[发明专利]分光检测单元、粒子检测装置及方法

说明书

本发明涉及粒子检测技术领域，具体涉及一种分光检测单元、粒子检测装置及方法。其中，分光检测单元包括：半反半透件；第一滤光片，设置在所述半反半透件的反射光路上，以得到第一波长范围的检测光；第二滤光片，设置在所述半反半透件的透射光路上，以得到第二波长范围的检测光。本发明提供的所述分光检测单元将对应于所述不同粒子的检测光分开，以同时进行检测，避免由于时间差导致分别检测的粒子运动轨迹匹配的准确性较低的问题。

技术领域

本发明涉及粒子检测技术领域，具体涉及一种分光检测单元、粒子检测装置及方法。

背景技术

粒子检测是工业和生物学领域普遍存在的要求，此类检测中最重要的是粒径和浓度的测量。目前已有的检测方法包括电子显微镜、微流成像(MFI)、动态光散射(DLS)、可调电阻脉冲传感(TRPS)以及纳米颗粒跟踪技术(NTA)等方法。电子显微镜可精确测量粒径，但无法对溶液中的粒子进行浓度和大小分布的检测；微流成像的检测极限为300nm，很难应用于外泌体、病毒等颗粒的检测；动态光散射是通过测量颗粒散射强度的动态变化来反演颗粒尺寸，但其测量的是散射集合量，对于多分散的复杂样品识别度低，且无法得出样品的绝对浓度；可调电阻脉冲传感技术是采用电学方法对颗粒尺寸进行测量，但不具备特异性荧光检测功能。纳米颗粒跟踪技术是记录溶液中的所有粒子的运动影像，通过算法描绘其布朗运动轨迹，计算得到每个粒子的平均扩散系数，再根据斯托克斯爱因斯坦方程反推得到粒径。纳米颗粒跟踪技术能够同时检测粒径和浓度，具有分辨率高、检测速度快的优势。

目前市场上的基于纳米颗粒跟踪技术的检测仪器主要有英国Malvern的NanoSight仪器以及德国Particle Metrix公司的ZetaView仪器，但该类仪器均为单波长荧光检测或双激光单波长荧光检测，即每次仅能够进行单波长的荧光检测。若要分析待测溶液中两种或以上的粒子或物质之间的相互关系，就需要分别进行检测。然而，两次或多测检测之间的时间差，而同一粒子在不同的时间又可能会表征出不同的运动轨迹，这就会导致无法准确分析出多种粒子或物质之间的相互关系。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种分光检测单元、粒子检测装置及方法，以解决现有技术中单波长粒子检测装置所带来的检测功能缺陷的问题。

根据第一方面，本发明实施例提供了一种分光检测单元，包括：半反半透件；第一滤光片，设置在所述半反半透件的反射光路上，以得到第一波长范围的检测光；第二滤光片，设置在所述半反半透件的透射光路上，以得到第二波长范围的检测光。

现有技术中的荧光检测，一般采用单波长或双波长光源照射待测溶液，得到单波长的待检测光，当需要同时对所述待测溶液中两种或以上的物质进行检测时，现有技术的荧光检测单次仅能检测单一粒子或物质，无法进行不同粒子或物质之间相互关系的分析。因此，本发明实施例提供的分光检测单元，通过半反半透件将待测溶液中不同粒子或物质经照射后得到的待检测光分为两束，再分别经过第一滤光片、第二滤光片，得到第一波长范围、第二波长范围的检测光，将对应于所述不同粒子的检测光分开，以同时进行检测，避免由于时间差导致分别检测的粒子运动轨迹匹配的准确性较低。

可选地，所述半反半透件为二向色镜。

可选地，所述分光检测单元，还包括：第三滤光片，设置在所述分光检测单元的入射光路上，用于滤除预设波长范围的光。

本发明实施例提供的分光检测单元，在分光检测单元的入射光路上设置第三滤光片，将光源波长的光滤除，保证后续检测的准确性。