[发明专利]一种焊接参数的调节方法、系统、装置及存储介质有效
申请号: | 202110053313.3 | 申请日: | 2021-01-15 |
公开(公告)号: | CN112894204B | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 李源;杨海汕;张小春 | 申请(专利权)人: | 深圳市佳士科技股份有限公司 |
主分类号: | B23K37/00 | 分类号: | B23K37/00;B23K37/02 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 梁河 |
地址: | 518000 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 焊接 参数 调节 方法 系统 装置 存储 介质 | ||
1.一种焊接参数的调节方法,其特征在于,所述调节方法包括:
获取初始手势信号;
对所述初始手势信号进行校验处理,生成校验手势信号;
当所述校验手势信号为参数切换信号时,根据所述参数切换信号对当前参数进行切换;
当所述校验手势信号为数值调节信号时,根据所述数值调节信号对所述当前参数的数值进行调节;
当采用光电传感器组获取所述初始手势信号时,所述对所述初始手势信号进行校验处理,生成校验手势信号,包括:
在不存在强光干扰时,采集所述光电传感器的预设数量的检测电压值,生成样本信号集;剔除所述样本信号集中的最大值及最小值,并计算剩余的所述检测电压值的算数平均值,生成所述光电传感器的校验电压值;
在存在强光干扰时,获取初始检测电压值及初始方差;根据所述初始检测电压值及初始方差进行预设次数的递归运算,生成所述光电传感器的校验电压值;其中,单次所述递归运算的步骤包括:
在当前的递归运算为第一次递归运算时,将前次预估值设定为所述初始检测电压值,并将前次方差设定为所述初始方差;
采集所述光电传感器的预设数量的所述检测电压值,对所述检测电压值进行低通滤波处理,生成低通检测值;
根据所述前次预估值、低通检测值及前次方差计算当前检测预估值,并根据所述当前检测预估值及所述检测电压值计算当前方差;
将所述前次预估值设为所述当前检测预估值,并将所述前次方差设为所述当前方差;
在当前的递归运算为最后一次递归运算时,将所述前次预估值作为所述光电传感器的校验电压值,并结束递归运算,否则转入下一次的递归运算。
2.根据权利要求1所述的调节方法,其特征在于,在所述根据所述参数切换信号对当前参数进行切换的步骤之前,包括:
对所有焊接参数设定对应的序号;
所述根据所述参数切换信号对当前参数进行切换,包括:
当所述参数切换信号包括左划动信号时,将所述当前参数切换为所述序号比当前参数的序号大一位的参数;
当所述参数切换信号包括右划动信号时,将所述当前参数切换为所述序号比当前参数的序号小一位的参数。
3.根据权利要求1所述的调节方法,其特征在于,所述根据所述数值调节信号对所述当前参数的数值进行调节,包括:
当所述数值调节信号包括上划动信号时,按预设幅度增加所述当前参数的数值;
当所述数值调节信号包括下划动信号时,按预设幅度减少所述当前参数的数值。
4.根据权利要求1所述的调节方法,其特征在于,当采用光电传感器组获取所述初始手势信号时,所述对所述初始手势信号进行校验处理,生成校验手势信号,还包括:
当校验电压集中任一校验电压值没有处于预设手势电压范围时,输出错误手势警报,并重新执行所述获取初始手势信号的步骤及后续步骤。
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