[发明专利]旋转角度检测装置有效
申请号: | 202010582364.0 | 申请日: | 2020-06-23 |
公开(公告)号: | CN112146688B | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
发明(设计)人: | 西岛良雅;林健祐;原田信吾;重松良辅;正田智久 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G01D5/244 | 分类号: | G01D5/244 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 胡秋瑾;宋俊寅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 旋转 角度 检测 装置 | ||
1.一种旋转角度检测装置,其特征在于,包括:
旋转检测部,该旋转检测部根据旋转体的旋转角度来输出多个检测信号;
多相偏移校正部,该多相偏移校正部对所述多个检测信号的偏移进行校正并输出偏移校正后多相信号;
多相增益校正部,该多相增益校正部对所述偏移校正后多相信号的振幅进行校正并输出增益校正后多相信号;
多相二相转换部,该多相二相转换部对所述增益校正后多相信号进行转换并输出二相信号;
二相增益校正部,该二相增益校正部对所述二相信号的振幅进行校正并输出增益校正后二相信号;
二相加减运算部,该二相加减运算部对所述增益校正后二相信号相互进行加减运算并输出和差信号;
和差信号增益校正部,该和差信号增益校正部对所述和差信号的振幅进行校正并输出增益校正后和差信号;以及
角度计算部,该角度计算部基于所述增益校正后和差信号来运算角度并输出角度信号。
2.如权利要求1所述的旋转角度检测装置,其特征在于,
所述多相偏移校正部基于所述多个检测信号的1周期以上的数据来计算多相偏移校正值。
3.如权利要求1所述的旋转角度检测装置,其特征在于,
所述多相增益校正部基于所述偏移校正后多相信号的1周期以上的数据来计算多相增益校正值。
4.如权利要求1所述的旋转角度检测装置,其特征在于,
所述二相增益校正部基于所述二相信号的1周期以上的数据来计算二相增益校正值。
5.如权利要求1所述的旋转角度检测装置,其特征在于,
所述和差信号增益校正部基于所述和差信号的1周期以上的数据来计算和差信号增益校正值。
6.如权利要求1至5的任一项所述的旋转角度检测装置,其特征在于,
所述多相增益校正部、所述二相增益校正部、所述和差信号增益校正部中的校正值的校正后的信号为预先决定的值。
7.如权利要求6所述的旋转角度检测装置,其特征在于,
对于所述多相偏移校正部、所述多相增益校正部、所述二相增益校正部、所述和差信号增益校正部中的校正值,根据1周期以上的数据且根据成为所述旋转体的旋转周期中的机械角的整数倍的数据区间来计算。
8.如权利要求7所述的旋转角度检测装置,其特征在于,
对于所述多相偏移校正部中的校正值,基于所述数据区间的数据的累计值和累计次数来计算,以作为所述累计值和所述累计次数的比。
9.如权利要求7所述的旋转角度检测装置,其特征在于,
对于所述多相增益校正部、所述二相增益校正部、所述和差信号增益校正部中的校正值,基于所述数据区间的数据的绝对值的累计值和累计次数,利用“1/(绝对值的累计值/累计次数×π/2)”来计算。
10.如权利要求7所述的旋转角度检测装置,其特征在于,
对于所述多相增益校正部、所述二相增益校正部、所述和差信号增益校正部中的校正值,基于所述数据区间的数据的绝对值的累计值和累计次数,利用的计算式来计算。
11.如权利要求7所述的旋转角度检测装置,其特征在于,
所述多相偏移校正部、所述多相增益校正部、所述二相增益校正部、所述和差信号增益校正部中的校正值在所述旋转体的旋转周期为预先决定的第一周期以上且在预先决定的第二周期以下的范围内时,进行校正值的计算处理。
12.如权利要求7所述的旋转角度检测装置,其特征在于,
所述多相偏移校正部、所述多相增益校正部、所述二相增益校正部、所述和差信号增益校正部中的校正值在所述旋转体的旋转周期的变化率为预先决定的值以下时,进行校正值的计算处理。
13.如权利要求1至5的任一项所述的旋转角度检测装置,其特征在于,
对所述多个检测信号进行了特性的补偿之后,进行所述多相偏移校正部、所述多相增益校正部、所述二相增益校正部、所述和差信号增益校正部中的校正值的校正。
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