处理目标对应的特征点；或者

获取所述待处理三维表面网格数据中与所述模板特征标注信息对应的最接近的点的集合，并将所述最接近的点的集合作为待处理目标对应的特征线或特征区域。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述三维模板数据的生成方式包括：

获取样本三维表面网格数据；

将所述样本三维表面网格数据进行表面配准得到表面模板网格数据；

对所述表面模板网格数据上的特征进行标注后得到三维模板数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述表面模板网格数据上的特征进行标注后得到三维模板数据，包括：

记录所述三维模板表面网格数据上的目标特征结构对应的点的序号或点集序号组；

根据所述点的序号或点集的序号组以及所述表面模板网格数据得到三维模板数据。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述样本三维表面网格数据进行表面配准得到表面模板网格数据，包括：

获取各个所述样本三维表面网格数据中对应的点；

按照预设规则对所述对应的点进行处理后，得到表面模板网格数据。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述获取各个所述样本三维表面网格数据中对应的点之前，还包括：

将所有样本三维网格数据对齐到同一坐标空间。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述将所有样本三维网格数据对齐到同一坐标空间，包括：

通过仿射变换技术将所有样本三维网格数据对齐到同一坐标空间。

7.根据权利要求1至6任意一项所述的方法，其特征在于，所述将所述三维模板数据中的表面模板网格数据和所述待处理三维表面网格数据进行表面配准，包括：

将所述三维模板数据中的表面模板网格数据作为浮动网格数据，将所述待处理三维表面网格数据作为目标网格数据，以将所述浮动网格数据向所述目标网格数据上进行表面配准；所述表面配准包括所述浮动网格数据向所述目标网格数据中点的对应以及对应后的点的处理。

8.一种基于表面配准的目标特征提取装置，其特征在于，所述装置包括：

待处理数据获取模块，用于获取待处理目标对应的待处理三维表面网格数据；

模板数据获取模块，用于获取预先生成的与所述待处理目标对应的三维模板数据；

第一表面配准模块，用于将所述三维模板数据中的表面模板网格数据和所述待处理三维表面网格数据进行表面配准，以建立所述表面模板网格数据和所述待处理三维表面网格数据的对应关系；

映射模块，用于从所述三维模板数据中读取三维模板特征标注信息；根据所述对应关系，将所述三维模板特征标注信息映射到所述待处理三维表面网格数据中，以提取所述待处理三维表面网格数据中的目标特征；

其中，所述映射模块，用于获取所述待处理三维表面网格数据中与所述模板特征标注信息对应的最接近的点，并将所述最接近的点作为待处理目标对应的特征点；或者，获取所述待处理三维表面网格数据中与所述模板特征标注信息对应的最接近的点的集合，并将所述最接近的点的集合作为待处理目标对应的特征线或特征区域。