[实用新型]一种含能材料的相变时间测量系统

权利要求书

1.一种含能材料的相变时间测量系统，其特征在于，包括第一激光器、第二激光器、飞片、显微共聚焦系统、光谱仪、光电倍增管和示波器；

所述第一激光器用于出射第一激光，以使所述第一激光烧蚀所述飞片的表层产生高温等离子体，并通过所述高温等离子体驱动所述飞片撞击含能材料样品，使所述含能材料样品发生相变；

所述第二激光器用于出射第二激光；

所述显微共聚焦系统用于将所述第二激光聚焦到所述含能材料样品表面，并将所述含能材料样品的散射光中的拉曼信号光导入所述光谱仪；

所述光谱仪用于分离出所述拉曼信号光中的拉曼特征光；

所述光电倍增管用于将所述拉曼特征光信号转换为电信号；

所述示波器用于记录所述电信号的时间，以根据所述时间测量出所述拉曼特征光的响应时间，得到所述含能材料样品的相变时间。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括飞片支撑系统，所述飞片支撑系统包括光杆、第一支架、三维位移平台和方向可调的连接夹具；

所述飞片通过细线与圆环连接，所述圆环套在所述第一支架上，并卡在所述第一支架上的凹槽的固定位置；

所述第一支架通过所述方向可调的连接夹具固定在所述光杆上；

所述光杆固定在所述三维位移平台上，所述三维位移平台用于控制所述飞片在空间中平移到所需的位置。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述显微共聚焦系统包括反光镜、截止滤光片、物镜、三目观察筒和光纤耦合透镜；

所述反光镜用于将所述第二激光器出射的第二激光反射至所述截止滤光片；

所述截止滤光片用于将所述第二激光反射至所述物镜；

所述物镜用于将所述第二激光聚焦到所述含能材料样品表面，并将所述含能材料样品的散射光调制为平行光；

所述截止滤光片还用于滤除所述平行光中的第二激光，以得到所述含能材料样品的拉曼信号光；

所述三目观察筒用于将所述拉曼信号光会聚至所述光纤耦合透镜；

所述光纤耦合透镜用于将所述拉曼信号光耦合到光纤，并导入所述光谱仪。

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述显微共聚焦系统还包括第二支架和支柱；

所述支柱固定在光学平台上，所述第二支架固定在所述支柱上，所述反光镜、所述截止滤光片、所述物镜、所述三目观察筒和所述光纤耦合透镜固定在所述第二支架上。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第一激光器还用于在出射第一激光的同时出射触发信号，以通过所述触发信号触发所述示波器开始记录数据。

6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第一激光器为波长为1064nm的脉冲激光器，所述第二激光器为波长为532nm的半导体激光器。

7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述示波器为1GHz的高速示波器。

8.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述飞片为0.3mm厚的铝片。

9.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述含能材料包括RDX。