[发明专利]局部匀场装置及补偿主磁场的不均匀性的方法在审

专利信息
申请号: 201911112009.0 申请日: 2019-11-14
公开(公告)号: CN112798994A 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 王英伦;陈艳丽;岳振华;赵武贻 申请(专利权)人: 西门子(深圳)磁共振有限公司
主分类号: G01R33/34 分类号: G01R33/34;G01R33/387
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518057 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 局部 装置 补偿 磁场 不均匀 方法
【权利要求书】:

1.局部匀场装置,其特征在于,包括:

一局部线圈(11),被布置为覆盖一检查对象的一局部区域,以接收来自所述局部区域的磁共振信号;

多个匀场线圈(13),其中所述多个匀场线圈(13)被集成在所述局部线圈(11)中或者被布置为包围所述局部线圈(11)的至少一部分;以及

一匀场控制器(15),被配置为根据在所述局部区域内的主磁场的强度分布,控制所述多个匀场线圈(13)中的至少一个匀场线圈(13),以提供用于补偿在所述局部区域内的所述主磁场的分量的场分布。

2.根据权利要求1所述的局部匀场装置,其特征在于,在所述多个匀场线圈(13)被布置为包围所述局部线圈(11)的至少一部分的情况下,所述局部匀场装置(100)包括围绕所述局部线圈(11)的套筒(20),其中所述多个匀场线圈(13)被布置在所述套筒(20)上。

3.根据权利要求2所述的局部匀场装置,其特征在于,所述多个匀场线圈(13)包括多个螺线管形状的第一匀场线圈和多个鞍形的第二匀场线圈,其中,所述第一匀场线圈和所述第二匀场线圈被分层堆叠在所述套筒(20)的筒壁上。

4.根据权利要求3所述的局部匀场装置,其特征在于,所述第一匀场线圈被配置为产生2阶的磁场分量,并且所述第二匀场线圈被配置为产生3阶或者3阶以上的磁场分量。

5.根据权利要求1所述的局部匀场装置,其特征在于,还包括:

一主磁场检测器(17),被配置为获取所述检查对象的所述局部区域内的主磁场的强度分布。

6.根据权利要求5所述的局部匀场装置,其特征在于,所述主磁场检测器(17)还被配置为:

通过扫描多个不同的检查对象的所述局部区域,收集相关于所述局部区域的主磁场的强度分布的数据。

7.根据权利要求6所述的局部匀场装置,其特征在于,所述匀场控制器(15)还被配置为:

从获取的所述主磁场的强度分布中,提取所述主磁场的多阶谐波分量;以及

计算所述多个匀场线圈(13)中的至少一个匀场线圈(13)待产生的场分布,使得所述至少一个匀场线圈(13)产生的场分布能够抵消所述主磁场的多阶谐波分量中的至少一阶谐波分量。

8.根据权利要求7所述的局部匀场装置,其特征在于,所述匀场控制器(15)还被配置为:利用球谐函数,提取所述主磁场的所述多阶谐波分量。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的局部匀场装置,其特征在于,所述局部线圈(11)是膝盖线圈。

10.借助根据权利要求1至9中任一项所述的局部匀场装置补偿主磁场的不均匀性的方法,其特征在于,所述方法包括:

通过局部线圈(11)接收来自检查对象的局部区域的磁共振信号;

通过匀场控制器(15)根据在所述局部区域内的主磁场的强度分布,确定所述多个匀场线圈(13)中的至少一个匀场线圈(13)待产生的场分布,其中所述多个匀场线圈(13)被集成在所述局部线圈(11)中或者被布置为包围所述局部线圈(11)的至少一部分;以及

通过所述匀场控制器(15)控制所述多个匀场线圈(13)中的至少一个匀场线圈(13),提供用于补偿在所述局部区域内的所述主磁场的分量的场分布。

11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,接收来自所述检查对象的所述局部区域的磁共振信号包括:

通过扫描多个不同的检查对象的所述局部区域,收集相关于所述局部区域的主磁场的强度分布的数据。

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