[发明专利]一种非均匀刻度识别方法、装置及计算机存储介质在审
申请号: | 201910528095.7 | 申请日: | 2019-06-18 |
公开(公告)号: | CN110245624A | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
发明(设计)人: | 许华旸;王立平;刘得利;王志超;刘彦雨 | 申请(专利权)人: | 北京史河科技有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00 |
代理公司: | 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 | 代理人: | 江宇 |
地址: | 100083 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 刻度段 刻度图像 计算机存储介质 非均匀刻度 仪表盘 指针读数 指针位置 指针 获取目标 不均匀 非均匀 准确率 | ||
1.一种非均匀刻度识别方法,其特征在于,所述方法包括:
获取目标刻度图像;
根据所述目标刻度图像获取对应所述目标刻度图像的刻度段值;
获取指针对应于所述目标刻度图像中的指针位置;
根据所述指针位置和所述刻度段值计算指针读数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标刻度图像获取对应所述目标刻度图像的刻度段值包括:
根据所述目标刻度图像顺次获取对应所述目标刻度图像的多个刻度段和对应于每一个所述刻度段的第一边界值和第二边界值,所述第一边界值为对应所述刻度段的最小刻度值,所述第二边界值为所述刻度段的最大刻度值。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述指针位置和所述刻度段值计算指针读数包括:
根据所述指针位置获取对应于所述目标刻度图像中的指向刻度段以及对应于所述指向刻度段的第一边界值和第二边界值;
获取所述指针位置对应于所述指向刻度段的相对位置数据;
根据所述相对位置数据和所述指向刻度段计算指针读数。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述获取所述指针位置对应于所述指向刻度段的相对位置数据包括:
获取所述指向刻度段的刻度段角度以及所述指针位置与所述指向刻度段的第一边界夹角;
将所述第一边界夹角与所述刻度段角度的比值确定为相对位置数据。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述相对位置数据和所述指向刻度段计算指针读数包括:
计算对应于所述指向刻度段的所述第二边界值与所述第一边界值的差值,得到所述指向刻度段的总段值;
将所述相对位置数据与所述指向刻度段的总段值的乘积作为第一参数;
将所述指向刻度段的第一边界值确定为第二参数;
将所述第一参数与所述第二参数的和确定为所述指针读数。
6.一种非均匀刻度识别装置,其特征在于,所述装置包括:
目标图像获取模块,用于获取目标刻度图像;
刻度段值获取模块,用于根据所述目标刻度图像获取对应所述目标刻度图像的刻度段值;
指针位置获取模块,用于获取指针对应于所述目标刻度图像中的指针位置;
指针读数计算模块,用于根据所述指针位置和所述刻度段值计算指针读数。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述刻度段值获取模块进一步用于,根据所述目标刻度图像顺次获取对应所述目标刻度图像的多个刻度段和对应于每一个所述刻度段的第一边界值和第二边界值,所述第一边界值为对应所述刻度段的最小刻度值,所述第二边界值为所述刻度段的最大刻度值。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述指针读数计算模块包括:
指向刻度获取单元,用于根据所述指针位置获取对应于所述目标刻度图像中的指向刻度段以及对应于所述指向刻度段的第一边界值和第二边界值;
相对位置获取单元,用于获取所述指针位置对应于所述指向刻度段的相对位置数据;
指针读数计算单元,用于根据所述相对位置数据和所述指向刻度段计算指针读数。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述相对位置获取单元包括:
角度获取子单元,用于获取所述指向刻度段的刻度段角度以及所述指针位置与所述指向刻度段的第一边界夹角;
位置确定子单元,用于将所述第一边界夹角与所述刻度段角度的比值确定为相对位置数据。
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