[发明专利]一种接口性能测试方法、装置及电子设备

说明书

本发明公开了一种接口性能测试方法、装置及电子设备，其中方法包括：在预设开发环境下，通过客户端接收预设参数，并将所述预设参数发送至服务端；所述服务端根据所述预设参数进行线程管理，并返回线程的数据信息至所述客户端；所述客户端根据所述数据信息计算在预设参数下当前接口的每秒查询率值，并将所述每秒查询率值进行输出；该方法能够实现在接口开发过程中测试接口性能，提高软件的稳定性。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种接口性能测试方法、装置及电子设备。

背景技术

在软件系统开发中，需要通过定义“接口”实现功能之间的关联和调用。但开发人员在例如IntelliJ IDEA的开发环境上进行接口开发的过程中，难以对开发的接口性能方面做到深入了解，以至于功能上线后常常会出现一系列并发请求引发的问题，使软件的可用度严重下降，极大的影响了用户对软件的体验度。

发明内容

本发明提供了一种接口性能测试方法、装置及电子设备，以实现对接口开发过程中的性能测试，提高软件的稳定性。

一种接口性能测试方法，包括：

在预设开发环境下，通过客户端接收预设参数，并将所述预设参数发送至服务端；

所述服务端根据所述预设参数进行线程管理，并返回线程的数据信息至所述客户端；

所述客户端根据所述数据信息计算在预设参数下当前接口的每秒查询率值，并将所述每秒查询率值进行输出。

进一步地，所述预设开发环境包括IntelliJ IDEA开发环境。

进一步地，所述预设参数包括预设线程数、预设连接数和预设时长。

进一步地，所述服务端包括选择器；

所述服务端根据所述预设参数进行线程管理，包括：

预设时长内，通过所述选择器记录按照预设线程数的线程中，每个线程内执行预设连接数的关联事件的耗时时长。

进一步地，所述数据信息为每个线程内执行预设连接数的关联事件的耗时时长；

所述客户端根据所述数据信息计算在预设参数下当前接口的每秒查询率值，包括：

在预设时长内，检测是否接收到服务端发送的预设线程数的每个线程内执行预设连接数的关联事件的耗时时长；

如果是，则计算所述耗时时长的平均值，获得所述每秒查询率值。

一种接口性能测试装置，包括服务端和客户端；

在预设开发环境下，所述客户端用于接收预设参数，并将所述预设参数发送至服务端；

所述服务端用于根据所述预设参数进行线程管理，并返回线程的数据信息至所述客户端；

所述客户端还用于根据所述数据信息计算在预设参数下当前接口的每秒查询率值，并将所述每秒查询率值进行输出。

进一步地，所述预设参数包括预设线程数、预设连接数和预设时长；所述服务端包括选择器；

所述服务端还用于在预设时长内，通过所述选择器记录按照预设线程数的线程中，每个线程内执行预设连接数的关联事件的耗时时长。

进一步地，所述数据信息为每个线程内执行预设连接数的关联事件的耗时时长；

所述客户端还用于在预设时长内，检测是否接收到服务端发送的预设线程数的每个线程内执行预设连接数的关联事件的耗时时长；如果是，则计算所述耗时时长的平均值，获得所述每秒查询率值。