[发明专利]异常喷嘴的检测方法及装置

说明书

本发明涉及一种异常喷嘴的检测方法及装置，通过获取像素基板的灰阶图像，根据灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置；进一步地，根据异常子灰阶图像的位置，确定像素基板上异常像素或者异常像素单元的位置；最后，根据异常像或者异常像素单元素的位置，确定异常喷嘴，从而在喷墨打印过程中，可以提前预防像素内成膜不均匀导致的“线斑纹”现象，进一步地提升显示器件的显示质量。

技术领域

本发明涉及成膜技术领域，特别是涉及一种异常喷嘴的检测方法及装置。

背景技术

在各种成膜技术中，溶液成膜技术越来越受到人们的关注。所谓溶液成膜，即把所需材料经过处理，例如分散成纳米级微小颗粒，然后溶解在相应的溶剂中，再利用其它设备将该溶液沉积在基板表面，待溶剂蒸发后，即可在基板表面形成所需薄膜。

喷墨打印(IJP)是一种重要的溶液成膜技术，它具有操作简单、成本低廉、工艺简单、适于大规模生产等优点，因此被广泛应用在制备有机发光二极管(OLED)、有机薄膜晶体管、金属电极等各个领域，并取得了很好的效果。

然而，在传统技术中，经过喷墨打印工艺生产的显示器件在喷墨打印方向上会呈现“线斑纹”，从而影响显示器件的显示质量。

发明内容

基于此，有必要针对传统技术中经过喷墨打印工艺生产的显示器件在喷墨打印方向上会呈现“线斑纹”导致显示质量降低的技术问题，提供一种异常喷嘴的检测方法及装置。

一种异常喷嘴的检测方法，包括：

获取像素基板的灰阶图像，所述灰阶图像包括多个子灰阶图像，所述子灰阶图像与所述像素基板上的像素或像素单元一一对应；

根据所述灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置；

根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置；

根据所述异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴。

在其中一个实施例中，所述像素基板上设置标记点；所述灰阶图像包括所述标记点对应的图像；在所述根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置之前，所述方法还包括：

根据所述标记点的位置，确定所述像素基板上每个像素或像素单元的位置；

根据所述标记点对应的图像的位置，确定所述灰阶图像中每个子灰阶图像的位置；

建立所述灰阶图像中每个子灰阶图像与所述像素基板上每个像素或像素单元之间的位置对应关系。

在其中一个实施例中，所述根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置，包括：

根据所述异常子灰阶图像的位置及所述位置对应关系，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置。

在其中一个实施例中，在所述获取像素基板的灰阶图像之前，所述方法还包括：

获取所述像素基板上的像素或像素单元的尺寸信息；

根据所述像素或像素单元的尺寸信息，设置光学扫描的扫描范围；

所述获取像素基板的灰阶图像，包括：

根据所述光学扫描的扫描范围，获取所述像素基板上所述像素或像素单元的灰阶图像。

在其中一个实施例中，所述根据所述灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置，包括：

将所述灰阶图像的各个所述子灰阶图像进行比较，确定存在缺陷的异常子灰阶图像的位置。

在其中一个实施例中，所述将所述灰阶图像的各个所述子灰阶图像进行比较，确定存在缺陷的异常子灰阶图像的位置，包括：