[发明专利]自动检测系统及其方法

说明书

一种自动检测系统包含背光源、光学测量仪、调光通量装置及处理单元。背光源用以提供检测光。光学测量仪用以测量检测光。调光通量装置位于背光源与光学测量仪之间。调光通量装置包含穿透部。处理单元利用光学测量仪测量通过待测面板与穿透部后的检测光，以得到第一光学数据，并且处理单元根据第一光学数据评定待测面板的等级。

技术领域

本案是一种自动检测系统及其方法。

背景技术

在显示面板的制造过程中，主要可分为阵列(Array)制程、面板组装(Cell)制程与模块(Module)制程三个阶段。一般而言，显示面板于制造过程中需进行点灯检测，以检视是否有异物或瑕疵。

然而，在现今的点灯检测过程中，并未测量显示面板的穿透率。因此，各显示面板在后续组装中是随机地和任一背光模块(backlight module)进行组装。不幸的是，倘若穿透率低的显示面板所结合到的背光模块为低亮度时，组装完成后所形成的显示装置便无法达到所需的品质标准，进而无法出货，甚至得进行报废处理。

发明内容

在一实施例中，一种自动测试系统包含背光源、光学测量仪、调光通量装置以及处理单元。背光源用以提供检测光。光学测量仪用以测量检测光。调光通量装置位于背光源与光学测量仪之间。调光通量装置包含穿透部、减光部与不透光部等三部分。处理单元利用光学测量仪测量通过待测面板与穿透部后的检测光，以取得第一光学数据。并且，处理单元根据第一光学数据评定待测面板的等级。

在一实施例中，一种自动检测方法包含：利用光学测量仪，透过调光通量装置去测得待测产品半成品或产品成品(例如，面板)，以取得第一光学数据，以及根据第一光学数据评定待测面板的等级。其中，检测光是由背光源提供，且调光通量装置位于背光源与光学测量仪之间。

附图说明

为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明，其中：

图1为自动检测系统的一实施例的概要示意图。

图2为自动检测方法的一实施例的流程示意图。

图3为自动检测方法的另一实施例的流程示意图。

图4为图3中步骤S30’的一实施例的流程示意图。

图5为CIE 1931色彩空间的一实施例的概要示意图。

图6为自动检测系统于具体实施时的一实施例的概要示意图。

图中元件标号说明：

100 自动检测系统

110 背光源

120 光学测量仪

130 调光通量装置

131 穿透部

132 减光部

133 不透光部

140 处理单元

150 第一移动模块

160 第二移动模块

170 后台装置