[发明专利]一种TPEE声学薄膜及其生产方法在审
申请号: | 202010021000.5 | 申请日: | 2020-01-09 |
公开(公告)号: | CN111204094A | 公开(公告)日: | 2020-05-29 |
发明(设计)人: | 夏超华 | 申请(专利权)人: | 苏州市新广益电子有限公司 |
主分类号: | B32B27/08 | 分类号: | B32B27/08;B32B27/32;B32B27/36;B32B7/12;B32B37/10;B32B37/12;C08J5/18;C08L67/00;C08L63/00;C08L51/08;C08K13/02;C08K3/22 |
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地址: | 215156 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 tpee 声学 薄膜 及其 生产 方法 | ||
1.一种TPEE声学薄膜,其特征在于,包括通过胶黏剂叠合而成的改性TPEE膜和托底膜;所述改性TPEE膜是由如下重量份的各原料制成:TPEE 60-70份、辐射接枝改性TPEE 15-25份、含氟环氧树脂5-10份、纳米二氧化钛2-6份、偶联剂1-2份、润滑剂0.5-1.5份、抗氧剂0.2-0.6份。
2.根据权利要求1所述的TPEE声学薄膜,其特征在于,所述抗氧剂为抗氧剂1010、抗氧剂168、抗氧剂1076、抗氧剂164中的至少一种;所述润滑剂为甲基硅油、苯基硅油、甲基乙氧基硅油、甲基三氟丙基硅油中的至少一种;所述偶联剂为硅烷偶联剂KH550、硅烷偶联剂KH560、硅烷偶联剂KH570中的至少一种。
3.根据权利要求1所述的TPEE声学薄膜,其特征在于,所述含氟环氧树脂的制备方法,具体包括如下步骤:在三口瓶中加入2,4-二异氰酸酯,在60℃下滴加十二氟庚醇,1小时内滴完,滴完后升温至85℃反应2小时,在加入环氧树脂DGEBA,在100℃反应2小时,后在水中沉出,将沉出的聚合物置于真空干燥箱中80-90℃干燥至恒重,得到含氟环氧树脂;所述2,4-二异氰酸酯、十二氟庚醇、环氧树脂DGEBA的摩尔比为1.03:1:1.1。
4.根据权利要求1所述的TPEE声学薄膜,其特征在于,所述辐射接枝改性TPEE的制备方法,包括如下步骤:将1,3-金刚烷二醇单丙烯酸酯、(2Z)-4-氧代-4-[3-(三氟甲基)-5,6-二氢-[1,2,4]三唑并[4,3-a]吡嗪-7(8H)-基]-1-(2,4,5-三氟苯基)丁-2-烯-2-胺(CAS:767340-03-4)加入高沸点溶剂中,后再向其中加入TPEE,通氮气或惰性气体氛围下室温搅拌10-15小时,后旋蒸除去高沸点溶剂,置于真空干燥箱80-90℃下干燥至恒重,然后再置于60Coγ-射线下辐射接枝10-25分钟,然后置于60-70℃下的真空干燥箱中反应6-8小时,后分别用去离子水和甲醇超声各清洗3-5次,每次0.3-0.6h,然后放置于烘箱内,在50-60℃下干燥至恒重。
5.根据权利要求4所述的TPEE声学薄膜,其特征在于,所述1,3-金刚烷二醇单丙烯酸酯、(2Z)-4-氧代-4-[3-(三氟甲基)-5,6-二氢-[1,2,4]三唑并[4,3-a]吡嗪-7(8H)-基]-1-(2,4,5-三氟苯基)丁-2-烯-2-胺、高沸点溶剂、TPEE的质量比为0.3:0.5:(30-50):(10-15)。
6.根据权利要求4所述的TPEE声学薄膜,其特征在于,所述高沸点溶剂为二甲亚砜、N,N-二甲基甲酰胺、N,N-二甲基乙酰胺、N-甲基吡咯烷酮中的至少一种;所述惰性气体为氦气、氖气、氩气中的一种;所述辐射接枝过程中的辐射剂量为20-40kGy;辐射剂量率为1.5-2.2kGy/h。
7.根据权利要求1-6任一项所述的TPEE声学薄膜,其特征在于,所述TPEE声学薄膜的生产方法,包括如下步骤:
步骤S1:将各原料按比例加入到搅拌机中混合均匀后,用挤出机挤出成型,得到胶片,然后通过压延成型,制成厚度为10-30μm的改性TPEE膜;
步骤S2将经过步骤S1制成的改性TPEE膜底面涂布上胶黏剂,然后叠合于托底膜,压制,硬化处理后得到TPEE声学薄膜。
8.根据权利要求7所述的TPEE声学薄膜,其特征在于,所述硬化处理具体为:在60℃-80℃下硬化20-30分钟,然后在室温下硬化10-15小时;所述挤出机为双螺杆挤出机,各段温度自加料口开始,依次为160-170℃、170-180℃、185-190℃、200-210℃、212-218℃、215-220℃,挤出机的机头温度为220-230℃。
9.根据权利要求7所述的TPEE声学薄膜,其特征在于,所述胶黏剂为丙烯酸胶黏剂、聚氨酯胶黏剂、有机硅胶黏剂中的一种;所述托底膜为PE膜、PET膜、OPP膜、PC膜中的一种。
10.根据权利要求1所述的TPEE声学薄膜,其特征在于,所述TPEE声学薄膜厚度公差为±1.5um;剥离力≥2.13N/25mm,杨氏模量≥0.14MPa,拉伸强度≥16.3MPa,断裂伸长率≥210%,30%模数≥2.0MPa,100%模数≥7.5MPa,雾度≤0.8%,光泽度≥96%。
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