[发明专利]分析装置

说明书

本发明涉及一种分析装置，包括：导入部，包含试样的长方体形状的分析工具被导入到导入部；设置部，在导入部中分析工具被设置于设置部；照射部件，照射部件被插入到形成于分析工具的插入孔并接触到底部，向试样照射光；推压部件，推压部件与照射部件相独立地推压分析工具并将设置于设置部的分析工具夹在推压部件与设置部之间，并且将分析工具保持在预定位置；以及测定部件，测定部件通过从照射部件向设置于设置部的分析工具的试样照射的光，来测定试样的成分。

技术领域

本发明涉及分析装置以及定位方法。

背景技术

作为分析试样中的成分的分析装置存在例如如专利文献1所示在基片内的毛细管中使试样电泳，测定照射到该试样的光的透射光、反射光，并进行成分分析的装置。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2012-093350号公报。

发明内容

在这样的分析装置中，希望将向试样照射光的照射部件插入到分析工具的插入孔，并使照射部件的顶端接触到插入孔的底部。并且，在使照射部件接触到分析工具时，要求抑制照射部件、分析工具的破损。

本发明的目的在于，抑制在向分析工具的插入孔中插入照射部件时的照射部件、分析工具的破损。

在第一方式中，包括：导入部，包含试样的分析工具被导入到所述导入部；设置部，在所述导入部中所述分析工具被设置于所述设置部；照射部件，所述照射部件被插入到形成于所述分析工具的插入孔并接触到所述插入孔的底部，向所述试样照射光；推压部件，所述推压部件与所述照射部件相独立地推压所述分析工具并将设置于所述设置部的所述分析工具夹在所述推压部件与所述设置部之间，并且将所述分析工具保持在预定位置；以及测定部件，所述测定部件通过从所述照射部件向设置于所述设置部的所述分析工具的所述试样照射的光，来测定所述试样的成分。

通过将照射部件插入到分析工具的插入孔并接触到插入孔的底部，能够使照射部件与试样之间的距离接近并维持为恒定，因此朝向试样的光的照射会稳定。另外，通过推压装置来推压设置于设置部的分析工具并夹在与设置部之间，并且保持在预定位置，因此分析工具的位置也会稳定。

照射部件和推压部件是独立的部件。因此，即使例如在照射部件与插通孔的底部接触的状态下，推压部件接近分析工具，照射部件也不会过度地推入到插通孔，能够抑制照射部件、分析工具的损伤。

并且，测定部件通过从照射部件向被导入到导入部且设置于设置部的分析工具的试样照射的光，来测定试样的成分。

在第二方式中，基于第一方式，在将所述照射部件插入到所述插入孔的状态下，通过所述推压部件推压所述分析工具。

即，在实现了将照射部件插入到插入孔的状态之后，通过推压部件来推压分析工具，从而能够保持在预定位置。

在第三方式中，基于第一或第二方式，所述推压部件的针对所述分析工具的推压方向与所述照射部件的朝向所述分析工具的接近方向是相同方向。

由此，能够实现使在推压部件推压分析工具时的移动区域与照射部件被插入到插入孔时的移动区域重叠或接近的结构，能够有助于分析装置的小型化。

在第四方式中，基于第三方式，所述照射部件包括：突出部，所述突出部被保持为能够相对于所述推压部件进退；限制部件，所述限制部件将所述突出部的朝向所述分析工具的突出量限制在一定范围内；以及偏置部件，所述偏置部件将所述突出部向从所述推压部件的突出方向偏置。

由于照射部件具有被保持为能够相对于推压部件进退的突出部，因此能够使该突出部朝向分析工具的插入孔进出而插入。由于突出部的突出量被限制部件限制在一定范围内，因此能够抑制突出部的过度的突出。突出部通过偏置部件朝向突出方向偏置，因此能够维持从推压部件突出的状态，能够可靠地接触到插入孔的底部。