[发明专利]一种电芯测试装置及测试方法

说明书

本发明公开了一种电芯测试装置，包括：机架；测试组件，设置在机架上；测试组件包括能够同时抵接电芯本体电极的第一探针和第二探针，第一探针和第二探针均与供电装置电连接，第一探针和第二探针之间的相对位置可调；应用本发明的电芯测试装置，能够较好的适应不同尺寸的电芯的测试工作，节约换型时间；本发明还提供一种电芯测试方法。

技术领域

本发明涉及电芯化成分容领域，特别涉及一种电芯测试装置及测试方法。

背景技术

直流内阻(DCIR)是指工作条件下电池的电压变化与相应的放电电流变化之比，在电池的自动化生产过程中，需要对生产出来的电池进行直流内阻测试，以检测电池性能；以往的电池直流内阻测试，一般是靠人工将正负接线接入电池对应的电极后进行通电，来测量电池的直流内阻，在电池工作电流较大时，手动接线容易发生接触不良造成测量误差甚至发生短路，造成电池损坏。

为此，现有技术中提出一种DCIR测试机，将多个电池放置在运输托盘中，控制托盘朝向多个电流探针运动，使得电流探针抵接电池，然后为电池供电；当需要测试不同尺寸的电池时，不但需要更换电池托盘，还需要更换不同尺寸的电流探针组，换型时间较长。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种电芯测试装置及测试方法，能够较好的适应不同尺寸的电芯的测试工作，节约换型时间。

本发明一方面的电芯测试装置，包括：机架；测试组件，设置在机架上；测试组件包括能够同时抵接电芯本体电极的第一探针和第二探针，第一探针和第二探针均与供电装置电连接，第一探针和第二探针之间的相对位置可调。

进一步地，测试组件包括设置在机架上方的测试支架，测试支架上设置有多个固定部，第一探针与其中一个固定部连接，第二探针与其中一个固定部连接。

进一步地，第一探针和第二探针穿过测试支架设置，固定部包括设置在测试支架上的多个第一固定孔，第一探针上设置有第二固定孔，第二探针上设置有第三固定孔，第一紧固件穿过其中一个第一固定孔和第二固定孔设置，第二紧固件穿过其中一个第一固定孔和第三固定孔设置。

进一步地，测试支架上设置有第二支架，第一探针和第二探针均连接有排线，排线的一端连接第二支架。

进一步地，测试支架上设置有多个固定位置，排线远离第一探针或第二探针的一端能够可选择的与其中一个固定位置连接。

进一步地，电芯测试装置还包括设置在电芯测试装置下方的夹持组件，夹持组件用于夹持电芯本体。

进一步地，夹持组件包括基座和设置在基座上的两个第一夹块，第一夹块用于夹持电芯本体，第一夹块与基座的相对位置可调。

进一步地，基座上设置有第二夹块，第二夹块用于在电芯本体的宽度方向上抵接电芯本体。

进一步地，机架上设置有升降组件，升降组件用于驱动夹持组件相对于测试组件升降。

本发明另一方面的电芯检测方法，应用上述电芯测试装置对电芯本体进行检测，包括以下步骤：将电芯本体放置在夹持组件上，调整第一夹块和/或第二夹块相对于基座的位置，使得第一夹块和/或第二夹块夹持电芯本体；调整第一探针和/或第二探针相对于机架的位置，使得第一探针和第二探针均位于电芯本体的电极上方；控制升降组件，驱动夹持完毕后的夹持组件上升，使得电芯本体的电极抵接调整位置后的第一探针和第二探针；控制第一探针和第二探针，为电芯本体供电。