[发明专利]一种改标的塑封元器件可靠性评价方法在审
申请号: | 202110007276.2 | 申请日: | 2021-01-05 |
公开(公告)号: | CN112858809A | 公开(公告)日: | 2021-05-28 |
发明(设计)人: | 邝栗山;刘莉;曹庆;吴中祥;张昊 | 申请(专利权)人: | 航天科工空间工程发展有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01N21/84;G01N23/02;G01N29/06;G01N33/207;G01N3/20;G01N3/24;G01N19/04 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 李远思 |
地址: | 431400 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 标的 塑封 元器件 可靠性 评价 方法 | ||
1.一种改标的塑封元器件可靠性评价方法,其特征在于,所述方法包括:
S10、对待测元器件进行质量一致性检验,剔除不合格元器件,其中,所述待测元器件数量为N,所述不合格元器件的数量为M;
S20、判断质量一致性检验的PDA值是否小于30%,若是,执行S30;若否,检验合格的器件不可用,不再进行可靠性评价试验,其中,所述PDA=M/N;
S30、检验合格的元器件进行可靠性评价试验,按照预定标准评价可靠性。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述S10包括:
S100、外观检查,用于检查所述待测元器件外观是否符合第一预定不合格标准,若是,剔除第一不合格元器件;若否,执行S102;
S102、X射线检查,用于检查剩余外观检查合格的元器件是否符合第二预定不合格标准,若是,剔除第二不合格元器件;若否,执行S104;
S104、电测试,用于验证剩余X射线检查合格的元器件功能是否完好,若是,执行S106;若否,剔除第三不合格元器件;
S106、扫描声学显微镜检查,用于检查剩余电测试合格的元器件是否符合第三预定不合格标准,若是,剔除第四不合格元器件;若否,所述质量一致性检验完成,
其中,所述第一不合格元器件、第二不合格元器件、第三不合格元器件和第四不合格元器件的数量和为M,所述检验合格的元器件数量为N-M。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,
所述第一预定不合格标准为国军标548B-2005方法2009.1条款3.3.2~3.3.7中的任何一种情况;
所述第二预定不合格标准为国军标548B-2005方法2012.1条款3.10.2.2或3.11.2.2中的任何一种情况;
所述第三预定不合格标准为国军标4027A-2006工作项目1103条款2.4.4中的任何一种情况。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述S30包括:
S300、对所述检验合格的元器件,按照“最坏情况条件”原则,选取4只质量相对较差的器件平均分成第一分组和第二分组,每组的数量均为2只,进行可靠性评价试验;
S302、对所述第一分组进行可焊性试验、内部目检和钝化层完整性检查;
S304、对所述第二分组进行引线牢固性检查、内部目检、键合强度试验、剪切强度试验;
S306、判断所述第一分组和第二分组的试验是否全部合格,若是,则可靠性评价试验合格;若否,则可靠性评价试验不合格。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述S302包括:
S3020、可焊性试验,用于检查第一分组的任一器件的引脚表面形貌是否95%以上面积覆盖有连续的新焊料层,若是,则可焊性试验合格,执行S3022;否则,可焊性试验试验不合格,保留文字和图像记录,后续评价试验不再进行;
S3022、内部目检,用于检查改标过程中元器件内部键合和芯片结构是否符合第五预定不合格标准,若是,判定内部目检不合格,保留文字和图像记录后,后续评价试验不再进行;若否,执行S3024;
S3024、钝化层完整性检查,用于检查内部目检合格后的器件是否符合第六预定不合格标准,若是,则说明钝化层完整性试验不合格,保留文字和图像记录。
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