[发明专利]判题方法、装置、电子设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202011011981.1 申请日: 2020-09-24
公开(公告)号: CN111931730B 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 秦勇;李盼盼 申请(专利权)人: 北京易真学思教育科技有限公司
主分类号: G06V30/40 分类号: G06V30/40;G06N20/00;G06N3/02
代理公司: 北京市铸成律师事务所 11313 代理人: 邓海鸿;杨瑾瑾
地址: 100144 北京市石景山区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种判题方法,其特征在于,包括:

将待批改图像分别输入版面分析模型、文本行检测模型和题干答案检测模型,得到版面分析检测结果、文本行检测结果和题干答案检测结果,所述题干答案检测结果包括题干框检测结果和答案框检测结果,所述版面分析检测结果包括待批改图像中各个题的题型和文本区域坐标,所述文本行检测结果包括待批改图像中包括的各个文本行的文本区域坐标;

利用交并比将所述版面分析检测结果和所述文本行检测结果进行合并,得到第一版面分析结果;

利用交并比和位置关系,将所述题干答案检测结果和所述文本行检测结果进行合并,得到第二版面分析结果;其中,所述位置关系包括题干与对应的答案之间的位置关系;

将所述第一版面分析结果和所述第二版面分析结果分别输入识别模型,得到第一判题结果和第二判题结果;

根据所述第一判题结果和所述第二判题结果,得到针对所述待批改图像的判题结果;

其中,根据所述第一判题结果和所述第二判题结果,得到针对所述待批改图像的判题结果,包括:将所述第一判题结果和所述第二判题结果进行合并,得到针对所述待批改图像的判题结果;所述将所述第一判题结果和所述第二判题结果进行合并,包括:在所述第一判题结果出现题目漏判,对应题目在所述第二判题结果中被正确判定的情况下,将所述第二判题结果中的对应于所述第一判题结果中的漏判结果合并到所述第一判题结果中;

所述交并比用于计算两个边界框交集和并集之比。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将所述第一判题结果和所述第二判题结果进行合并,包括:

在所述第二判题结果中的正确结果的位置信息与所述第一判题结果中的正确结果的位置信息不一致的情况下,将所述第二判题结果中的正确结果合并到所述第一判题结果中的正确结果中,得到合并后的正确结果;

在所述第二判题结果中的错误结果的位置信息与所述第一判题结果中的错误结果的位置信息不一致的情况下,将所述第二判题结果中的错误结果合并到所述第一判题结果中的错误结果中,得到合并后的错误结果;

在所述第二判题结果中的未判定结果的位置信息与所述第一判题结果中的未判定结果的位置信息不一致的情况下,将所述第二判题结果中的未判定结果合并到所述第一判题结果中的未判定结果中,得到合并后的未判定结果。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,将所述第一判题结果和所述第二判题结果进行合并,还包括:

对所述合并后的错误结果执行第一遍历操作;所述第一遍历操作包括在满足第一条件的情况下将错误结果删除,所述第一条件包括错误结果的位置信息与合并后的正确结果中的任意一条结果的位置信息一致。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,将所述第一判题结果和所述第二判题结果进行合并,还包括:

对所述合并后的未判定结果执行第二遍历操作;所述第二遍历操作包括在满足第二条件或第三条件的情况下将未判定结果删除,所述第二条件包括未判定结果的位置信息与合并后的正确结果中的任意一条结果的位置信息一致,所述第三条件包括未判定结果的位置信息与执行第一遍历操作后的错误结果中的任意一条结果的位置信息一致。

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