[实用新型]电磁场近场探头

说明书

本实用新型涉及一种电磁场近场探头，其包括探头本体和连接组件；探头本体包括铜芯、第一屏蔽层、第二屏蔽层和隔直电容，第一屏蔽层和第二屏蔽层间隔设置并分别罩住铜芯的不同区段；第一屏蔽层所在的区段记为第一区段，第二屏蔽层所在的区段记为第二区段；隔直电容设于第二区段内；连接组件包括第一金属片和第二金属片，第一金属片设于第一区段上，第二金属片设于第二区段上；第一金属片连接屏蔽地，第二金属片连接铜芯；电场测试模式下，第一金属片和第二金属片不连接；磁场测试模式下，第一金属片和第二金属片接触形成闭合磁场探头回路。该电磁场近场探头为电场、磁场二合一探头，集成度高，成本较低。

技术领域

本实用新型涉及一种电磁场近场探头。

背景技术

近场探头是用于配合频谱分析仪查找干扰源的设备。常规的近场探头分别有电场探头、磁场探头等，各近场探头的功能单一，且价格昂贵。

实用新型内容

本实用新型针对现有技术中存在的技术问题，提供一种用于检测EMC(电磁兼容性)辐射是否超标的电磁场近场探头，既能够进行电场测试，又能够进行磁场测试，降低成本，提高集成度。

本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下：

一种电磁场近场探头，包括探头本体和连接组件；

所述探头本体包括铜芯、第一屏蔽层、第二屏蔽层和隔直电容，所述第一屏蔽层和所述第二屏蔽层间隔设置并分别罩住所述铜芯的不同区段；所述探头本体上所述第一屏蔽层所在的区段记为第一区段，所述第二屏蔽层所在的区段记为第二区段；所述隔直电容设于所述第二区段内；

所述连接组件包括第一金属片和第二金属片，所述第一金属片设于所述第一区段上，所述第二金属片设于所述第二区段上；所述第一金属片连接屏蔽地，所述第二金属片连接所述铜芯，所述第一金属片和所述第二金属片之间的区段记为连接区段；

电场测试模式下，所述第一金属片和所述第二金属片不连接；

磁场测试模式下，弯折所述连接区段使所述第一金属片和所述第二金属片接触形成闭合磁场探头回路。

本实用新型的有益效果是：

上述电磁场近场探头通过探头本体和连接组件的配合设置，作为磁场近场探头使用时，将第一金属片和第二金属片之间的连接区段弯折，使第一金属片和第二金属片接触形成闭合磁场探头回路；作为电场近场探头使用时，不将第一金属片和第二金属片连接，断开闭合磁场探头回路，从而整体上提供了一种检测EMC辐射是否超标的电场、磁场二合一探头，集成度高，成本较低。

在其中一个实施例中，所述第二金属片通过铜芯线连接位于所述第一屏蔽层和所述第二屏蔽层之间的铜芯区段。

在其中一个实施例中，所述的电磁场近场探头还包括卡扣，所述卡扣设于所述第一区段上；磁场测试模式下，所述卡扣固定所述第一区段和所述第二区段以使所述第一金属片和所述第二金属片稳固接触。

在其中一个实施例中，所述第一区段和所述第二区段整体上均呈柱体结构。

在其中一个实施例中，所述第一金属片和所述第二金属片均为铜片。

附图说明

图1为一实施方式的电磁场近场探头在电场测试状态下的结构示意图；

图2为图1中的电磁场近场探头在磁场测试状态下的一视角的结构示意图；

图3为图2中的电磁场近场探头的另一视角的结构示意图；

图4为MLCC(Multi-layer Ceramic Capacitors，片式多层陶瓷电容器)电容的阻抗-频率特性图。

附图中，各标号所代表的部件列表如下：