[发明专利]经过离子交换的化学强化含锂玻璃的表征方法有效

专利信息
申请号: 202011567332.X 申请日: 2016-06-02
公开(公告)号: CN112684152B 公开(公告)日: 2023-05-12
发明(设计)人: R·V·鲁谢夫;V·M·施奈德 申请(专利权)人: 康宁股份有限公司
主分类号: G01N33/38 分类号: G01N33/38;C03C21/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 项丹;乐洪咏
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 经过 离子交换 化学 强化 玻璃 表征 方法
【权利要求书】:

1.一种对经过化学强化的含Li玻璃试样中的中心张力CT进行测量的方法,所述经过化学强化的含Li玻璃试样具有表面和主体,所述主体具有厚度T,其中,所述玻璃试样按下述方式进行强化:进行离子交换处理,所述离子交换处理用Na+和K+离子置换所述玻璃试样中的Li+离子,其中,K+离子和Na+离子限定应力曲线,所述应力曲线包括毗邻所述试样表面且基本上由K+离子限定的尖峰区域和从所述尖峰区域的底部延伸进入所述玻璃主体内且基本上由Na+离子限定的深部区域;所述尖峰区域和深部区域在具有拐点深度DOLsp的拐点处连接,所述方法包括:

a)使用棱镜偶联系统测量所述玻璃试样的TE模谱和TM模谱;

b)由所述模谱:

i)估计由尖峰区域产生的表面压缩应力CSsp

ii)使用以下关系式,估计仅用于尖峰区域的尖峰中心张力CTsp

iii)使用以下关系式,估计拐点处的拐点应力CS拐点

式中,和分别是所述TE模谱和TM模谱中临界角度强度过渡的有效折射率,SOC是应力光学系数;以及

iv)使用拐点应力CS拐点,估计仅由深部区域产生的深部区域中心张力CTpar,以及用于深部区域中心张力CTpar的抛物线型曲线近似,其中CTpar≈|0.5CS拐点|;以及

c)通过关系式CTsp+CTpar估计玻璃试样的中心张力CT。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括非破坏性地进行步骤a)至c)。

3.一种对经过化学强化的含Li玻璃试样中的中心张力CT进行测量的方法,所述经过化学强化的含Li玻璃试样具有表面和主体,所述主体具有厚度T,其中,所述玻璃试样通过进行离子交换处理来强化,所述玻璃试样具有应力曲线,所述应力曲线包括毗邻所述表面的尖峰区域和从所述尖峰区域的底部延伸进入所述玻璃主体内的深部区域,所述方法包括:

a)使用棱镜偶联系统测量所述玻璃试样的模谱,所述棱镜偶联系统具有控制器;

b)使用控制器,从所述模谱估计:

(i)仅用于尖峰区域的第一中心张力,所述第一中心张力使用以下关系式估计:

式中,CSsp是表面压缩应力,DOLsp是连接所述尖峰区域和深部区域的拐点深度;以及

(ii)仅用于深部区域的第二中心张力,所述第二中心张力使用用于深部区域的幂律型应力曲线近似估计;以及

c)通过所述第一中心张力和第二中心张力相加来估计控制器中用于所述玻璃试样的总中心张力CT。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述幂律型应力曲线基本上为抛物线型。

5.一种对经过化学强化的含Li玻璃试样进行品质控制的方法,该方法包括:

a)使用棱镜偶联系统测量所述玻璃试样的模谱,所述棱镜偶联系统具有控制器;

b)使用控制器,确定所述模谱的模数的非整数部分;以及

c)比较模谱的模数的非整数部分与模谱的模数的非整数部分的规定以确定所述玻璃试样是否满足品质控制的规定,其中,模谱的模数的非整数部分的规定为大于或等于0.1至小于或等于0.6。

6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述模数的非整数部分确定为用于TM偏振和TE偏振。

7.如权利要求5或6所述的方法,其特征在于,将用于TM偏振和TE偏振两者的模数的非整数部分与模数的非整数部分的规定进行比较。

8.一种对经过化学强化的含Li玻璃试样中的压缩深度DOC进行测量的方法,所述经过化学强化的含Li玻璃试样具有表面和主体,所述主体具有厚度T,其中,所述玻璃试样按下述方式进行强化:进行离子交换处理,所述离子交换处理用Na+和K+离子置换所述玻璃试样中的Li+离子,所述方法包括:

a)使用棱镜偶联系统测量所述玻璃试样的模谱;以及

b)使用以下表达式,由所述模谱估计DOC:

其中,CTtot=CTpar+CTsp,并且

包括估计:

i)仅由尖峰区域产生的尖峰中心张力CTsp,所述CTsp使用以下关系式估计:

式中,CSsp是表面压缩应力,DOLsp是在拐点处连接所述尖峰区域和深部区域的拐点深度;以及

ii)仅由深部区域产生的深部区域中心张力CTpar,所述CTpar使用以下关系式估计:

CTpar≈|0.5CS拐点|

式中,式中,和是临界角度强度过渡的有效折射率,SOC是应力光学系数。

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