[发明专利]一种自动模拟PCIE SSD热拔插测试的系统及方法

说明书

本发明提供一种自动模拟PCIE SSD热拔插测试的系统及方法，系统包括供电转接板，供电转接板上设置有主板接口、SSD接口、控制接口和供电通道开关模块；供电转接板的供电通道开关模块与主板接口、SSD接口和控制接口均连接，主板接口与SSD接口连接；服务器主板上设置有PCIE插槽，PCIE插槽与供电转接板的主板接口连接；供电转接板的SSD接口连接有PCIE SSD；供电转接板的控制接口连接有热插拔自动控制模块；热插拔自动控制模块通过控制供电通道开关模块实现PCIE SSD供电通道的闭合及断开，模拟PCIE SSD插入及拔出PCIE插槽。

技术领域

本发明属于服务器测试领域，具体涉及一种自动模拟PCIE SSD热拔插测试的系统及方法。

背景技术

随着数据中心和云计算的快速发展，服务器行业迅速崛起，服务器系统在数据中心得到广泛应用，PCIE SSD作为高性能数据存储的载体，在高IOPS和高吞吐量的领域大量使用。

PCIE SSD热拔插测试是SSD可靠性测试中必不可少的测试环节，主要是验证PCIESSD在拔出和插入之后会不会出现宕机、报错、或数据丢失等风险，直接关系到服务器的稳定性、可靠性和运维工作的正常运行。

但由于PCIE SSD卡是直接插入主板PCIE接口的形态，被封闭在机箱内部，因此对于PCIE SSD的热插拔测试，一直是存在的困难。

此为现有技术的不足，因此，针对现有技术中的上述缺陷，提供一种自动模拟PCIESSD热拔插测试的系统及方法，是非常有必要的。

发明内容

针对现有技术的上述PCIE SSD卡是直接插入主板PCIE接口的形态，被封闭在机箱内部，因此对于PCIE SSD的热插拔测试，一直是存在的困难的缺陷，本发明提供一种自动模拟PCIE SSD热拔插测试的系统及方法，以解决上述技术问题。

第一方面，本发明提供一种自动模拟PCIE SSD热拔插测试的系统，包括供电转接板，供电转接板上设置有主板接口、SSD接口、控制接口和供电通道开关模块；

供电转接板的供电通道开关模块与主板接口、SSD接口和控制接口均连接，主板接口与SSD接口连接；

服务器主板上设置有PCIE插槽，PCIE插槽与供电转接板的主板接口连接；

供电转接板的SSD接口连接有PCIE SSD；

供电转接板的控制接口连接有热插拔自动控制模块；

热插拔自动控制模块通过控制供电通道开关模块实现PCIE SSD供电通道的闭合及断开，模拟PCIE SSD插入及拔出PCIE插槽。

进一步地，主板接口与SSD接口之间通过PCIE数据线连接。PCIE数据线时PCIE SSD的数据通道，模拟热插拔测试，只需控制PCIE SSD的供电通道，数据通道可以正常连接。

进一步地，供电通道开关模块包括第一电源通道开关单元和第二电源通道开关单元；

第一电源通道开关单元与主板接口、SSD接口及控制接口均连接；

第二电源通道开关单元与主板接口、SSD接口及控制接口均连接。PCIE SSD的供电通道通常有12V和3.3V两路，两路可单独控制，可以实现每一路的精准测试。

进一步地，第一电源通道开关单元包括光耦Q1，光耦Q1包括发光二极管电源端、发光二极管控制端、光电三极管电源端和光电三极管输出端；

发光二极管电源端连接有第一电阻R1，第一电阻R1另一端与主板接口连接，发光二极管控制端与控制接口连接，光电三极管电源端与主板接口连接，光电三极管输出端连接有第二电阻R2；