[发明专利]一种自动模拟PCIE SSD热拔插测试的系统及方法

权利要求书

1.一种自动模拟PCIE SSD热拔插测试的系统，其特征在于，包括供电转接板(1)，供电转接板(1)上设置有主板接口(1.1)、SSD接口(1.2)、控制接口(1.3)和供电通道开关模块(1.4)；

供电转接板(1)的供电通道开关模块(1.4)与主板接口(1.1)、SSD接口(1.2)和控制接口(1.3)均连接，主板接口(1.1)与SSD接口(1.2)连接；

服务器主板(2)上设置有PCIE插槽(2.1)，PCIE插槽(2.1)与供电转接板(1)的主板接口(1.1)连接；

供电转接板(1)的SSD接口(1.2)连接有PCIE SSD(3)；

供电转接板(1)的控制接口(1.3)连接有热插拔自动控制模块(4)；

热插拔自动控制模块(4)通过控制供电通道开关模块(1.4)实现PCIE SSD供电通道的闭合及断开，模拟PCIE SSD(3)插入及拔出PCIE插槽(2.1)。

2.如权利要求1所述的一种自动模拟PCIE SSD热拔插测试的系统，其特征在于，主板接口(1.1)与SSD接口(1.2)之间通过PCIE数据线连接。

3.如权利要求1所述的一种自动模拟PCIE SSD热拔插测试的系统，其特征在于，供电通道开关模块(1.4)包括第一电源通道开关单元(1.4.1)和第二电源通道开关单元(1.4.2)；

第一电源通道开关单元(1.4.1)与主板接口(1.1)、SSD接口(1.2)及控制接口(1.3)均连接；

第二电源通道开关单元(1.4.2)与主板接口(1.1)、SSD接口(1.2)及控制接口(1.3)均连接。

4.如权利要求3所述的一种自动模拟PCIE SSD热拔插测试的系统，其特征在于，第一电源通道开关单元(1.4.1)包括光耦Q1，光耦Q1包括发光二极管电源端、发光二极管控制端、光电三极管电源端和光电三极管输出端；

发光二极管电源端连接有第一电阻R1，第一电阻R1另一端与主板接口(1.1)连接，发光二极管控制端与控制接口(1.3)连接，光电三极管电源端与主板接口(1.1)连接，光电三极管输出端连接有第二电阻R2；

第二电阻R2另一端连接有第三电阻R3和NPN型三极管Q2,第三电阻R3的另一端接地；

NPN型三极管Q2的基极与第二电阻R2连接，NPN型三极管Q2的发射极接地，NPN型三极管Q2的集电极连接有第四电阻R4,NPN型三极管Q2的集电极还与SSD接口(1.2)连接，第四电阻R4的另一端与主板接口(1.1)连接；

第二电源通道开关单元(1.4.2)与第一电源通道开关单元(1.4.1)采用相同的电路结构。

5.如权利要求3所述的一种自动模拟PCIE SSD热拔插测试的系统，其特征在于，所述第一电源通道开关单元(1.4.1)为1.2V通道开关单元，第二电源通道开关单元(1.4.2)为3.3V通道开关单元。

6.一种自动模拟PCIE SSD热拔插测试的方法，其特征在于，热插拔自动控制模块控制PCIE SSD供电通道的闭合及断开，模拟PCIE SSD插入及拔出PCIE插槽。

7.如权利要求6所述的一种自动模拟PCIE SSD热拔插测试的方法，其特征在于，具体步骤如下：

S 1.待测主机运行测试脚本；

S2.测试脚本向热插拔自动控制模块发送测试控制信号；

S3.热插拔自动控制模块根据测试控制信号控制PCIE SSD供电通道的闭合及断开，模拟PCIE SSD插入及拔出PCIE插槽，同时，热插拔自动控制模块通知测试脚本收集PCIE SSD供电通道的闭合及断开时PCIE SSD的测试数据；

S4.测试脚本收集PCIE SSD的测试数据，并根据PCIE SSD的测试数据生成测试日志。