[发明专利]SMTC实际测量窗口的确定方法及装置、存储介质、用户终端

权利要求书

1.一种基于同步信号块的测量时间配置SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，包括以下步骤：

确定SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，所述重叠信息用于指示SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠或者部分重叠；

根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期；

根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口；

根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口。

2.根据权利要求1所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠，根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期包括：

如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期小于等于第一预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述第一预设周期；

如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期大于第一预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述SMTC初始测量窗口的测量周期。

3.根据权利要求2所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，所述第一预设周期为40ms。

4.根据权利要求1所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口部分重叠，根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期包括：

如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期小于等于第二预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述第二预设周期的两倍；

如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期大于第二预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述SMTC初始测量窗口的测量周期的两倍。

5.根据权利要求4所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，所述第二预设周期为20ms。

6.根据权利要求1所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠，根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口包括：

确定任意一个SMTC实际测量窗口作为所述第一个SMTC实际测量窗口。

7.根据权利要求1所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口部分重叠，根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口包括：

确定与所述GAP测量窗口重叠的任意一个SMTC初始测量窗口为SMTC重叠窗口；

确定所述SMTC重叠窗口的下一个SMTC初始测量窗口为所述第一个SMTC实际测量窗口。

8.根据权利要求1所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口包括：

以所述第一个SMTC实际测量窗口为所述预设的测量周期内的第一个实际测量窗口，然后每当间隔所述实际测量周期确定SMTC实际测量窗口，直至在所述预设的测量周期内确定所有SMTC实际测量窗口。