[发明专利]一种高压氢气检测系统及其检测方法

权利要求书

1.一种高压氢气检测系统，其特征在于：包括依次连接的快速接口、减压阀、第一电磁阀、低压缓冲气罐、第二电磁阀、软管、精密流量计、第一非接触式激光颗粒物计数器、静电吸附颗粒物去除装置、第二非接触式激光颗粒物计数器、三通电磁阀，所述三通电磁阀其中一个接口还依次连接光腔衰荡光谱仪、真空泵和气袋，所述三通电磁阀的另一个接口与静电吸附颗粒物去除装置入口连通；其中，所述精密流量计、第一非接触式激光颗粒物计数器、静电吸附颗粒物去除装置、第二非接触式激光颗粒物计数器、三通电磁阀、光腔衰荡光谱仪、真空泵和气袋固定在车上，所述快速接口、减压阀、第一电磁阀、低压缓冲气罐、第二电磁阀通过软管与精密流量计固定，使其与车体可移动式连接；还包括内置在车上的控制装置，所述精密流量计、第一非接触式激光颗粒物计数器、静电吸附颗粒物去除装置、第二非接触式激光颗粒物计数器、三通电磁阀、光腔衰荡光谱仪、真空泵分别与控制装置电连接。

2.根据权利要求1所述的一种高压氢气检测系统，其特征在于：所述低压缓冲气罐为0.2Mpa、20L的低压缓冲气罐。

3.一种使用权利要求1-2中任一项所述高压氢气检测系统的高压氢气检测方法，其特征在于：其检测方法步骤如下：

S1，从快速接口中注入氢气，通过减压阀将氢气进行减压，此时打开第一电磁阀，并且关闭第二电磁阀；

S2，待氢气充满低压缓冲罐时，关闭第一电磁阀，并且打开第二电磁阀；

S3，氢气经过软管进入到第一非接触式激光颗粒物计数器，检测此时氢气的颗粒物浓度，然后氢气经过静电吸附颗粒去除装置，通过静电吸附将颗粒物去除；

S4，氢气再经过第二非接触式激光颗粒物计数器，测量此时氢气中的颗粒物浓度是否合格；

S5，若氢气中的颗粒物浓度合格，氢气直接通过三通电磁阀进入光腔衰荡光谱仪测量氢气中杂质浓度，并且经过真空泵充入气袋中；若氢气中的颗粒物浓度不合格，氢气通过三通电磁阀再次导入至静电吸附颗粒物去除装置。

4.根据权利要求3所述的一种高压氢气检测方法，其特征在于：所述快速接口与加氢站或制氢厂需检测的高压氢气出口连接。

5.根据权利要求3所述的一种高压氢气检测方法，其特征在于：所述减压阀将氢气减压至0.2Mpa。

6.根据权利要求3所述的一种高压氢气检测方法，其特征在于：颗粒物浓度不合格的氢气通过三通电磁阀再次导入至静电吸附颗粒物去除装置后，氢气再次经过第二非接触式激光颗粒物计数器，再次测量此时氢气中的颗粒物浓度是否合格，若不合格再重复上述步骤，直至氢气中的颗粒物浓度合格后进入光腔衰荡光谱仪测量氢气中杂质浓度，并且经过真空泵充入气袋中。

7.根据权利要求6所述的一种高压氢气检测方法，其特征在于：所述杂质浓度包括硫化氢浓度、一氧化碳浓度、二氧化碳浓度、甲酸浓度、甲醛浓度、甲烷浓度、氯化氢浓度、氨气浓度和水的浓度。

8.根据权利要求3所述的一种高压氢气检测方法，其特征在于：所述精密流量计、第一非接触式激光颗粒物计数器、静电吸附颗粒物去除装置、第二非接触式激光颗粒物计数器、三通电磁阀、光腔衰荡光谱仪、真空泵分别与车上内置的控制装置进行控制。