[实用新型]一种岩石样品微区圈定装置有效

专利信息
申请号: 201921487910.1 申请日: 2019-09-06
公开(公告)号: CN210626338U 公开(公告)日: 2020-05-26
发明(设计)人: 林雪梅;朱联强;徐云强;肖钦仁;王姝力 申请(专利权)人: 成都理工大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N21/84;B25H7/04
代理公司: 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224 代理人: 李崧岩
地址: 610000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 岩石 样品 圈定 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种岩石样品微区圈定装置,包括偏光显微镜、荧光显微镜、阴极发光显微镜、手电筒、油性笔、图像处理器以及显微镜载玻片;在所述偏光显微镜、所述荧光显微镜和所述阴极发光显微镜的支架上设置有能够在所述偏光显微镜、所述荧光显微镜和所述阴极发光显微镜之间来回移动的第一移动机构,在所述第一移动机构上设置有第二移动机构,所述第二移动机构的移动方向与所述第一移动机构的移动方向在水平面上相互垂直;所述第二移动机构的顶部设置有载物台。通过将载物台设置于第二移动机构上,可以在使用过程中直接移动载物台,从而不用将载玻片反复取下和再放置到下一个显微镜下,保证了在不同显微镜下样品摆放方向一致,方便后续操作。

技术领域

本实用新型属于岩石勘测技术领域,涉及一种岩石勘测设备,具体地说是涉及一种岩石样品微区圈定装置。

背景技术

目前在国内外,在对地质理论知识和测试结果精确度要求越来越高的情况下,对岩石样品实验数据的准确性要求也日益提升,部分实验测试结果要求精度达到万分之一,用于测试的岩石样品的选取直接影响实验结果的准确性。

现有的样品分析技术存在以下缺陷:

大于肉眼级别的矿物和样品微区可以直接手工用工具获取。但对于毫米-微米级别的微区样品取样时,手工方法取样不仅操作起来非常复杂,而且取样准确度不高,会对实验结果造成严重的人为取样误差。

现有的激光微区稳定同位素取样分析系统可以在微观下用激光加热分解目的矿物,但是对于难以区分的矿物,这个方法则行不通。尤其是在对碎屑岩岩石样品的胶结物微区(方解石、白云石、次生石英)取样时,肉眼观察岩石样品胶结物的颜色及形态与周围矿物颗粒相比差异不大,在实际加热分解过程中很难将矿物准确区分开。

现有的微区选样技术操作过程过于复杂,即使在微观下正确区别出目的矿物,也很难对矿物进行标记,更不容易将识别出的目的矿物取出并携带至其他实验室做进一步分析测试。

实用新型内容

为了解决现有技术存在的上述技术问题,本实用新型提供了一种岩石样品微区圈定装置。

为了实现上述目的,本实用新型采用以下技术方案:

一种岩石样品微区圈定装置,包括具有放大10×5倍和10×10倍功能及拍照功能的偏光显微镜、具有放大10×5倍和10×10倍功能及拍照功能的荧光显微镜、具有放大10×5倍和10×10倍功能及拍照功能的阴极发光显微镜、手电筒、油性笔、图像处理器以及显微镜载玻片;

其中,所述阴极发光显微镜上还连接有真空泵和放电装置,真空泵可以抽真空到0.01mBar以下,放电装置电压可达20KV以上,电流可达500uA以上;

并且,所述偏光显微镜、所述荧光显微镜和所述阴极发光显微镜并排设置,使得所述偏光显微镜、所述荧光显微镜和所述阴极发光显微镜的物镜位于同一水平面;

在所述偏光显微镜、所述荧光显微镜和所述阴极发光显微镜的支架上设置有能够在所述偏光显微镜、所述荧光显微镜和所述阴极发光显微镜之间来回移动的第一移动机构,在所述第一移动机构上设置有第二移动机构,所述第二移动机构的移动方向与所述第一移动机构的移动方向在水平面上相互垂直;所述第二移动机构的顶部设置有载物台。

进一步的,所述第一移动机构包括固装于所述支架上的第一底座,所述第一底座上平行设置有滑轨和丝杠,所述滑轨上滑动连接有滑座,所述第二移动机构设置于所述滑座顶部;所述滑座与所述丝杠螺纹连接;所述第一底座的一侧设置有第一电机,所述第一电机的输出端与所述丝杠连接。

进一步的,所述第一底座上设置有两个轴承座,所述丝杠的两端分别与两个所述轴承座连接;所述第一丝杠的一端端部设置有从动齿轮,所述第一电机的输出端连接有传动轴,所述传动轴的端部设置有与所述从动齿轮啮合连接的主动齿轮。

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