[实用新型]一种测量透明平板介质折射率的装置

说明书

本实用新型公开了一种测量透明平板介质折射率的装置，包括光具座、读数显微镜、测角盘、标尺、毛玻璃、白光光源，读数显微镜、测角盘、标尺、毛玻璃、白光光源依次置于光具座上，读数显微镜和标尺要做到等高共轴。测量前，在测角盘上放入待测透明平板介质，使待测透明平板介质透光平面垂直于光轴。测量时，只需测量入射到透明平板介质的光线的入射角和与之相对应的入射光线和出射光线的横向位移，即可获得待测透明平板介质的折射率。该装置实验方法简单，测量原理明确，适用于高等学校普通物理折射率测量相关实验项目。

技术领域

本实用新型涉及折射率测量技术领域，尤其适用于高等学校普通物理折射率测量相关实验的实验装置，具体地涉及一种测量透明平板介质折射率的装置。

背景技术

折射率是光学介质的一个重要物理参数，折射率的测量是光学实验的重要内容。目前，实验室常用的测量透明固体介质折射率的仪器有分光计、迈克尔逊干涉仪、阿贝折射仪等。使用分光计时需要将被测材料制成棱镜且对棱镜的技术条件要求较高；使用迈克尔逊干涉仪通过白光干涉测量时，虽然能够达到较高的精度，但通常要求待测透明平板很薄，否则操作困难，并且对操作能力要求很高；使用阿贝折射仪测量时，对被测材料折射率的大小又有限制。

实用新型内容

针对上述现有技术中存在的技术问题，本申请的目的在于一种测量透明平板介质折射率的装置。

为实现本实用新型的目的，本实用新型提供的一种测量透明平板介质折射率的装置，包括光具座、读数显微镜、测角盘、标尺、毛玻璃、白光光源，所述光具座横向放置，所述读数显微镜、测角盘、标尺、毛玻璃、白光光源依次置于光具座上。

其中，所述测角盘分为主刻度盘和游标盘，所述游标盘可绕圆心转动，所述游标盘中心安装有固定夹，待测透明平板介质通过固定夹固定在游标盘中心，待测透明平板介质的两个透明平行面垂直于游标盘面。

其中，所述白光光源与可调直流电源连接。

其中，所述读数显微镜安装在可调调整架上，通过所述可调调整架，能够带动所述读数显微镜移动。

其中，所述标尺为透明薄玻璃片，中心刻有十字分划线，安装在可调调整架上，通过所述可调调整架，能够带动所述标尺移动。

其中，所述白光光源亮度可调。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为，本装置是利用折射定律，在平行光通过平板介质时，精确测量待测透明平板介质旋转角度和平行光的横向偏移量，进而获得待测透明平板介质的折射率，实验方法简单，测量原理明确。

实验时，调节读数显微镜、标尺、毛玻璃、白光光源至共轴，调节测角盘面平行于轴线且中心法线与轴线垂直相交，调节读数显微镜中心和标尺上十字分划线的中心等高共轴，放入待测透明平板介质后调节介质平面垂直于光轴。利用待测透明平板介质厚度，即可根据待测透明平板偏转角度和相应的十字分划线中心在读数显微镜中的横向偏移量求出折射率。待测透明平板介质需有两个平行透光平面，对待测透明平板介质厚度不做特殊要求，降低了加工难度；对待测透明平板介质的折射率大小没有限制，扩大了测量范围。本实用新型适用于高等学校普通物理折射率测量相关实验项目。

附图说明

图1是本实用新型一种测量透明平板介质折射率的装置的结构示意图；

图2是本实用新型中测角盘的结构示意图；

图3是本实用新型测量原理图。

图中：1.光具座 2.读数显微镜 3.测角盘 4.待测透明平板介质 5.标尺 6.毛玻璃 7.白光光源 8(a).第一可调调整架 8(b).第二可调调整架 9.固定夹 10.固定调整架11.可调直流电源 12.主刻度盘 13.游标盘。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。